公开(公告)号：CN1847840A

公开(公告)日：2006-10-18

申请号：CN200610071099.X

申请日：2006-04-05

Applicant: 通用电气公司

Inventor： W·S·麦奈特 ,  V·K·R·科马雷迪 ,  U·W·苏 ,  M·D·戈德博尔 ,  A·N·施拉德 ,  P·沙马 ,  S·T·尚卡拉帕

IPC: G01N27/72 ,  G01N27/90 ,  G01N35/00

CPC classification number: G01N29/226 ,  G01N27/9013 ,  G01N29/265

Abstract: 提供了一种产生用于部件检验的扫描图样的方法。所述方法包括装载所述部件的几何模型(46)并且基于所述几何模型(46)和至少一个扫描参数产生所述部件的扫描图样。还提供了一种检验部件的方法且所述方法包括装载所述部件的几何模型(46)、基于所述几何模型(46)和至少一个扫描参数产生所述部件的扫描图样、将所述部件安装在检验系统控制器上并且检验所述部件，所述检验包括利用所述扫描图样相对于所述部件移动检验探针。