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公开(公告)号：CN110850464B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN201911310791.7
申请日：2019-12-18
申请人： 中国原子能科学研究院
摘要： 本发明涉及质子束流线测量技术领域，公开了一种质子束流强度及截面测量装置，包括真空室、束流管道，真空室的下部与束流管道的上部相接通，所述真空室的上方安装有气缸，气缸的活塞杆竖直向下，且活塞杆的下端固定连接有位于真空室或束流管道内腔的束流阻挡体、荧光靶片，气缸的活塞杆可分别带动束流阻挡体、荧光靶片移动至束流管道内质子束流截面的位置，本发明的测量装置能够在有限的空间内对质子回旋加速器束流线的质子束流强度及截面进行精确测量。
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公开(公告)号：CN110850464A
公开(公告)日：2020-02-28
申请号：CN201911310791.7
申请日：2019-12-18
申请人： 中国原子能科学研究院
摘要： 本发明涉及质子束流线测量技术领域，公开了一种质子束流强度及截面测量装置，包括真空室、束流管道，真空室的下部与束流管道的上部相接通，所述真空室的上方安装有气缸，气缸的活塞杆竖直向下，且活塞杆的下端固定连接有位于真空室或束流管道内腔的束流阻挡体、荧光靶片，气缸的活塞杆可分别带动束流阻挡体、荧光靶片移动至束流管道内质子束流截面的位置，本发明的测量装置能够在有限的空间内对质子回旋加速器束流线的质子束流强度及截面进行精确测量。
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公开(公告)号：CN105723247B
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201480062577.3
申请日：2014-11-20
申请人： 艾克塞利斯科技公司
发明人： 佐藤秀
IPC分类号： G01T1/34
CPC分类号： H01J37/3171 , H01J37/304 , H01J2237/24535 , H01J2237/24542 , H01J2237/30472
摘要： 提供了一种离子注入系统和方法，其中，离子源产生离子，质量分析器对离子束进行质量分析。束轮廓确定装置在预定时间内沿轮廓确定平面平移通过离子束，其中，束轮廓确定装置与所述平移并发地横跨离子束的宽度来测量束电流，其中限定离子束的与时间和位置相关的束电流轮廓。束监测装置被配置为测量所述预定时间内在离子束的边缘处的离子束电流，其中限定与时间相关的离子束电流，以及控制器通过将离子束的与时间和位置相关的束电流轮廓除以与时间相关的离子束电流来确定与时间无关的离子束轮廓，其中抵消离子束电流在所述预定时间内的波动。
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公开(公告)号：CN106062543A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201480069225.0
申请日：2014-12-16
申请人： 联邦科学与工业研究组织
IPC分类号： G01N23/223 , G21G1/12 , G01T1/24 , G01T1/34
CPC分类号： G01N23/221 , A61B6/4258 , G01N23/2208 , G01N2223/07 , G01N2223/072 , G01N2223/074 , G01N2223/1016 , G01N2223/3037 , G01N2223/616 , G21G1/12
摘要： 提供一种确定样本中的目标元素的浓度的方法。所述方法包括：(i)相对于包含参考元素的参考材料定位包含目标元素的样本，(ii)同时利用轫致辐射X‑射线辐射所述样本和所述参考材料，以由此在所述目标元素中产生活化核并且在所述参考元素中产生活化核，(iii)检测来自所述经辐射样本的钝化γ‑射线和来自所述经辐射参考材料的钝化γ‑射线，(iv)确定来自所述经辐射样本的所检测的钝化γ‑射线的第一数量和来自所述参考材料的所检测的钝化γ‑射线的第二数量，以及(v)通过首先由来自所述参考材料的所检测的钝化γ‑射线的所述第二数量对来自所述经辐射样本的所检测的钝化γ‑射线的所述第一数量进行归一化来确定所述样本中的所述目标元素的所述浓度。在电子束能量的范围上参考元素对目标元素的截面比率的变化小于预定的测量准确度。
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公开(公告)号：CN110596743B
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN201910938104.X
申请日：2019-09-30
申请人： 中国科学技术大学
摘要： 本发明提供了一种用于磁约束聚变装置中的双膜软X射线荧光高速成像系统，包括：探测器和高速可见光相机；其中，所述探测器包括：探测器腔体；小孔，设于所述探测器腔体的第一端部；薄膜，设于所述小孔上；微通道板MCP，被置于所述探测器腔体内，并且面对所述小孔；荧光屏，被置于所述探测器腔体内，并且面对所述微通道板MCP；成像时，软X射线穿透所述小孔，透过所述薄膜，照射在所述微通道板MCP上，软X射线经过所述微通道板MCP后到达所述荧光屏上，所述荧光屏上的可见光射出所述探测器腔体，而后聚焦到所述高速可见光相机上。本发明提高了X射线探测成像的速度，并且可获得软X射线的辐射剖面和温度信息。
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公开(公告)号：CN112213764B
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202011048718.X
申请日：2020-09-29
申请人： 中国原子能科学研究院
发明人： 王哲
摘要： 本发明公开了一种基于像素型电离室的质子束流截面测量装置，包括电离室机构、电子学机构、计算机测量结果显示机构；所述电离室机构工作时布设于治疗室内、被安放在治疗床的与旋转机架治疗头相对应的位置上、并通过有线方式与电子学机构相连接，该电离室机构用于在整机测试的物理模式下测量治疗头发出的束流与预设点的偏离位置、以及用于在整机测试的物理模式下测量一个M*N区域内束流信号的分布情况；本发明用像素型电离室替代了现有技术的胶片+扫描仪取得了预料不到的效果，相比现有技术胶片测量方法，处理速度快，即时显示结果，10分钟即可完成全部操作，满足了临床的需求，且像素型电离室可以重复使用。
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公开(公告)号：CN112835092B
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202011613027.X
申请日：2020-12-30
申请人： 平顶山学院
IPC分类号： G01T1/34
摘要： 本发明提供一种扣除其它核反应生成物对目标核反应截面测量影响的方法。在核反应截面测量中，如果其它核反应产物的半衰期远大于目标核反应产物的半衰期，则可用以下方法扣除其它反应产物对目标核反应截面测量的影响：对目标核反应的特征伽马射线测量两次，第一次测量不同反应产物衰变到目标反应产物的伽马射线全能峰面积C11与第二次测量的伽马射线全能峰面积C12的关系为在用核反应截面一般计算公式测量目标核反应截面时，其中的伽马射线全能峰面积Cx应为第一次实测的目标核反应产物的伽马射线全能峰面积减去C11，而C11可由与C12的上述关系式得到。
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公开(公告)号：CN113466922A
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202010244288.2
申请日：2020-03-31
申请人： 刘畅源
发明人： 刘畅源
摘要： 本发明涉及一种核截面多普勒展宽方法和装置，其中该方法包括将平均反应截面函数σ(E，T)与能量E的乘积F(x，θ)在能量的平方根上N等分的网格上离散化为其中入射粒子具有质量m以及能量E，目标粒子具有质量M并且具有温度T下的麦克斯韦能量分布，F(x，θ)＝Eσ(E，T)，k＝0，1，...N‑1，c是离散上标符号；将平均反应截面函数与能量的乘积F(x，θ)在一组正交函数集上展开，展开系数为j为正交函数集的索引；其中，对于经离散化的平均反应截面函数与能量的乘积其正交函数展开系数基于0K温度下的平均反应截面函数与能量的乘积F(x，0)，获取一组权重系数其中，是的一个函数；以及将F(x，θ)表示为所述组系数权重的正交函数的求和，利用所述组系数计算F(x，θ)，并获取平均反应截面σ(E，T)。
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公开(公告)号：CN112213764A
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN202011048718.X
申请日：2020-09-29
申请人： 中国原子能科学研究院
发明人： 王哲
摘要： 本发明公开了一种基于像素型电离室的质子束流截面测量装置，包括电离室机构、电子学机构、计算机测量结果显示机构；所述电离室机构工作时布设于治疗室内、被安放在治疗床的与旋转机架治疗头相对应的位置上、并通过有线方式与电子学机构相连接，该电离室机构用于在整机测试的物理模式下测量治疗头发出的束流与预设点的偏离位置、以及用于在整机测试的物理模式下测量一个M*N区域内束流信号的分布情况；本发明用像素型电离室替代了现有技术的胶片+扫描仪取得了预料不到的效果，相比现有技术胶片测量方法，处理速度快，即时显示结果，10分钟即可完成全部操作，满足了临床的需求，且像素型电离室可以重复使用。
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公开(公告)号：CN114814928A
公开(公告)日：2022-07-29
申请号：CN202210419940.9
申请日：2022-04-21
申请人： 平顶山学院
IPC分类号： G01T1/34
摘要： 本发明属于核数据测量技术领域，具体涉及一种某种元素生成某种核素的反应截面的测量方法及系统，该测量方法首先制备样品并对样品进行中子辐照；然后测量中子辐照后样品中生成相同核素的特征γ射线全能峰总计数；最后利用某种元素生成某种核素的反应截面的计算公式获得某核素生成截面。本发明给出某种元素生成某种核素的反应截面的科学定义，并给出某种元素生成某种核素的反应截面的一般计算公式，公式原理清楚、计算简单快捷，对重要同位素的生产、对反应堆结构材料的选择以及相关核物理基础研究和应用研究等都有重要的意义。
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