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公开(公告)号：CN101131316A
公开(公告)日：2008-02-27
申请号：CN200710154704.4
申请日：2003-06-24
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01B11/06 , G11B7/0037 , G11B7/26
CPC classification number: G01B11/0625 , G01B11/0675 , G11B7/00375 , G11B7/268
Abstract: 本发明公开了一种利用光盘层的干涉效应来测量包括隔离层和覆盖层的光盘的一个或多个层的厚度的系统，所述系统包括：分光计，用于将从光盘的表面反射的光分离为其多个组成频率；光强测量单元，用于分别测量所述组成频率的强度作为第一光谱数据；以及处理器，用于至少进行以下步骤：将所述的第一光谱数据转换成作为折射率和波长的函数而显示变化的第二光谱值，利用快速傅立叶变换来变换所述第二光谱，以及基于所述的变换后的光谱来分别检测一个或多个隔离层和覆盖层的厚度。本发明所公开的方法在高精度测量光盘厚度方面具有优点。
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公开(公告)号：CN1761866B
公开(公告)日：2011-07-20
申请号：CN200480007427.9
申请日：2004-03-17
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01N3/46
Abstract: 公开了一种用于测试光盘(20)的耐用性的装置和方法，由此提高了测试的可靠性。该方法包括将光盘(20)固定在旋转盘(10)上，并且随同旋转盘(10)一起旋转光盘(20)，提供预定的压力给划痕(31)，同时该光盘(20)旋转预定数量的旋转圈数，以便由于与划痕器(31)接触而在光盘(20)的表面上产生划痕，和基于在光盘(20)的表面上产生的划痕确定光盘(20)的耐用性。
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公开(公告)号：CN101131316B
公开(公告)日：2012-05-02
申请号：CN200710154704.4
申请日：2003-06-24
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01B11/06 , G11B7/0037 , G11B7/26
CPC classification number: G01B11/0625 , G01B11/0675 , G11B7/00375 , G11B7/268
Abstract: 本发明公开了一种利用光盘层的干涉效应来测量包括隔离层和覆盖层的光盘的一个或多个层的厚度的系统，所述系统包括：分光计，用于将从光盘的表面反射的光分离为其多个组成频率；光强测量单元，用于分别测量所述组成频率的强度作为第一光谱数据；以及处理器，用于至少进行以下步骤：将所述的第一光谱数据转换成作为折射率和波长的函数而显示变化的第二光谱值，利用快速傅立叶变换来变换所述第二光谱，以及基于所述的变换后的光谱来分别检测一个或多个隔离层和覆盖层的厚度。本发明所公开的方法在高精度测量光盘厚度方面具有优点。
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公开(公告)号：CN1761866A
公开(公告)日：2006-04-19
申请号：CN200480007427.9
申请日：2004-03-17
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01N3/46
Abstract: 公开了一种用于测试光盘(20)的耐用性的装置和方法，由此提高了测试的可靠性。该方法包括将光盘(20)固定在旋转盘(10)上，并且随同旋转盘(10)一起旋转光盘(20)，提供预定的压力给划痕(31)，同时该光盘(20)旋转预定数量的旋转圈数，以便由于与划痕器(31)接触而在光盘(20)的表面上产生划痕，和基于在光盘(20)的表面上产生的划痕确定光盘(20)的耐用性。
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公开(公告)号：CN100461274C
公开(公告)日：2009-02-11
申请号：CN200480026655.0
申请日：2004-09-16
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B7/0045
Abstract: 本发明揭示了一种相变光盘的记录方法。为了防止晶体材料从预定标记(例如4T或更长的标记)的前端开始生长，通过相对参考时钟延迟多个脉冲来增大用于形成4T或更长的标记的写脉冲中的第一脉冲和多个脉冲之间的间隔，并且增加多个脉冲的宽度或电平。在另一实施例中，为了防止由于第一脉冲和多个脉冲之间的间隔的增大引起的开始位置的变化，用于形成3T或更长的标记的写脉冲中的最后脉冲被提前一预定时间段。在又一个实施例中，用于形成4T或更长的标记的写脉冲中的第一脉冲和多个脉冲之间的间隔被增大，最后脉冲的开始位置和宽度、后沿冷却时间偏移被根据标记的长度单独地调整。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1853219A
公开(公告)日：2006-10-25
申请号：CN200480026655.0
申请日：2004-09-16
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B7/0045
Abstract: 本发明揭示了一种相变光盘的记录方法。为了防止晶体材料从预定标记(例如4T或更长的标记)的前端开始生长，通过相对参考时钟延迟多个脉冲来增大用于形成4T或更长的标记的写脉冲中的第一脉冲和多个脉冲之间的间隔，并且增加多个脉冲的宽度或电平。在另一实施例中，为了防止由于第一脉冲和多个脉冲之间的间隔的增大引起的开始位置的变化，用于形成3T或更长的标记的写脉冲中的最后脉冲被提前一预定时间段。在又一个实施例中，用于形成4T或更长的标记的写脉冲中的第一脉冲和多个脉冲之间的间隔被增大，最后脉冲的开始位置和宽度、后沿冷却时间偏移被根据标记的长度单独地调整。
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公开(公告)号：CN101701889A
公开(公告)日：2010-05-05
申请号：CN200910158737.5
申请日：2003-07-31
Applicant: LG电子株式会社
Abstract: 本发明涉及测试光盘表面机械耐性的设备。该设备包括装载待划光盘的转盘，用来旋转所装载的光盘；和多个磨轮，用于与光盘相接触并产生划痕，当磨轮向光盘上施加预定的载荷时，在光盘旋转五圈的期间产生划痕，其中所述设备判断光盘是否具有预定的耐性。本发明还涉及利用所述设备进行测试的方法。
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公开(公告)号：CN100554871C
公开(公告)日：2009-10-28
申请号：CN03824795.X
申请日：2003-06-24
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01B11/0625 , G01B11/0675 , G11B7/00375 , G11B7/268
Abstract: 本发明公开了一种利用光盘层的干涉效应来测量光盘厚度的方法，该方法包括：根据光的波长来检测反射光的强度并将其作为每个波长的光谱数据；将检测到的每个波长的光谱数据转换成作为反映了折射率的波长的函数的光谱值；以及通过傅立叶变换将该转换的值转换成干涉区的长度来代表光盘的层厚，检测反射光的强度具有峰值处的位置，分别作为衬底层和覆盖层的厚度。本发明所公开的方法在高精度测量光盘厚度方面具有优点。
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公开(公告)号：CN1695051A
公开(公告)日：2005-11-09
申请号：CN03824793.3
申请日：2003-07-31
Applicant: LG电子株式会社
Abstract: 本发明公布了测试光盘表面机械耐性的方法和设备。本发明的设备包括固定待划光盘的转盘，用来旋转光盘，以及多个被垂直于转盘设置的磨轮，它们与光盘相接触并产生划痕。在磨轮向光盘施加预定的载荷的同时光盘旋转低于5圈，划痕就产生了。
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公开(公告)号：CN1695039A
公开(公告)日：2005-11-09
申请号：CN03824795.X
申请日：2003-06-24
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01B11/0625 , G01B11/0675 , G11B7/00375 , G11B7/268
Abstract: 本发明公开了一种利用光盘层的干涉效应来测量光盘厚度的方法，该方法包括：根据光的波长来检测反射光的强度并将其作为每个波长的光谱数据；将检测到的每个波长的光谱数据转换成作为反映了折射率的波长的函数的光谱值；以及通过傅立叶变换将该转换的值转换成干涉区的长度来代表光盘的层厚，检测反射光的强度具有峰值处的位置，分别作为衬底层和覆盖层的厚度。本发明所公开的方法在高精度测量光盘厚度方面具有优点。
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