公开(公告)号：CN115870222A

公开(公告)日：2023-03-31

申请号：CN202211643151.X

申请日：2022-12-20

Applicant: 西安电子科技大学广州研究院

Inventor： 张大兴 ,  冯兰胜 ,  夏成硕 ,  胡国锋 ,  高宏伟 ,  李鑫 ,  蔡明京

IPC: B07C5/00 ,  B07C5/34 ,  B07C5/02 ,  B07C5/36 ,  B07C5/38

Abstract: 本发明公开了一种铝基片表面缺陷全自动检测装置及检测方法，包括分别固定在底座上的入料轨、出料轨、测量站点和分拣站点；放置有铝基片的料盒经入料轨传送至测量站点测量工位；测量站点通过铝基片夹持装置将经过测量工位的铝基片夹持摆放在仿生相机视场内；通过仿生相机对铝基片表面缺陷识别；分拣站点通过分拣机械手将识别后的表面缺陷铝基片取下放至相对应的缺陷类型料盒中，放置有缺陷类型的铝基片料盒装满后由人工取走更换空料盒；出料轨将经检测后的表面无缺陷铝基片运出。本发明可以自动完成物料传送、缺陷检测和缺陷料自动分拣功能，自动化程度高，可以替代原人工检测方式，效率高，节省人力成本。