公开(公告)号：US5028799A

公开(公告)日：1991-07-02

申请号：US445121

申请日：1989-11-30

申请人： Sullivan Chen ,  Howard K. Stern ,  William E. Yonescu

发明人： Sullivan Chen ,  Howard K. Stern ,  William E. Yonescu

IPC分类号： G01B11/24

CPC分类号： G01B11/24

摘要： A practice for developing data for use in the three-dimensional location of the points on an object surface wherein first and second sensor means are used to cause first and second electromagnetic radiation to be directed at the object surface at first and second directions which are in a common plane.

摘要翻译： 用于开发用于物体表面上的点的三维位置的数据的实践，其中第一和第二传感器装置用于使第一和第二电磁辐射在第一和第二方向上被引导到物体表面 一架共同的飞机。

公开(公告)号：US5118192A

公开(公告)日：1992-06-02

申请号：US551150

申请日：1990-07-11

申请人： Sullivan Chen ,  William E. Yonescu ,  Howard K. Stern

发明人： Sullivan Chen ,  William E. Yonescu ,  Howard K. Stern

IPC分类号： B23K31/12 ,  G01B11/245 ,  G01N21/956

CPC分类号： B23K31/12 ,  G01B11/245 ,  G01N21/95684 ,  G01N2021/4783

摘要： An inspection system for irregular objects such as solder joints wherein the system utilizes first and second sensors adapted to be pivotable about a common pivot axis and such that the projection axes of the sensors and the pivot axes are able to intersect at a common.

摘要翻译： 用于诸如焊接接头的不规则物体的检查系统，其中系统利用适于围绕公共枢转轴线枢转的第一和第二传感器，并且使得传感器和枢转轴线的突出轴线能够以共同的方式相交。