-
公开(公告)号：CN119487358A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202380050002.9
申请日：2023-06-27
Applicant: 株式会社堀场制作所
IPC: G01B15/02 , G01N23/087 , G01N23/223
Abstract: 本发明提供一种能够测量比以往更多的多层试样的厚度的厚度测量方法、X射线分析装置、信息处理装置以及计算机程序。在厚度测量方法中，向包括层叠的第一层以及第二层的试样以X射线按所述第一层、所述第二层的顺序透过的方式照射所述X射线，检测从所述第一层产生的荧光X射线，检测透过所述试样后的透过X射线，通过基于所述荧光X射线的元素分析，确定所述第一层中的X射线的吸收系数以及所述第一层的密度，基于所述透过X射线的不同的两个能量下的强度、所述吸收系数以及所述密度，计算所述第一层的厚度。
-
公开(公告)号：CN110651302B
公开(公告)日：2023-08-18
申请号：CN201880033506.9
申请日：2018-05-08
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 马茨·佩松
IPC: G06T11/00 , G01N23/04 , G01N23/087 , A61B6/03
Abstract: 公开了一种使用从包括至少一个光子计数检测器的成像系统测量的x射线数据重建图像数据的方法。该方法包括获得由所述光子计数检测器测量的数据的表示的步骤。该方法还包括使用第一算法根据基于投影的第一泛函生成第一图像数据的步骤，所述基于投影的第一泛函取决于所述数据的表示。该方法还包括基于第二泛函更新所述第一图像数据以获得第二图像数据的步骤，该第二泛函包括所述基于投影的第一泛函中不包括的至少一个物理效果的模型。本公开还提供了被配置为使用从包括至少一个光子计数检测器的成像系统测量的x射线数据重建图像数据的图像处理设备以及对应的计算机程序。
-
公开(公告)号：CN110720036B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN201880038249.8
申请日：2018-06-07
Applicant: 探测技术股份有限公司
Inventor： E·嘉伯雷奥博里森科 , D·佩瑞安
IPC: G01N23/087
Abstract: 本发明涉及通过电离辐射、特别是通过x辐射或伽马辐射来进行材料分析的领域。本发明提出了一种使用具有至少三个通道的光谱检测器(20)来确定测试样本(14)的物理性质的方法，该方法包括：在每个通道中对测试样本执行测量，计算变量，每个变量是由不同通道的测量结果的组合而形成的，将加权且偏置矩阵应用于变量，以使得能够确定测试样本的所研究的物理性质。
-
公开(公告)号：CN110333252B
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN201810262091.4
申请日：2018-03-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/087 , G01B15/02
Abstract: 本公开提供一种双能探测方法与装置。双能探测方法装置包括：X射线源，用于向被测物体发送X射线束；闪烁探测器，工作于积分模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第一电信号；切伦科夫探测器，位于所述闪烁探测器后方，工作于计数模式，用于接收穿过所述被测物体的所述X射线束以生成第二电信号；处理器，用于根据所述第一电信号以及所述第二电信号输出所述被测物体的图像、体积以及材质信息本公开提供的双能探测方法可以获得更清晰并包含更多信息的被测物体图像。
-
公开(公告)号：CN113116366A
公开(公告)日：2021-07-16
申请号：CN202010026550.6
申请日：2020-01-10
Applicant: 北京友通上昊科技有限公司
Inventor： 邹鲁民
IPC: A61B6/00 , G01N23/087
Abstract: 本发明提供了一种多能X射线成像方法，该方法的步骤包括：基于依次递增或递减的脉冲电压产生的X射线，对目标进行成像；在每个成像周期内，至少获取4次不同能量级别的X射线成像数据；以及存储介质、多能X射线源和多能X射线成像系统；有益效果：相较于单能和双能X射线可以捕获更多的特征信息，既能实现单能X射线成像的密度差成像和双能X射线能量减影的全部功能，又能提供目标的物质成分分析能力和更高的密度分辨率；将所捕获的特征信息通过特征重建实现对目标物不同特征信息的有效分离，增强对不同物质差异性判断的能力，实现X射线成像从结构成像进入功能成像的全新应用领域，并提供影像组学、大数据和人工智能图像分析应用的良好基础。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112067638A
公开(公告)日：2020-12-11
申请号：CN202010803226.0
申请日：2020-08-11
Applicant: 许昌瑞示电子科技有限公司
IPC: G01N23/087 , G01N23/04 , G01N23/10
Abstract: 本发明提供了一种物质分类系统和用于物质分类的射线能谱测定探测器，属于物质分类技术领域。该射线能谱测定探测器包括探测器面板，所述探测器面板上覆盖有若干典型物质块，所述典型物质块用于测定射线能谱。本发明将典型物质块与探测器面板融为一体，形成一种能用来测定射线能谱的特殊探测器，使射线能谱的测定更加方便。
-
公开(公告)号：CN111527399A
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201880079730.1
申请日：2018-12-13
Inventor： 迈克尔·菲茨杰拉德 , 伊拉克利斯·帕帕斯 , 让-弗朗索瓦·加亚尔 , 马尔科·阿尔西纳科尔巴兰
IPC: G01N23/087
Abstract: 本公开包含一种量化和/或评估洁齿剂中的金属离子的方法，其中所述方法包括使所述洁齿剂经受X射线吸收光谱法(XAS)，并且其中所述XAS用于测量和/或评估所述洁齿剂中的所述金属离子。还公开了基于洁齿剂的金属离子含量的评估和量化而选择和筛选洁齿剂的方法。
-
公开(公告)号：CN108088860A
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201810081441.7
申请日：2018-01-29
Applicant: 中国科学院武汉岩土力学研究所
IPC: G01N23/046 , G01N23/083 , G01N23/087 , G01N23/10
Abstract: 本申请公开了一种岩土水力耦合分析系统及其控制方法。分析系统，包括：密闭容器，内部构成用以容纳试样的密闭空间，其上设有湿度传感器；夹持件，设于密闭容器的内部，用以固定试样；湿度控制仪，与密闭容器通过管路密闭连接，用以控制密闭容器内的湿度；伺服加压装置，其液压缸的侧壁密闭的穿过密闭容器的底部，伺服加压装置的加载活塞用以对试样进行轴向加载；CT扫描装置，包括用以对试样进行CT扫描的射线源和探测器，射线源和探测器以可沿密闭容器旋转的方式分别设在密闭容器的两侧；数据采集控制系统，与湿度传感器、湿度控制仪、CT扫描装置连接，可以实现试样不同压力、不同湿度下的CT扫描测量。
-
公开(公告)号：CN107807139A
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201610804563.5
申请日：2016-09-05
Applicant: 天津工业大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/087
Abstract: 本发明公开了一种无步进装置的双能X射线相衬成像系统及其实现方法，该系统沿光路依次包括双能阵列X射线源、样品、相位光栅、双能分析光栅、X射线探测器。其中：双能阵列X射线源调节管电压发出不同能量的X射线，同时把X射线变成一列列单独相干但相互之间不相干的光；相位光栅把入射光分离成不同的衍射级次，在双能分析光栅处形成周期性干涉条纹，与双能分析光栅形成莫尔条纹提取相位信息；X射线探测器记录莫尔条纹图像。本发明提供的双能X射线相衬成像系统通过调节X射线的能量，利用双能分析光栅对不同能量X射线的转化，在成像中不需要移动光栅，减少了成像的步骤，降低了对机械精度的要求。
-
公开(公告)号：CN107478664A
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201710796582.2
申请日：2017-09-06
Applicant: 奕瑞影像科技(太仓)有限公司
IPC: G01N23/087
CPC classification number: G01N23/087
Abstract: 本发明提供一种线型双能X射线传感器及线型双能X射线检测系统，线型双能X射线传感器包括：PCB板，正面设有第一连接结构；线型二极管阵列面板，经由背面贴置于PCB板的正面，线型二极管阵列面板的正面设有第二连接结构，第二连接结构与第一连接结构电连接；高能像素阵列结构，位于线型二极管阵列面板的正面，且与第二连接结构电连接；低能像素阵列结构，位于线型二极管阵列面板的正面，且与高能像素阵列结构具有间距，低能像素阵列结构与第二连接结构电连接。本发明相较于现有的垂直设置的线型双能X射线传感器具有结构简单、体积小及成本低等优点。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
165
records
(took 0.015 seconds)
