一种用于测试定子芯生产质量的夹具和测试方法

    公开(公告)号:CN1275205A

    公开(公告)日:2000-11-29

    申请号:CN99801355.2

    申请日:1999-08-09

    CPC classification number: G01R31/34

    Abstract: 一种用于测试定子生产质量的夹具,它围绕定子芯放置,从而引入一个环绕定子的测试线圈且无需进行手工缠绕。夹具包括一个带有轴向导体的内环和外环,以及带有轴向导体的顶板和底板。芯装配在内外环之间以及顶板和底板之间。内轴向导体和外轴向导体在其下端通过底板导体彼此连接并且在其上端通过顶板导体互相连接。一旦测试结束后夹具很容易被去除。

    用于楔块沉陷较浅或没有楔块沉陷的电气设备的测试探针

    公开(公告)号:CN100437121C

    公开(公告)日:2008-11-26

    申请号:CN200410095700.X

    申请日:2004-11-22

    CPC classification number: G01R1/067 G01R31/34

    Abstract: 一种探针(100),可检测楔块沉陷不超过100密耳的电气设备的异常情况。这种探针包括被检测线圈(104)包围的实心芯部(102)。芯部端部以无接触的间隔关系布置在定子(37、137)相邻叠片齿的相对表面之间并至少一部分位于所述相对表面的上方。在探针芯部端部和所述相对表面之间保持空气隙(108、109)。两个空气隙的总和是不变的。探针支承在滑动架(200、300)上能够沿定子齿移动。激励绕组(31)将定子激励到正常激励水平的百分之几,并对定子产生的漏磁通的变化进行监测。

    用于楔块沉陷较浅或没有楔块沉陷的电气设备的测试探针

    公开(公告)号:CN1619315A

    公开(公告)日:2005-05-25

    申请号:CN200410095700.X

    申请日:2004-11-22

    CPC classification number: G01R1/067 G01R31/34

    Abstract: 一种探针(100),可检测楔块沉陷不超过100密耳的电气设备的异常情况。这种探针包括被检测线圈(104)包围的实心芯部(102)。芯部端部以无接触的间隔关系布置在定子(37、137)相邻叠片齿的相对表面之间并至少一部分位于所述相对表面的上方。在探针芯部端部和所述相对表面之间保持空气隙(108、109)。两个空气隙的总和是不变的。探针支承在滑动架(200、300)上能够沿定子齿移动。激励绕组(31)将定子激励到正常激励水平的百分之几,并对定子产生的漏磁通的变化进行监测。

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