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公开(公告)号：CN110596077A
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201910699043.6
申请日：2019-07-31
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明属于原子发射光谱技术领域，涉及一种微弱光源罗兰光栅线阵CCD/CMOS检测器分光系统及方法，应用于大于等于5μm的微米级微束激光诱导击穿光谱仪。该分光系统沿光束的传播方向依次包括平凸透镜(2)、第一柱面透镜(3)、入射狭缝(4)、凹面光栅(5)、第二柱面透镜(6)和CCD/CMOS检测器(7)；其中，入射狭缝(4)、凹面光栅(5)和CCD/CMOS检测器(7)位于罗兰圆上，光源(1)、平凸透镜(2)和第一柱面透镜(3)位于罗兰圆外，并与入射狭缝(4)和凹面光栅(5)共线。本发明与传统罗兰光学系统对比，具有光学分辨力强、信号放大倍数高、信噪比高等特点，特别适用于微束激光光谱仪的单脉冲和多个脉冲的光谱分析。
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公开(公告)号：CN113566961A
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN202110782919.0
申请日：2021-07-12
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种中阶梯光栅小型固定装置及姿态调整方法，该固定装置包括底座，光栅压片、光挡片和改进的姿态调整机构，该改进的姿态调整机构包括：光栅第一调节安装块、光栅第二调节安装块、轴钉、螺纹副调节轴组件、弹簧组件和旋转板组件；该固定装置结构简单，组装方便，仅需完成螺纹副调节轴组件及弹簧组件的组装，即可实现中阶梯光栅姿态的三维姿态和空间高度的调整调试。该固定装置简单，组装方便，光栅的俯仰、倾斜和水平高度可分别调试，避免相互干扰，利于实现产业化。
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公开(公告)号：CN113267486A
公开(公告)日：2021-08-17
申请号：CN202110758756.2
申请日：2021-07-05
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪，属光谱仪器技术领域。该发射光谱仪包括进样系统、激发光源、色散系统、控制与检测系统和数据处理系统，所述进样系统、激发光源、色散系统和数据处理系统依次连接，所述控制与检测系统分别与进样系统、激发光源和数据处理系统连接，其中，所述色散系统采用背靠背双光栅扫描设计，还包括双滤光片和双PMT设计，其传动系统采用整涡轮盘设计。本发明提供的宽谱段高分辨电感耦合等离子体发射光谱仪，通过改进色散系统，在保证光谱分辨率的前提下，拓宽仪器的波长范围，降低基体干扰，提高系统灵敏度，能够实现多领域痕量及常量元素的分析。
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公开(公告)号：CN107101723B
公开(公告)日：2018-05-01
申请号：CN201710442950.3
申请日：2017-06-13
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01J3/443
Abstract: 本发明属于光谱技术领域，特别涉及的一种高分辨率中阶梯光栅光谱仪二维偏差谱图的分析与校正方法。该方法包括如下步骤：步骤一，获得中阶梯光栅光谱仪的二维谱图；步骤二，对获得的二维谱图进行判读；步骤三，反演棱镜参数的偏差量和/或中阶梯光栅参数的偏差量；步骤四，对中阶梯光栅光谱仪的二维偏差谱图进行校正。本发明方法能够实现二维偏差谱图的定性分析及定量计算，同时能够实现二维偏差谱图的校正工作，对二维偏差谱图进行分析并校正后，能够充分发挥中阶梯光栅光谱仪高光谱分辨率、高灵敏度、低检出限等优势，同时该校正方法仅需对装调工装做微小改变，具有操作简单、易于实现等优点。
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公开(公告)号：CN113703120B
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202111036830.6
申请日：2021-09-06
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明提供了一种背靠背双光栅调整装置，属于光谱仪分光系统技术领域。该背靠背双光栅调整装置，包括呈工字形的双光栅底座和设置于双光栅底座下端的双光栅底座调整机构；双光栅底座的左右两端分别设置有第二光栅和第一光栅，第一光栅通过第一光栅固定模块固定于双光栅底座右端，第二光栅通过第二光栅固定模块固定于双光栅底座左端；第二光栅固定模块用于调整第二光栅的姿态，双光栅底座调整机构上的俯仰调节螺钉和倾斜调节螺钉用于调整第一光栅的姿态。本发明提供的背靠背双光栅调整装置，具有调试功能，能够分别实现背靠背双光栅的姿态调试。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113703120A
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN202111036830.6
申请日：2021-09-06
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G02B7/00
Abstract: 本发明提供了一种背靠背双光栅调整装置，属于光谱仪分光系统技术领域。该背靠背双光栅调整装置，包括呈工字形的双光栅底座和设置于双光栅底座下端的双光栅底座调整机构；双光栅底座的左右两端分别设置有第二光栅和第一光栅，第一光栅通过第一光栅固定模块固定于双光栅底座右端，第二光栅通过第二光栅固定模块固定于双光栅底座左端；第二光栅固定模块用于调整第二光栅的姿态，双光栅底座调整机构上的俯仰调节螺钉和倾斜调节螺钉用于调整第一光栅的姿态。本发明提供的背靠背双光栅调整装置，具有调试功能，能够分别实现背靠背双光栅的姿态调试。
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公开(公告)号：CN107941336B
公开(公告)日：2020-05-22
申请号：CN201711063800.8
申请日：2017-11-02
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明属于光学系统设计、光学仪器技术领域，特别是一种双狭缝切换的二维高分辨光谱仪光学系统，包括光源(1)、前置光路(2)、双狭缝切换机构和分光系统；双狭缝切换机构包括可调整的切换棱镜(3)、第一狭缝(4)和第二狭缝(5)，分光系统包括准直镜(7)、分光棱镜(8)、中阶梯光栅(9)、聚焦镜(10)、面阵CCD(11)；从第一狭缝(4)或第二狭缝(5)出射的光束经准直镜(7)准直为平行光束，经分光棱镜(8)、中阶梯光栅(9)、聚焦镜(10)反射聚焦至探测器的面阵CCD(11)，面阵CCD(11)能够分别接收短波波段和长波波段两个波段的光谱信息。该系统具有高光谱分辨率、短波波段系统光通量大、有效缓解衍射级次干扰的优点。
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公开(公告)号：CN108896537A
公开(公告)日：2018-11-27
申请号：CN201810666086.X
申请日：2018-06-26
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
IPC: G01N21/73
Abstract: 本发明属于光谱仪分光系统领域，涉及一种应用于ICP光谱仪的中阶梯光栅光谱仪分光光路结构，该分光光路结构按光束的传播轨迹顺序包括：入射狭缝、用于准直入射光的准直反射镜、棱镜、用于实现高阶色散的中阶梯光栅、用于聚焦各波长平行光束的成像反射镜和用于接收光谱图像信号的面阵探测器；棱镜用于实现光束的交叉色散如下：光束从棱镜的同一侧入射和出射实现双次色散。本发明中阶梯光栅多个衍射级次的交叉色散通过同一棱镜双次色散实现，较之棱镜单次色散或棱镜反射，相同通光口径下光路在宽度上得以压缩；同时，在达到相同色散效果时，棱镜的厚度和楔角大大减小，可减少材料对光的吸收，提高系统的测试灵敏度；测试的短波下限可达165nm。
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公开(公告)号：CN107941336A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201711063800.8
申请日：2017-11-02
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明属于光学系统设计、光学仪器技术领域，特别是一种双狭缝切换的二维高分辨光谱仪光学系统，包括光源(1)、前置光路(2)、双狭缝切换机构和分光系统；双狭缝切换机构包括可调整的切换棱镜(3)、第一狭缝(4)和第二狭缝(5)，分光系统包括准直镜(7)、分光棱镜(8)、中阶梯光栅(9)、聚焦镜(10)、面阵CCD(11)；从第一狭缝(4)或第二狭缝(5)出射的光束经准直镜(7)准直为平行光束，经分光棱镜(8)、中阶梯光栅(9)、聚焦镜(10)反射聚焦至探测器的面阵CCD(11)，面阵CCD(11)能够分别接收短波波段和长波波段两个波段的光谱信息。该系统具有高光谱分辨率、短波波段系统光通量大、有效缓解衍射级次干扰的优点。
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公开(公告)号：CN108181238B
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN201810116151.1
申请日：2018-02-06
Applicant: 钢研纳克检测技术股份有限公司
Abstract: 本发明属于光谱仪分光系统领域，涉及一种光谱仪的中阶梯光栅姿态调整方法和校准装置。本发明的调整方法利用中阶梯光栅的衍射理论，结合分光模块光学系统的具体参数，精确计算中阶梯光栅多个衍射级次的光斑成像在中阶梯光栅姿态调整校准装置上的相对位置，并做出相应标记，据此通过中阶梯光栅固定结构调整中阶梯光栅的三维姿态。本发明的校准装置基于中阶梯光栅衍射理论与光学系统具体参数设计而成，计算精确，易于实现，可操作性强，能够精确实现中阶梯光栅在光谱仪中的姿态调整；同时，该中阶梯光栅姿态调整校准装置装适用性强，当光学系统相关光学参数发生变化时，仅需重新计算设计中阶梯光栅各衍射级次的光斑对应位置即可。
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