公开(公告)号：CN1847840A

公开(公告)日：2006-10-18

申请号：CN200610071099.X

申请日：2006-04-05

Applicant: 通用电气公司

Inventor： W·S·麦奈特 ,  V·K·R·科马雷迪 ,  U·W·苏 ,  M·D·戈德博尔 ,  A·N·施拉德 ,  P·沙马 ,  S·T·尚卡拉帕

IPC: G01N27/72 ,  G01N27/90 ,  G01N35/00

CPC classification number: G01N29/226 ,  G01N27/9013 ,  G01N29/265

Abstract: 提供了一种产生用于部件检验的扫描图样的方法。所述方法包括装载所述部件的几何模型(46)并且基于所述几何模型(46)和至少一个扫描参数产生所述部件的扫描图样。还提供了一种检验部件的方法且所述方法包括装载所述部件的几何模型(46)、基于所述几何模型(46)和至少一个扫描参数产生所述部件的扫描图样、将所述部件安装在检验系统控制器上并且检验所述部件，所述检验包括利用所述扫描图样相对于所述部件移动检验探针。

公开(公告)号：CN1576829A

公开(公告)日：2005-02-09

申请号：CN200410063633.3

申请日：2004-07-09

Applicant: 通用电气公司

Inventor： S·T·尚卡拉帕 ,  G·A·莫尔 ,  M·S·迪内斯 ,  B·W·拉休克 ,  R·C·麦克法兰 ,  E·L·迪克松

IPC: G01N21/95 ,  G01N21/84

CPC classification number: G06K9/00 ,  G06K2209/19 ,  G06T7/0004 ,  G06T7/73

Abstract: 一种用于识别被检测零件中的缺陷的系统和方法包括生成该零件的三维表示，这种三维表示包括对应于零件上不同位置的三维空间坐标，并且使三维空间坐标与被检测零件的对应位置对齐。生成被检测零件的图像，以及从生成图像中识别被检测零件中的缺陷。缺陷的位置与相应的三维空间坐标相关，以及控制某个装置利用相应三维空间坐标的信息在缺陷位置上对被检测零件执行操作。

公开(公告)号：CN100476415C

公开(公告)日：2009-04-08

申请号：CN200410063633.3

申请日：2004-07-09

Applicant: 通用电气公司

Inventor： S·T·尚卡拉帕 ,  G·A·莫尔 ,  M·S·迪内斯 ,  B·W·拉休克 ,  R·C·麦克法兰 ,  E·L·迪克松

IPC: G01N21/95 ,  G01N21/84

CPC classification number: G06K9/00 ,  G06K2209/19 ,  G06T7/0004 ,  G06T7/73

Abstract: 一种用于识别被检测零件中的缺陷的系统和方法包括生成该零件的三维表示，这种三维表示包括对应于零件上不同位置的三维空间坐标，并且使三维空间坐标与被检测零件的对应位置对齐。生成被检测零件的图像，以及从生成图像中识别被检测零件中的缺陷。缺陷的位置与相应的三维空间坐标相关，以及控制某个装置利用相应三维空间坐标的信息在缺陷位置上对被检测零件执行操作。