公开(公告)号：US20160055273A1

公开(公告)日：2016-02-25

申请号：US14464464

申请日：2014-08-20

申请人： TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY, LTD.

发明人： Chin-Cheng KUO ,  Wei Min CHAN ,  Wei-Yu HU ,  Jui-Feng KUAN

IPC分类号： G06F17/50 ,  G06F11/30 ,  G06F11/34

CPC分类号： G06F17/5009 ,  G06F11/3024 ,  G06F11/3409 ,  G06F11/3457 ,  G06F17/5081 ,  G06F2217/10

摘要： A method includes determining a sampling region in a sample space, generating samples in the sampling region without generating samples outside the sampling region, and simulating a performance of a device using the generated samples as input data. The sample space is defined by a plurality of variables associated with the device. Values of the plurality of variables in the sampling region having lower probabilities to meet a specification of the device than values of the plurality of variables outside the sampling region. The method is performed at least partially by at least one processor.

摘要翻译： 一种方法包括确定样本空间中的采样区域，在采样区域内生成样本，而不在采样区域之外生成样本，以及使用生成的采样作为输入数据来模拟设备的性能。 样本空间由与设备相关联的多个变量定义。 采样区域中的多个变量的值比采样区域外的多个变量的值更低，以满足器件的规格。 该方法至少部分地由至少一个处理器执行。