公开(公告)号：CN108020164A

公开(公告)日：2018-05-11

申请号：CN201610940078.0

申请日：2016-10-31

Applicant: 泰科电子(上海)有限公司 ,  泰连公司 ,  深圳市深立精机科技有限公司

Inventor： 周磊 ,  张丹丹 ,  鲁异 ,  曾庆龙

IPC: G01B11/06

CPC classification number: G01B11/06 ,  G01B11/0691 ,  G01B21/042 ,  G01B2210/44 ,  G05B19/401

Abstract: 本发明公开了一种厚度检测实验平台，包括：运动仿真模块，适于驱动待检测的产品执行预定的仿真动作，所述预定的仿真动作为模拟该产品在实际生产线上的各种运动；和厚度检测模块，适于检测被所述运动仿真模块驱动的所述待检测的产品的厚度。在本发明中，待检测的产品在运动仿真模块的驱动下能够模拟在实际生产线上的各种运动，从而能够在实验室中再现该产品在实际生产线上的工况，因此，可以采用离线的方式在实验室中对厚度检测设备进行离线调试，无需在线调试，从而不会影响生产线的正常生产，而且调试也很不方便。

公开(公告)号：CN106461386A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201580027585.9

申请日：2015-11-26

Applicant: 株式会社LG ,  化学

Inventor： 尹斗星 ,  金秀贤 ,  金志贤 ,  李在宪

IPC: G01B21/08

CPC classification number: G01B7/06 ,  G01B7/063 ,  G01B11/026 ,  G01B11/06 ,  G01B21/08 ,  G01B2210/44 ,  G01L1/16 ,  G01L5/0028 ,  G01L5/0038 ,  H01M10/48 ,  H02J7/0029 ,  H02J7/0047 ,  G01B21/085

Abstract: 提供了一种用于测量二次电池单体的厚度的装置和方法。根据本发明的装置包括：安装台，二次电池单体被定位在该安装台上；挤压板，该挤压板被安设成使得该挤压板离安装台的距离是可变的；挤压装置，该挤压装置朝向挤压板推动安装台或在离开挤压板的方向上拉动安装台；测量装置，该测量装置用于测量由挤压装置施加到挤压板的挤压力和二次电池单体的厚度；和控制单元，该控制单元被构造成根据测量条件控制二次电池单体的充电、放电或温度，从测量装置接收挤压力测量值和厚度测量值，从而确定施加到挤压板的挤压力的大小和二次电池单体的厚度，并且改变施加到挤压板的挤压力或者使所述挤压力保持恒定。

公开(公告)号：CN103890540B

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201280052459.5

申请日：2012-12-25

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 古田哲夫 ,  石冢照雄

IPC: G01B11/06

CPC classification number: G01B11/06 ,  G01B5/0011 ,  G01B11/0691 ,  G01B2210/44

Abstract: 本发明提供一种厚度测量系统及厚度测量方法，将以厚度测定装置的一对激光距离计的支撑点之间的距离因温度变化而变动为起因的测定误差的影响除去，且不需要用于安全管理的特别措施，能够连续地进行测定。厚度测定装置(1、2)以预定的间隔(Ld)设定，在第1厚度测定装置(1)通过厚度基准板(5c)执行厚度校正处理，放置在移动方向的下游侧的第2测定装置(2)执行测定处理中，动作模式设定部(3)在第1厚度测定装置(1)设定“测定”，再有，向第2厚度测定装置(2)指令“厚度修正”处理开始，使第1厚度测定值(1)在移动方向上延迟到与间隔对应的位置，将第1厚度测定值(1)和自身的第2厚度测定值(2)之差作为修正值求出，不将第2厚度测定装置(2)的测定中断地执行厚度修正。

公开(公告)号：CN103906593B

公开(公告)日：2016-05-25

申请号：CN201380002534.1

申请日：2013-10-25

Applicant: 日本精工株式会社

Inventor： 五十岚洁

IPC: B23Q17/22 ,  B23G1/36

CPC classification number: B23P19/10 ,  B23G1/38 ,  B23G1/48 ,  B24B41/04 ,  B24B49/10 ,  G01B5/14 ,  G01B5/252 ,  G01B2210/44

Abstract: 在磨具轴(51)的旋转轴线(T)相对于主轴(1)的轴线(S)倾斜来磨削工件的内表面的螺纹槽的螺纹磨床中，将具有圆筒外周面(3A)的定心装置(3)装配于主轴(1)。将具有两个测量器(20A、20B)的测量单元(10)安装于定心装置(3)，以使测头(22)能够与磨具(52)的上下两侧顶部触碰。通过使测头(22)与定心装置(3)的圆筒外周面触碰，设定两个测量器(20A、20B)的原点。通过使测量单元(10)沿定心装置(3)的轴向移动，使两个测量器(20A、20B)的各测头(22)分别与磨具(52)的上下两侧顶部触碰。然后调节磨具轴(51)的位置，使测量器(20A)的测量值与测量器(20B)的测量值相等。

公开(公告)号：CN105705905A

公开(公告)日：2016-06-22

申请号：CN201480059316.6

申请日：2014-08-28

Applicant: 微-埃普西龙测量技术有限两合公司

Inventor： H·菲尔迈耶 ,  G·舒奥莫瑟

IPC: G01B21/04 ,  G01B21/08

CPC classification number: G01B11/06 ,  G01B11/14 ,  G01B21/042 ,  G01B21/045 ,  G01B21/08 ,  G01B2210/44

Abstract: 一种用于测量测量物体的厚度的方法，其中至少一个传感器从顶部对着所述物体进行测量，而至少一个其他传感器从底部对着所述物体进行测量，并且以传感器彼此的已知距离，根据公式D＝Gap-(S1+S2)计算所述物体的厚度，其中D＝所述测量物体的厚度，Gap＝传感器之间的距离，S1＝顶部传感器至所述测量物体的上面的距离，而S2＝低部传感器至所述测量物体的下面的距离，所述方法的特征在于补偿由所述测量物体的倾斜和/或由所述传感器的位移和/或由所述传感器的倾斜造成的测量误差，其中所述位移和/或所述倾斜是通过校准来确定的，且所计算出的厚度或者所计算出的厚度轮廓被相应地校正。本发明还涉及用于应用所述方法的设备。

公开(公告)号：CN104180761A

公开(公告)日：2014-12-03

申请号：CN201310203835.2

申请日：2013-05-28

Applicant: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 ,  鸿海精密工业股份有限公司

Inventor： 林桂央 ,  操明山 ,  曾凡建 ,  屈保锋

IPC: G01B11/06

CPC classification number: G01B11/06 ,  G01B2210/44

Abstract: 一种壁厚测量仪，其包括容置箱、支撑柱、固定组件和二激光测头。该支撑柱固定在该容置箱上，该固定组件活动安装在支撑柱的一侧，该二激光测头相间隔的安装在该固定组件上，将待测产品放至该二激光测头之间，该二激光测头发射激光至该待测产品的待测部位。

公开(公告)号：CN102620693A

公开(公告)日：2012-08-01

申请号：CN201210017770.8

申请日：2012-01-19

Applicant: 丰田自动车株式会社

Inventor： 松本清市 ,  河木博行 ,  黒木绅矢 ,  内田和宏 ,  伊藤清和

IPC: G01B17/02

CPC classification number: G01B17/025 ,  G01B2210/44

Abstract: 本发明涉及超声测量方法和超声测量系统。在用于测量通过涂敷到由金属制成的基底(61)的一个表面或两个表面以提供涂敷制品(60)而施加的涂层材料(62)的厚度的超声测量方法中，提供第一超声传感器(11)和第二超声传感器(12)的对，使得第一超声传感器设置为当沿涂敷制品的厚度方向观察时经由空气层而位于涂敷制品的一侧，且第二超声传感器被设置为经由空气层而位于涂敷制品的另一侧；且通过使超声波在第一超声传感器与第二超声传感器之间传输而测量涂层材料的厚度。使用允许未聚焦超声波的传播的平面型发送传感器作为第一超声传感器，且使用允许未聚焦超声波的传播的平面型接收传感器作为第二超声传感器。

公开(公告)号：CN102458681A

公开(公告)日：2012-05-16

申请号：CN201080027812.5

申请日：2010-06-21

Applicant: 皮尔金顿集团有限公司

Inventor： J·S·马萨

IPC: B05B12/00 ,  G01B11/06 ,  G01B11/02

CPC classification number: G01B11/0616 ,  G01B2210/44

Abstract: 本发明描述了一种用于确定基底上的薄膜厚度的方法。所述基底具有第一主表面和相对的第二主表面，并且所述薄膜覆盖所述第一主表面的一部分。在第一测量步骤期间，采用所述第一测量射束来确定从第一基准点到所述基底的所述第一主表面的未被薄膜覆盖的部分的距离，并且采用第二测量射束来确定从第二基准点到所述基底的所述第二主表面的未被薄膜覆盖的部分的距离。在第二测量步骤期间，采用所述第一测量射束来确定从所述第一基准点到所述薄膜的距离，并且采用所述第二测量射束来确定从所述第二基准点到所述基底的所述第二主表面的未被薄膜覆盖的部分的距离。在将墨施加到汽车玻璃嵌板的方法中可以采用所确定的薄膜厚度作为控制参数。

公开(公告)号：CN101358830B

公开(公告)日：2012-01-25

申请号：CN200710201272.8

申请日：2007-08-03

Applicant: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 ,  鸿海精密工业股份有限公司

Inventor： 刘庆 ,  李军旗

IPC: G01B7/28 ,  G01B7/02

CPC classification number: G01B5/008 ,  G01B7/008 ,  G01B2210/44

Abstract: 本发明公开一种测量设备，其包括两个接触式测量装置及一个控制器，该两个接触式测量装置均包括测量头及感测该测量头位移的传感器，且该两个接触式测量装置的测量头相互对准，该控制器与两个接触式测量装置的传感器分别电连接，该接触式测量装置上设有至少一个驱动气缸，该至少一个驱动气缸的外侧壁设置有至少一个气体导管，该至少一个气体导管的延伸方向与该至少一个驱动气缸轴线的夹角大于0度且小于90度，向该至少一个气体导管内吹入的气体作用于该至少一个驱动气缸的外侧壁上，从而推动该至少一个驱动气缸带动测量头运动，吹入的气体部分排出从而保持该至少一个驱动气缸较小之驱动压力。该测量设备具有测量精度高的优点。

公开(公告)号：CN100507437C

公开(公告)日：2009-07-01

申请号：CN200480042104.3

申请日：2004-12-06

Applicant: 兰姆研究有限公司

Inventor： Y·戈特基斯 ,  R·基斯特勒 ,  A·欧萨斯 ,  C·弗罗因德

IPC: G01B7/06

CPC classification number: G01B7/107 ,  G01B7/105 ,  G01B2210/44

Abstract: 提供一种用于在薄膜厚度测量过程中把测量光点尺寸和噪声减到最小的方法。所述方法从把第一涡流传感器设置成对准与导电薄膜相联系的第一表面开始。所述方法包括把第二涡流传感器设置成对准与导电薄膜相联系的第二表面。第一和第二涡流传感器可以共享公用的轴线或彼此偏离。所述方法还包括交替地向第一涡流传感器和第二涡流传感器供电。在本发明的一个方面，在第一涡流传感器和第二涡流传感器之间切换电源的操作之间包含延迟时间。所述方法还包括根据来自第一涡流传感器和第二涡流传感器的信号的组合计算薄膜厚度测量值。还提供一种设备和一种系统。