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CN105225978B 叠对误差的校正方法 有权

叠对误差的校正方法
摘要：
叠对误差的校正方法包括下列步骤。首先检测基板上的叠对标记，以产生叠对标记信息，其中叠对标记包括至少一对第一标记图案以及设置于第一标记图案上的至少一第二标记图案。接着，利用叠对标记信息，以获得两个第一标记图案间的错位数值(offset)以及获得第二标记图案和两个第一标记图案其中一个之间的偏移数值。最后，利用错位数值补偿偏移数值，以获得修正偏移数值。
摘要（英）：

A method of correcting an overlay error includes the following steps. First, an overlay mark disposed on a substrate is captured so as to generate overlay mark information. The overlay mark includes at least a pair of first mark patterns and at least a second mark pattern above the first mark patterns. Then, the overlay mark information is calculated to generate an offset value between two first mark patterns and to generate a shift value between the second mark pattern and one of the first mark patterns. Finally, the offset value is used to compensate the shift value so as to generate an amended shift value.

公开/授权文献
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