分光光度计
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102841065B

    公开(公告)日:2015-01-07

    申请号:CN201210167582.3

    申请日:2012-05-25

    IPC分类号: G01N21/33

    CPC分类号: G01N21/33 G01N21/276

    摘要: 本发明提供一种能使测量精度提高的分光光度计,是包括:样品池,将测量光出射到样品池上的光源部,检测通过样品池的测量光的光检测器,以一定周期使来自光源部的测量光不入射到光检测器的遮光部,有对应地存储遮光部遮光的遮光期间及光检测器得到的输出强度信号的存储部,及根据存储部存储的入射期间的输出强度信号S及遮光期间的输出强度信号DS算出透射率或吸光度的控制部,以入射期间、遮光期间这样的顺序予以执行并将其作为一个周期的分光光度计,其特征在于,所述控制部算出除去第N周期的入射期间的输出强度信号SN中所含的第N-1周期的入射期间的输出强度信号SN-1的影响的第N周期的真实输出强度信号sN。

    用于识别制冷剂的装置和方法

    公开(公告)号:CN103765199A

    公开(公告)日:2014-04-30

    申请号:CN201280041708.0

    申请日:2012-08-24

    IPC分类号: G01N21/94

    摘要: 本发明涉及用于识别制冷剂的装置10,包括气腔12,包括具有检测气体入口和检测气体出口的气腔(12)、通过气腔(12)进行辐射的红外光源(20)以及检测穿过所述气腔的红外辐射的至少一传感器(22),所述装置按照以下方式被改进:在所述红外光源(20)和所述传感器(22)之间提供至少一宽带滤波器(28、30),所述滤波器的通带包括待检测制冷剂的吸收光谱,不包括碳氢化合物的吸收光谱,所述气腔(12)与储存容器(26)连接,所述储存容器(26)包括待检测的作为参考气体的纯制冷剂。本发明进一步涉及用于识别制冷剂的一对应方法。

    感测设备
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101253403B

    公开(公告)日:2013-03-27

    申请号:CN200680031668.6

    申请日:2006-08-10

    发明人: 尾内敏彦

    IPC分类号: G01N21/35

    摘要: 本发明提供了一种感测设备,用于使用电磁波获得测试试样的信息,所述电磁波包括30GHz至30THz的频率区域内的频率区域,所述感测设备包括:电磁波发送部,其包括多个传输部(4a,4b),用于传播电磁波;以及检测部(3a,3c),其用于接收并检测来自所述多个传输部(4a,4b)的电磁波,其中,构建所述多个传输部(4a,4b)中的至少一个,以使得测试试样(5,6)可以被置于如下部分中,所述部分受传播通过其的电磁波所影响。

    用于辐射吸收度测量的装置及其校准方法

    公开(公告)号:CN102575982A

    公开(公告)日:2012-07-11

    申请号:CN200980162144.4

    申请日:2009-10-28

    申请人: 奥普斯公司

    IPC分类号: G01N21/35 G01N21/31

    摘要: 在此说明了一种用于辐射吸收度测量的装置以及一种用于校准这种装置的方法。这种装置包括一个辐射源(4,16),该辐射源发射具有在0.2μm到20μm的区间内的波长的电磁辐射;一个检测所述电磁辐射的检测器(2);当处于一种测量模式时,所述辐射的至少一部分已经穿过一种介质并且在到达所述检测器之前在离所述辐射源(4,16)一段距离处已经被一个表面(5)反射。该装置的特征在于,所述装置进一步包括一个流体校准单元(8),这个流体校准单元被适配为安排在所述辐射源(4,16)与所述检测器(2)之间的电磁辐射的路径中。这种用于校准辐射吸收度测量装置的方法包括以下步骤:发射具有在0.2μm到20μm的区间内的波长的电磁辐射,引导所述电磁辐射的至少一部分穿过一个流体校准单元(8)并且检测所述电磁辐射。

    混合气体分析器
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102272576A

    公开(公告)日:2011-12-07

    申请号:CN200980154356.8

    申请日:2009-07-31

    发明人: M·D·费托

    IPC分类号: G01N21/00

    摘要: 提供用于测量气体含量、尤其测量气体成分的干摩尔分数的气体分析器系统和方法。这些系统和方法允许为多个环境监测应用快速测量气体密度和/或气体的干摩尔分数,包括高速通量测量。新颖的耦合设计允许对包封气流路径的槽的无工具去除,以实现光组件的现场清洗,并实现开路和闭路分析器配置之间的重新配置。