Invention Grant
- Patent Title: 用于确定样本的物理性质的方法
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Application No.: CN201880038249.8Application Date: 2018-06-07
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Publication No.: CN110720036BPublication Date: 2023-02-03
- Inventor: E·嘉伯雷奥博里森科 , D·佩瑞安
- Applicant: 探测技术股份有限公司
- Applicant Address: 法国穆瓦郎
- Assignee: 探测技术股份有限公司
- Current Assignee: 探测技术股份有限公司
- Current Assignee Address: 法国穆瓦郎
- Agency: 隆天知识产权代理有限公司
- Agent 石海霞; 金鹏
- Priority: 1755035 20170607 FR
- International Application: PCT/EP2018/064974 2018.06.07
- International Announcement: WO2018/224580 FR 2018.12.13
- Date entered country: 2019-12-09
- Main IPC: G01N23/087
- IPC: G01N23/087
Abstract:
本发明涉及通过电离辐射、特别是通过x辐射或伽马辐射来进行材料分析的领域。本发明提出了一种使用具有至少三个通道的光谱检测器(20)来确定测试样本(14)的物理性质的方法，该方法包括：在每个通道中对测试样本执行测量，计算变量，每个变量是由不同通道的测量结果的组合而形成的，将加权且偏置矩阵应用于变量，以使得能够确定测试样本的所研究的物理性质。
Public/Granted literature
- CN110720036A 用于确定样本的物理性质的方法 Public/Granted day:2020-01-21
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