一种基于仿真技术获取光纤陀螺变温标度因数的方法

    公开(公告)号:CN113124899A

    公开(公告)日:2021-07-16

    申请号:CN202110308661.0

    申请日:2021-03-23

    IPC分类号: G01C25/00

    摘要: 本发明公开了一种基于仿真技术获取光纤陀螺变温标度因数的方法。该方法的主要步骤为:1、基建立XY平面为光纤环矩形截面,Z轴长度为L的立方体模型;2、计算变温度条件下光纤环的热膨胀系数;3、计算变温条件下光纤环的其他物理参数;4、建立变温条件光纤环封装结构有限元模型,并对有限元模型进行求解;5、计算变温条件时等效光纤直径变形和光纤环内径变形;6、计算变温条件时光纤环长度和光纤环直径;7、计算变温条件下由光纤环变形引起的光纤环陀螺标度因数变化量。采用该方法通过仿真技术实现光纤陀螺标度因数的计算,为光纤陀螺研制提供设计依据,可以有效缩短研制周期、降低成本,提高效率。

    一种光纤陀螺光路熔接性能检测方法

    公开(公告)号:CN110987011A

    公开(公告)日:2020-04-10

    申请号:CN201911284128.4

    申请日:2019-12-13

    IPC分类号: G01C25/00 G01C19/72

    摘要: 本发明属于光纤陀螺熔接性能评价方法,为了解决现有技术中高精度光纤陀螺无法在装配完成后对装配性能进行有效评价的技术问题,提供一种光纤陀螺光路熔接性能评价方法,将光谱仪连接于2*2耦合器与光电探测器之间熔接点,通过光谱仪上显示的图谱判断保偏光纤与保偏光纤之间熔接点是否存在异常,能够在装配完成后对熔接点熔接质量进行有效评价,无需拆除所有器件,可在确定异常熔接点后再对该熔接点重新熔接,本发明的方法简单直观,易于现场测试分析。

    一种光纤环组件及其制作方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116819691A

    公开(公告)日:2023-09-29

    申请号:CN202310774817.3

    申请日:2023-06-28

    IPC分类号: G02B6/293 G02B6/44 G01C19/72

    摘要: 本发明提出了一种光纤环组件及其制作方法,以解决现有技术中无骨架光纤环下表面与粘接胶直接接触,导致固化时存在粘接应力,影响光纤环组件温度性能,其距离安装法兰的距离较远,导致传力路径较长、整体刚度较低、力学性能差的问题。本发明的光纤环组件包括骨架、壳体、圆环上盖和光纤环,骨架为空心圆柱体结构,骨架的外侧圆柱面上由内到外依次绕制有保护层和光纤环;壳体与骨架的外侧圆柱面之间围成一个圆环柱状腔体;保护层和光纤环套设在圆环柱状腔体内;保护层和光纤环的热膨胀系数相同,壳体、圆环上盖与骨架进行固定连接完成整个光纤环组件的密封和磁屏蔽,因此本发明中的光纤环组件具有良好的温度性能和力学性能。

    一种抑制光纤陀螺仪交叉耦合的随机调制及解调方法

    公开(公告)号:CN109631871B

    公开(公告)日:2021-03-09

    申请号:CN201811499749.X

    申请日:2018-12-09

    IPC分类号: G01C19/72

    摘要: 本发明公开了一种抑制光纤陀螺仪交叉耦合的随机调制及解调方法,首先利用随机或伪随机序列生成两组互为反向的镜像调制序列,两个互为镜像的调制序列两两交叉组合形成最终的调制序列;然后对陀螺的光相位进行调制;最后数字中心处理器根据对应的解调序列对光电探测器接收到的电压值进行解调处理,得到陀螺的转速误差,并将误差信号作为闭环回路的反馈信号,从而实现陀螺的闭环控制。该方法通过采用随机数生成调制序列,实现了调制与解调在统计上的去相关,抑制光纤陀螺中的调制信号与解调信号之间的交叉耦合。同时该方法可以在任意整数倍的光纤环渡越时间内实现解调,加快了陀螺闭环的响应,提高了系统的动态性能。

    一种光纤环制备装置及制备方法

    公开(公告)号:CN109631944B

    公开(公告)日:2021-01-12

    申请号:CN201811499747.0

    申请日:2018-12-09

    IPC分类号: G01C25/00

    摘要: 本发明涉及一种光纤环制备装置及制备方法。本发明的使用可实时水平调整光纤环卡槽宽度,在光纤环制备过程中对光纤环内产生的内应力进行释放,使光纤环内产生的内应力分布更加均匀,提高光纤环陀螺精度。该制备装置包括固定座、挡板、骨架、螺杆以及定位销;固定座、挡板相对的两个端面和骨架的外表面围成光纤环卡槽;螺杆包括依次设置的头部、环形卡槽部以及螺纹部;固定座扣装在骨架的一端并通过螺钉固定,挡板扣装在骨架的另一端;所述挡板、骨架以及固定座上沿着中心轴上分别开设有第一通孔、第二通孔以及螺纹孔;螺杆沿轴向依次穿过第一通孔、第二通孔后螺杆的螺纹部与所述螺纹孔螺纹连接;定位销沿径向穿过挡板后卡装在螺杆上。

    一种光纤环模块温度筛选系统及筛选方法

    公开(公告)号:CN111780740B

    公开(公告)日:2022-03-18

    申请号:CN202010582866.3

    申请日:2020-06-23

    IPC分类号: G01C19/72 G01M11/00

    摘要: 本发明公开了一种光纤环模块温度筛选系统及筛选方法,旨在解决现有技术中存在的温箱模拟法评价光纤环模块的温度性能,与光纤环模块实际工作的热环境差异较大,使得光纤环模块的温度性能评价不够全面有效的技术问题。本发明包括包括光纤环模块筛选组件、精密温控电路、光纤环模块测试仪、光纤陀螺测试台、工控计算机;可提前评估其在惯性系统中的温度性能,提供光纤环模块是否具备装入惯性导航系统的依据,进而提高光纤环陀螺生产效率及惯性导航系统装配合格率;另一方面,提前剔除温度性能较差的光纤环模块,规避在惯性导航系统中测试不合格反复返修,有效缩短了装配人员返工返修时间。

    一种光纤陀螺光路熔接性能检测方法

    公开(公告)号:CN110987011B

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN201911284128.4

    申请日:2019-12-13

    IPC分类号: G01C25/00 G01C19/72

    摘要: 本发明属于光纤陀螺熔接性能评价方法,为了解决现有技术中高精度光纤陀螺无法在装配完成后对装配性能进行有效评价的技术问题,提供一种光纤陀螺光路熔接性能评价方法,将光谱仪连接于2*2耦合器与光电探测器之间熔接点,通过光谱仪上显示的图谱判断保偏光纤与保偏光纤之间熔接点是否存在异常,能够在装配完成后对熔接点熔接质量进行有效评价,无需拆除所有器件,可在确定异常熔接点后再对该熔接点重新熔接,本发明的方法简单直观,易于现场测试分析。

    一种密封光纤环组件及其制作与检漏方法

    公开(公告)号:CN110967150A

    公开(公告)日:2020-04-07

    申请号:CN201911277858.1

    申请日:2019-12-11

    IPC分类号: G01M3/20 G02B6/44

    摘要: 本发明涉及一种密封光纤环组件及其制作与检漏方法,旨在解决现有技术中存在的光纤环的密封性较低的问题。本发明提供了一种密封光纤环组件,将光纤环安装于环状盖板与光纤环骨架形成的环状密封腔内,光纤环的尾纤伸入保护套管内,并通过过纤通道引出,尾纤与保护套管之间、保护套管与环状盖板之间、保护套管与骨架内筒之间的间隙内均填充密封胶;由此实现光纤环的密封;本发明还提供了一种密封光纤环组件的制作方法以及一种密封光纤环组件的检漏方法,有效提高光纤环的密封性,进而提高光纤陀螺的环境适应性和长期重复性。

    一种温控式光纤环模块
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110864681A

    公开(公告)日:2020-03-06

    申请号:CN201911275000.1

    申请日:2019-12-12

    IPC分类号: G01C19/72 H05B3/20

    摘要: 本发明涉及一种温控式光纤环模块,目的是为了解决现有技术中存在的到温时间过长、保温电流过大以及光纤环受热不均匀的问题。本发明包括第一导热层、第二导热层、加热片、隔热层;第一导热层设置于光纤环与磁屏蔽骨架的底部之间;第二导热层包括一体设置的内导热层、外导热层、和底导热层;内导热层设置于磁屏蔽骨架的内侧面;外导热层设置于磁屏蔽骨架的外侧面;底导热层设置于磁屏蔽骨架的底部与磁屏蔽外壳的底部之间;加热片位于外导热层外;隔热层包括一体设置的内隔热层、外隔热层和底隔热层;内隔热层设置于内导热层外;外隔热层设置于加热片外以及磁屏蔽骨架的顶面外;底隔热层设置于底导热层与磁屏蔽外壳的底部之间。