发明授权
- 专利标题: 一种SONOS结构中氮化硅的生长工艺
- 专利标题(英): Growth process for silicon nitride in silicon oxide nitride oxide silicon (SONOS) structure
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申请号: CN201110217318.1申请日: 2011-08-01
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公开(公告)号: CN102260860B公开(公告)日: 2013-04-24
- 发明人: 郭良权 , 吴晓鸫 , 郑若成 , 洪根深
- 申请人: 无锡中微晶园电子有限公司
- 申请人地址: 江苏省无锡市新区长江路21号信息产业园A座203室
- 专利权人: 无锡中微晶园电子有限公司
- 当前专利权人: 无锡中微晶园电子有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省无锡市新区长江路21号信息产业园A座203室
- 代理机构: 无锡市大为专利商标事务所
- 代理商 曹祖良
- 主分类号: C23C16/34
- IPC分类号: C23C16/34
摘要:
本发明涉及一种SONOS结构中氮化硅的生长工艺,其包括如下步骤:a、提供圆片,并放入LPCVD炉管内;b、向LPCVD炉管内通入反应气体SiCl2H2与NH3,以在圆片上生长初始膜层;c、向LPCVD炉管内通入反应气体SiCl2H2及NH3,使LPCVD炉管内反应气体SiCl2H2与NH3体积比为1:10,圆片的初始膜层上生长中间膜层;d、保持LPCVD炉管内反应气体SiCl2H2与NH3体积比为1:10,在上述圆片的中间膜层上生长顶层膜层;e、向LPCVD炉管内继续通入NH3气体,并停止向通入SiCl2H2,使LPCVD炉管内的SiCl2H2充分反应,得到圆片上所需的氮化硅层。本发明采用常用器件制作中的工艺流程,完全和MOS工艺流程兼容;工艺简单,一旦DCS和NH3的流量设定,生长时间设定,生长氮化硅层稳定可控,可用于制备SONOS结构的氮化硅层。
公开/授权文献
- CN102260860A 一种SONOS结构中氮化硅的生长工艺 公开/授权日:2011-11-30
IPC分类: