一种半导体材料β‑SiC薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN106653569A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201611156214.3

    申请日:2016-12-14

    申请人: 贵州大学

    IPC分类号: H01L21/02

    CPC分类号: H01L21/02266 H01L21/02107

    摘要: 本发明提供一种半导体材料β‑SiC薄膜的制备方法,首先,选取普通石墨片或热解石墨为衬底,清洗吹干;然后在衬底上溅射沉积一层Si膜,形成Si/C结构;最后放置于高真空热处理炉中1000℃退火10~14小时获得宽带隙半导体β‑SiC薄膜。与现有技术相比,本发明采用石墨片为衬底,直接以Si靶为靶材,采用磁控溅射法,工艺参数易于控制,且制备的SiC薄膜均匀,重复性良好,解决硅衬底与碳化硅之间存在较大的晶格失配和热膨胀失配,且克服现有技术存在的工艺参数难控制,成本较高,难于大规模生产等缺点。本发明属于半导体薄膜制备技术领域。