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公开(公告)号：CN109884104B
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201910192461.6
申请日：2019-03-14
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N23/2202 , G01N23/2251
Abstract: 本发明涉及一种材料组织结构大尺寸高通量定量表征三维重构设备和方法，所述设备包括辉光放电溅射单元、样品传送装置、扫描电镜单元和GPU计算机工作站。辉光放电溅射单元可实现样品大尺寸(cm级)、近平坦、快速制备样品，并可控地实现沿样品表面深度方向逐层剥蚀制样，快速扫描电镜实现样品特征图谱大尺寸、高通量地获取，样品传送装置负责将样品在辉光放电溅射光源和扫描电镜之间来回准确定位地传送，GPU计算机工作站将获取的样品特征图谱拼接、处理、识别和定量分布表征，以及对逐层溅射制样的样品组织结构进行三维重构；该设备和方法能实现cm级大尺寸样品的快速制备、特征图谱高通量的获取与评价、微观组织结构的定量统计分布表征及三维重构。
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公开(公告)号：CN108181238B
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN201810116151.1
申请日：2018-02-06
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明属于光谱仪分光系统领域，涉及一种光谱仪的中阶梯光栅姿态调整方法和校准装置。本发明的调整方法利用中阶梯光栅的衍射理论，结合分光模块光学系统的具体参数，精确计算中阶梯光栅多个衍射级次的光斑成像在中阶梯光栅姿态调整校准装置上的相对位置，并做出相应标记，据此通过中阶梯光栅固定结构调整中阶梯光栅的三维姿态。本发明的校准装置基于中阶梯光栅衍射理论与光学系统具体参数设计而成，计算精确，易于实现，可操作性强，能够精确实现中阶梯光栅在光谱仪中的姿态调整；同时，该中阶梯光栅姿态调整校准装置装适用性强，当光学系统相关光学参数发生变化时，仅需重新计算设计中阶梯光栅各衍射级次的光斑对应位置即可。
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公开(公告)号：CN110260973A
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201910542604.1
申请日：2019-06-21
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种中阶梯光栅光谱仪的自动调试系统及方法，该系统包括自动调试平台，自动调试平台上设置有上位机、控制模块、存储模块、谱图分析模块、调试模型、电机控制器和姿态调整电机组；探测器采集模块将采集的谱图传递给谱图分析模块；谱图分析模块通过特征光斑的相对位置信息来解析谱图，判断待调试模块的工作姿态；调试模型根据预存的调试参数和接收到的待调试模块的工作姿态的判断结果，计算待调试模块的调整方式及调整量，发送给上位机，上位机给控制模块发送调试指令；控制模块用于对电机控制器发出指令，电机控制器通过驱动器控制姿态调整电机组，从而实现待调试模块工作状态的改变。本发明人力成本低、可靠性高。
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公开(公告)号：CN106290313B
公开(公告)日：2019-03-05
申请号：CN201610592932.9
申请日：2016-07-25
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N21/73
Abstract: 一种应用于ICP光谱的入射光观测位置调节结构，属于光谱仪入射光观测技术领域。包括：包括：光桶、主体、窗片、第一反射镜、第一反射镜基座、调整块、调整杆、弹簧、偏转轴、转动环、第一限位杆、限位开关、铜套、旋转杆、电机、偏心轴、第二限位杆、调整销、旋转曲柄、轴承、第二反射镜基座、第二反射镜。通过调节结构上的电机运动调整第一反射镜和第二反射镜的位置，通过采集系统实时的监测采集信号的变化，使其找到各元素最佳的光线入射路径，以获得最大的灵敏度，降低仪器的检出限及避免背景干扰。
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公开(公告)号：CN118837429B
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202411320990.7
申请日：2024-09-23
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司 , 钢研纳克江苏检测技术研究院有限公司
IPC: G01N27/62
Abstract: 本发明涉及金属材料成分分析技术领域，公开了一种金属材料中氦含量的测定方法，包括：对待分析金属材料样品进行预处理；调整脉冲熔融‑质谱气体元素分析仪的工作参数，设定分析方法；根据设定的分析方法，对脉冲熔融‑质谱气体元素分析仪进行空白分析；采用定量标准气体校正脉冲熔融‑质谱气体元素分析仪，得到氦气的标准工作曲线；采用校正后的脉冲熔融‑质谱气体元素分析仪，根据设定的分析方法，对预处理后的待分析金属材料样品进行氦含量测定。本发明采用脉冲熔融‑质谱气体元素分析仪测定金属材料中氦的含量，检测灵敏度高，提高测定精度，可解决金属材料在分析过程中由于热导检测器灵敏度不够而无法准确检测超痕量气体杂质元素的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113703120B
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202111036830.6
申请日：2021-09-06
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明提供了一种背靠背双光栅调整装置，属于光谱仪分光系统技术领域。该背靠背双光栅调整装置，包括呈工字形的双光栅底座和设置于双光栅底座下端的双光栅底座调整机构；双光栅底座的左右两端分别设置有第二光栅和第一光栅，第一光栅通过第一光栅固定模块固定于双光栅底座右端，第二光栅通过第二光栅固定模块固定于双光栅底座左端；第二光栅固定模块用于调整第二光栅的姿态，双光栅底座调整机构上的俯仰调节螺钉和倾斜调节螺钉用于调整第一光栅的姿态。本发明提供的背靠背双光栅调整装置，具有调试功能，能够分别实现背靠背双光栅的姿态调试。
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公开(公告)号：CN113703120A
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN202111036830.6
申请日：2021-09-06
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明提供了一种背靠背双光栅调整装置，属于光谱仪分光系统技术领域。该背靠背双光栅调整装置，包括呈工字形的双光栅底座和设置于双光栅底座下端的双光栅底座调整机构；双光栅底座的左右两端分别设置有第二光栅和第一光栅，第一光栅通过第一光栅固定模块固定于双光栅底座右端，第二光栅通过第二光栅固定模块固定于双光栅底座左端；第二光栅固定模块用于调整第二光栅的姿态，双光栅底座调整机构上的俯仰调节螺钉和倾斜调节螺钉用于调整第一光栅的姿态。本发明提供的背靠背双光栅调整装置，具有调试功能，能够分别实现背靠背双光栅的姿态调试。
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公开(公告)号：CN108896537A
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201810666086.X
申请日：2018-06-26
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N21/73
Abstract: 本发明属于光谱仪分光系统领域，涉及一种应用于ICP光谱仪的中阶梯光栅光谱仪分光光路结构，该分光光路结构按光束的传播轨迹顺序包括：入射狭缝、用于准直入射光的准直反射镜、棱镜、用于实现高阶色散的中阶梯光栅、用于聚焦各波长平行光束的成像反射镜和用于接收光谱图像信号的面阵探测器；棱镜用于实现光束的交叉色散如下：光束从棱镜的同一侧入射和出射实现双次色散。本发明中阶梯光栅多个衍射级次的交叉色散通过同一棱镜双次色散实现，较之棱镜单次色散或棱镜反射，相同通光口径下光路在宽度上得以压缩；同时，在达到相同色散效果时，棱镜的厚度和楔角大大减小，可减少材料对光的吸收，提高系统的测试灵敏度；测试的短波下限可达165nm。
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公开(公告)号：CN113566961A
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN202110782919.0
申请日：2021-07-12
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种中阶梯光栅小型固定装置及姿态调整方法，该固定装置包括底座，光栅压片、光挡片和改进的姿态调整机构，该改进的姿态调整机构包括：光栅第一调节安装块、光栅第二调节安装块、轴钉、螺纹副调节轴组件、弹簧组件和旋转板组件；该固定装置结构简单，组装方便，仅需完成螺纹副调节轴组件及弹簧组件的组装，即可实现中阶梯光栅姿态的三维姿态和空间高度的调整调试。该固定装置简单，组装方便，光栅的俯仰、倾斜和水平高度可分别调试，避免相互干扰，利于实现产业化。
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公开(公告)号：CN110260973B
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN201910542604.1
申请日：2019-06-21
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种中阶梯光栅光谱仪的自动调试系统及方法，该系统包括自动调试平台，自动调试平台上设置有上位机、控制模块、存储模块、谱图分析模块、调试模型、电机控制器和姿态调整电机组；探测器采集模块将采集的谱图传递给谱图分析模块；谱图分析模块通过特征光斑的相对位置信息来解析谱图，判断待调试模块的工作姿态；调试模型根据预存的调试参数和接收到的待调试模块的工作姿态的判断结果，计算待调试模块的调整方式及调整量，发送给上位机，上位机给控制模块发送调试指令；控制模块用于对电机控制器发出指令，电机控制器通过驱动器控制姿态调整电机组，从而实现待调试模块工作状态的改变。本发明人力成本低、可靠性高。
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