Invention Grant
CN104011867B 用于栅极凹进晶体管的III-N材料结构
失效 - 权利终止
- Patent Title: 用于栅极凹进晶体管的III-N材料结构
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Application No.: CN201180075770.7Application Date: 2011-12-23
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Publication No.: CN104011867BPublication Date: 2016-12-07
- Inventor: H·W·田 , M·拉多萨夫列维奇 , U·沙阿 , N·慕克吉 , R·皮拉里塞泰 , B·舒-金 , J·卡瓦列罗斯 , R·周
- Applicant: 英特尔公司
- Applicant Address: 美国加利福尼亚
- Assignee: 英特尔公司
- Current Assignee: 英特尔公司
- Current Assignee Address: 美国加利福尼亚
- Agency: 永新专利商标代理有限公司
- Agent 韩宏; 陈松涛
- International Application: PCT/US2011/067220 2011.12.23
- International Announcement: WO2013/095643 EN 2013.06.27
- Date entered country: 2014-06-20
- Main IPC: H01L29/772
- IPC: H01L29/772 ; H01L21/335

Abstract:
具有凹进栅极的III-N晶体管。外延叠置体包括掺杂III-N源极/漏极层和设置在源极/漏极层与III-N沟道层之间的III-N蚀刻停止层。一种蚀刻工艺,例如,利用光化学氧化,选择性地蚀刻在蚀刻停止层之上的源极/漏极层。在蚀刻停止层之上设置栅电极以形成凹进栅极III-N HEMT。可以利用在氧化蚀刻停止层之上的栅电极氧化蚀刻停止层的至少一部分以用于包括III-N氧化物的凹进栅极III-N MOS-HEMT。可以在氧化蚀刻停止层之上形成高k电介质,使栅电极在该高k电介质之上以形成具有复合栅极电介质叠置体的凹进栅极III-N MOS-HEMT。
Public/Granted literature
- CN104011867A 用于栅极凹进晶体管的III-N材料结构 Public/Granted day:2014-08-27
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IPC分类: