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公开(公告)号：CN115266082A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210736384.8
申请日：2022-06-27
Applicant: 重庆大学
IPC: G01M13/02 , G01M13/025 , G01M13/028
Abstract: 本发明公开了用于蜗轮蜗杆副传动可靠性试验的试验装置及试验方法，包括试验台架，另一端设有用于检测蜗杆角位移的第一编码器，所述蜗轮轴上套有与蜗杆相啮合的涡轮，所述蜗轮轴一端设有第一锥齿轮，另一端设有用于检测蜗轮轴角位移的第二编码器，所述齿轮轴靠近蜗轮轴的端部设有与第一锥齿轮相啮合的第二锥齿轮，所述第一联轴器另一端连接有扭矩传感器，所述第二联轴器另一端连接有磁粉制动器；对比后的数据结合第一编码器和第二编码器所监测的回转精度退化数据，以及第一振动传感器和第二振动传感器获取的蜗轮蜗杆啮合运行时其振动的规律，从而对蜗轮蜗杆转动副的可靠性进行评价。
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公开(公告)号：CN115266082B
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202210736384.8
申请日：2022-06-27
Applicant: 重庆大学
IPC: G01M13/02 , G01M13/025 , G01M13/028
Abstract: 本发明公开了用于蜗轮蜗杆副传动可靠性试验的试验装置及试验方法，包括试验台架，另一端设有用于检测蜗杆角位移的第一编码器，所述蜗轮轴上套有与蜗杆相啮合的涡轮，所述蜗轮轴一端设有第一锥齿轮，另一端设有用于检测蜗轮轴角位移的第二编码器，所述齿轮轴靠近蜗轮轴的端部设有与第一锥齿轮相啮合的第二锥齿轮，所述第一联轴器另一端连接有扭矩传感器，所述第二联轴器另一端连接有磁粉制动器；对比后的数据结合第一编码器和第二编码器所监测的回转精度退化数据，以及第一振动传感器和第二振动传感器获取的蜗轮蜗杆啮合运行时其振动的规律，从而对蜗轮蜗杆转动副的可靠性进行评价。
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公开(公告)号：CN115753080B
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN202211528235.9
申请日：2022-11-30
Applicant: 重庆大学
IPC: G01M13/021 , G01M13/028 , G01M13/027 , G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种基于元动作理论的组合齿轮加速寿命试验台及其试验方法，包括试验台架，所述试验台架上设有呈竖直设置的齿条以及磁栅尺，圆柱齿轮轴远离磁粉离合器的端部安装有第一编码器，所述第一锥齿轮轴远离第一锥齿轮的端部安装有第二编码器，所述第二锥齿轮轴远离组合齿轮的端部安装有第三编码器，还包括微处理器，所述第一支架上安装有第一振动传感器，所述第二支架上安装有第二振动传感器，所述齿条支撑托架安装有第三振动传感器，所述磁栅尺、第一编码器、第二编码器、第三编码器、第一振动传感器、第二振动传感器和第三振动传感器分别与微处理器电连接。能够反映组合齿轮在应力循环下的寿命评估。
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公开(公告)号：CN115753080A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211528235.9
申请日：2022-11-30
Applicant: 重庆大学
IPC: G01M13/021 , G01M13/028 , G01M13/027 , G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种基于元动作理论的组合齿轮加速寿命试验台及其试验方法，包括试验台架，所述试验台架上设有呈竖直设置的齿条以及磁栅尺，圆柱齿轮轴远离磁粉离合器的端部安装有第一编码器，所述第一锥齿轮轴远离第一锥齿轮的端部安装有第二编码器，所述第二锥齿轮轴远离组合齿轮的端部安装有第三编码器，还包括微处理器，所述第一支架上安装有第一振动传感器，所述第二支架上安装有第二振动传感器，所述齿条支撑托架安装有第三振动传感器，所述磁栅尺、第一编码器、第二编码器、第三编码器、第一振动传感器、第二振动传感器和第三振动传感器分别与微处理器电连接。能够反映组合齿轮在应力循环下的寿命评估。
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