公开(公告)号：CN100437121C

公开(公告)日：2008-11-26

申请号：CN200410095700.X

申请日：2004-11-22

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 李相彬 ,  G·B·克利曼 ,  W·T·摩亚

IPC: G01R1/06 ,  G01R31/02 ,  G01R33/02

CPC classification number: G01R1/067 ,  G01R31/34

Abstract: 一种探针(100)，可检测楔块沉陷不超过100密耳的电气设备的异常情况。这种探针包括被检测线圈(104)包围的实心芯部(102)。芯部端部以无接触的间隔关系布置在定子(37、137)相邻叠片齿的相对表面之间并至少一部分位于所述相对表面的上方。在探针芯部端部和所述相对表面之间保持空气隙(108、109)。两个空气隙的总和是不变的。探针支承在滑动架(200、300)上能够沿定子齿移动。激励绕组(31)将定子激励到正常激励水平的百分之几，并对定子产生的漏磁通的变化进行监测。

公开(公告)号：CN1619315A

公开(公告)日：2005-05-25

申请号：CN200410095700.X

申请日：2004-11-22

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 李相彬 ,  G·B·克利曼 ,  W·T·摩亚

IPC: G01R1/06 ,  G01R31/02 ,  G01R33/02

CPC classification number: G01R1/067 ,  G01R31/34

Abstract: 一种探针(100)，可检测楔块沉陷不超过100密耳的电气设备的异常情况。这种探针包括被检测线圈(104)包围的实心芯部(102)。芯部端部以无接触的间隔关系布置在定子(37、137)相邻叠片齿的相对表面之间并至少一部分位于所述相对表面的上方。在探针芯部端部和所述相对表面之间保持空气隙(108、109)。两个空气隙的总和是不变的。探针支承在滑动架(200、300)上能够沿定子齿移动。激励绕组(31)将定子激励到正常激励水平的百分之几，并对定子产生的漏磁通的变化进行监测。