公开(公告)号：US5694073A

公开(公告)日：1997-12-02

申请号：US560768

申请日：1995-11-21

申请人： Timothy J. Coots ,  Phat C. Truong ,  Sung-Wei Lin ,  Tim M. Coffman ,  Ming-Bo Liu ,  Ronald J. Syzdek

发明人： Timothy J. Coots ,  Phat C. Truong ,  Sung-Wei Lin ,  Tim M. Coffman ,  Ming-Bo Liu ,  Ronald J. Syzdek

IPC分类号： G01K7/00 ,  G01R19/00 ,  G05F3/24 ,  G05F3/26 ,  H03K17/14 ,  H03K17/16 ,  H03K17/687 ,  H03K19/003 ,  G05F3/02

CPC分类号： G05F3/262 ,  G05F3/247 ,  H03K19/00384

摘要： A supply-voltage detecting stage (11) that supplies first and second reference currents (I.sub.REFP and I.sub.REFN) which vary with the supply voltage (V.sub.cc) and are coupled by first and second gain stages (12A and 12B), respectively, to first and second temperature-detecting stages (13A and 13B), respectively. First and second temperature-detecting stages (13A and 13B) increase the coupled reference currents (I.sub.REFP and I.sub.REFN), respectively, to compensate for temperature increase through use temperature-sensitive, long-channel transistors (M34-M37 and M42-M45), supplying temperature and supply-voltage compensated output bias voltages at output terminals (MIRN and MIRP).

摘要翻译： 电源电压检测级（11），其提供第一和第二参考电流（IREFP和IREFN），其随着电源电压（Vcc）而变化并分别由第一和第二增益级（12A和12B）耦合到第一和第二增益级 第二温度检测级（13A和13B）。 第一和第二温度检测级（13A和13B）分别增加耦合的参考电流（IREFP和IREFN），以通过使用温度敏感的长沟道晶体管（M34-M37和M42-M45）补偿温度升高， 在输出端子（MIRN和MIRP）提供温度和电源电压补偿输出偏置电压。

公开(公告)号：US06778453B2

公开(公告)日：2004-08-17

申请号：US10373498

申请日：2003-02-24

申请人： Christopher B. Cooper ,  Ming-Bo Liu ,  Chris G. Martin ,  Troy A. Manning ,  Stephen L. Casper ,  Charles H. Dennison ,  Brian M. Shirley ,  Brian L. Brown ,  Shubneesh Batra

发明人： Christopher B. Cooper ,  Ming-Bo Liu ,  Chris G. Martin ,  Troy A. Manning ,  Stephen L. Casper ,  Charles H. Dennison ,  Brian M. Shirley ,  Brian L. Brown ,  Shubneesh Batra

IPC分类号： G11C704

CPC分类号： G11C7/04 ,  G11C7/1045 ,  G11C7/20 ,  G11C11/4072 ,  G11C11/4078

摘要： A method for storing a temperature threshold in an integrated circuit includes measuring operating parameters of the integrated circuit versus temperature, calculating a maximum temperature at which the integrated circuit performance exceeds predetermined specifications and storing parameters corresponding to the maximum temperature in a comparison circuit in the integrated circuit by selectively blowing fusable devices in the comparison circuit. The fusable devices may be antifuses.

摘要翻译： 一种用于在集成电路中存储温度阈值的方法包括：测量集成电路的相对于温度的操作参数，计算集成电路性能超过预定规格的最大温度，并将集成电路性能中最高温度的参数存储在集成电路中的比较电路中 通过在比较电路中选择性地吹入可熔设备。 可熔断器件可以是反熔丝。

公开(公告)号：US06233190B1

公开(公告)日：2001-05-15

申请号：US09386075

申请日：1999-08-30

申请人： Christopher B. Cooper ,  Ming-Bo Liu ,  Chris G. Martin ,  Troy A. Manning ,  Stephen L. Casper ,  Charles H. Dennison ,  Brian M. Shirley ,  Brian L. Brown ,  Shubneesh Batra

发明人： Christopher B. Cooper ,  Ming-Bo Liu ,  Chris G. Martin ,  Troy A. Manning ,  Stephen L. Casper ,  Charles H. Dennison ,  Brian M. Shirley ,  Brian L. Brown ,  Shubneesh Batra

IPC分类号： G11C704

CPC分类号： G11C7/04 ,  G11C7/1045 ,  G11C7/20 ,  G11C11/4072 ,  G11C11/4078

摘要： A method for storing a temperature threshold in an integrated circuit includes measuring operating parameters of the integrated circuit versus temperature, calculating a maximum temperature at which the integrated circuit performance exceeds predetermined specifications and storing parameters corresponding to the maximum temperature in a comparison circuit in the integrated circuit by selectively blowing fusable devices in the comparison circuit. The fusable devices may be antifuses. As a result, the integrated circuit is able to provide signals to devices external to the integrated circuit to indicate that the integrated circuit may be too hot to operate properly.

摘要翻译： 一种用于在集成电路中存储温度阈值的方法包括：测量集成电路的相对于温度的操作参数，计算集成电路性能超过预定规格的最大温度，并将集成电路性能中最高温度的参数存储在集成电路中的比较电路中 通过在比较电路中选择性地吹入可熔设备。 可熔断器件可以是反熔丝。 因此，集成电路能够向集成电路外部的设备提供信号，以指示集成电路可能太热而无法正常工作。

公开(公告)号：US06552945B2

公开(公告)日：2003-04-22

申请号：US09768897

申请日：2001-01-23

申请人： Christopher B. Cooper ,  Ming-Bo Liu ,  Chris G. Martin ,  Troy A. Manning ,  Stephen L. Casper ,  Charles H. Dennison ,  Brian M. Shirley ,  Brian L. Brown ,  Shubneesh Batra

发明人： Christopher B. Cooper ,  Ming-Bo Liu ,  Chris G. Martin ,  Troy A. Manning ,  Stephen L. Casper ,  Charles H. Dennison ,  Brian M. Shirley ,  Brian L. Brown ,  Shubneesh Batra

IPC分类号： G11C704

CPC分类号： G11C7/04 ,  G11C7/1045 ,  G11C7/20 ,  G11C11/4072 ,  G11C11/4078

摘要： A method for storing a temperature threshold in an integrated circuit includes measuring operating parameters of the integrated circuit versus temperature, calculating a maximum temperature at which the integrated circuit performance exceeds predetermined specifications and storing parameters corresponding to the maximum temperature in a comparison circuit in the integrated circuit by selectively blowing fusable devices in the comparison circuit. The fusable devices may be antifuses. As a result, the integrated circuit is able to provide signals to devices external to the integrated circuit to indicate that the integrated circuit may be too hot to operate properly.

摘要翻译： 一种用于在集成电路中存储温度阈值的方法包括：测量集成电路的相对于温度的操作参数，计算集成电路性能超过预定规格的最大温度，并将积分电路性能中最大温度的参数存储在集成电路中的比较电路中 通过在比较电路中选择性地吹入可熔设备。 可熔断器件可以是反熔丝。 因此，集成电路能够向集成电路外部的设备提供信号，以指示集成电路可能太热而无法正常工作。