发明授权
- 专利标题: 半导体装置封装
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申请号: CN201710165705.2申请日: 2017-03-20
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公开(公告)号: CN107342268B公开(公告)日: 2021-06-18
- 发明人: 余振华 , 黄子松 , 蔡豪益 , 曾明鸿 , 郭鸿毅
- 申请人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹市
- 专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹市
- 代理机构: 隆天知识产权代理有限公司
- 代理商 李昕巍; 章侃铱
- 优先权: 62/329,224 20160429 US 15/254,135 20160901 US
- 主分类号: H01L23/31
- IPC分类号: H01L23/31 ; H01L23/498 ; H01L23/58
摘要:
本公开部分实施例提供一种半导体装置封装。半导体装置封装包括一半导体装置。半导体装置封装也包括配置用于在磁流通过时产生电流的一线圈。半导体装置封装还包括环绕半导体装置以及线圈的一成型材料。并且,半导体装置封装包括位于成型材料之上的一导电金属件。一开口形成于导电金属件之上。
公开/授权文献
- CN107342268A 半导体装置封装 公开/授权日:2017-11-10
IPC分类: