用于确定层析图谱的方法和设备

    公开(公告)号:CN106461624A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201480078554.1

    申请日:2014-03-04

    摘要: 本发明涉及一种用于确定层析图谱的方法和设备。该方法包括第一步,其中样品被插入两个分离柱(2.1、2.2、2.3)中,对于每个分离柱(2.1、2.2、2.3),样品的对应部分利用对应的插入装置(3.1、3.2、3.3)插入相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)中,对应的插入装置由对应的调制函数控制,以用于产生相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)中样品的对应的调制部分,其中在分离柱(2.1、2.2、2.3)中调制样品的部分所使用的调制函数彼此不同。而且,该方法包括:第二步,其中样品的每个调制部分被引导经过相应的分离柱(2.1、2.2、2.3);第三步,其中在经过相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)之后样品的每个调制部分的信号用同一探测器(4)测量;和第四步,其中对于每个分离柱(2.1、2.2、2.3),计算信号和在相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)中调制样品的对应部分所使用的调制函数之间的相关性,以确定相应的分离柱(2.1、2.2、2.3)的层析图谱。