发明授权
- 专利标题: 非易失性存储元件及其制造方法
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申请号: CN201280016903.8申请日: 2012-04-11
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公开(公告)号: CN103460383B公开(公告)日: 2016-01-06
- 发明人: 川岛良男 , 三河巧 , 今井伸一
- 申请人: 松下电器产业株式会社
- 申请人地址: 日本大阪府
- 专利权人: 松下电器产业株式会社
- 当前专利权人: 松下半导体解决方案株式会社
- 当前专利权人地址: 日本大阪府
- 代理机构: 永新专利商标代理有限公司
- 代理商 安香子; 黄剑锋
- 优先权: 2011-090058 2011.04.14 JP
- 国际申请: PCT/JP2012/002521 2012.04.11
- 国际公布: WO2012/140887 JA 2012.10.18
- 进入国家日期: 2013-09-30
- 主分类号: H01L27/105
- IPC分类号: H01L27/105 ; H01L45/00 ; H01L49/00
摘要:
本发明的电阻变化型的非易失性存储元件的制造方法包括:在基板(11)上形成下部电极层(2)的工序;在下部电极层(2)上形成由缺氧型的金属氧化物构成的电阻变化层(3)的工序;在电阻变化层(3)上形成上部电极层(4)的工序;以及在上部电极层(4)上形成掩模图案,并以掩模图案为掩模对上部电极层(4)、电阻变化层(3)及下部电极层(2)进行蚀刻而形成图案的工序;在蚀刻的工序中,至少在用于对电阻变化层(3)进行蚀刻的蚀刻气体中使用含有溴的气体。
公开/授权文献
- CN103460383A 非易失性存储元件及其制造方法 公开/授权日:2013-12-18
IPC分类: