一种自对准T型栅的GaN高频器件及制备方法

    公开(公告)号:CN118629868A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202310220045.9

    申请日:2023-03-07

    摘要: 本发明涉及一种自对准T型栅的GaN高频器件及制备方法,包括:获取外延片;在势垒层上生长第一介质层;刻蚀栅极区域的所述第一介质层至暴露所述势垒层的上表面,以形成栅极窗口;在暴露所述沟道层的所述栅极窗口内和所述势垒层上生长第二介质层;刻蚀部分区域的所述第二介质层和该第二介质层正下方的第一介质层,暴露势垒层,以形成两个有源区区域;在有源区区域内进行离子注入,以形成离子注入区域,之后进行退火处理,形成欧姆接触;在势垒层、离子注入区域和T型的第二介质层上生长第一介质层;去除T型的第二介质层,以在栅极窗口和第一介质层上制备T型的栅电极;去除有源区区域处的第一介质层,之后在离子注入区域上生长源电极和漏电极。本发明提高金了属线与半导体之间的对准精度,改善了器件制造精度,性能更加优越。

    一种低欧姆接触GaN基高电子迁移率晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN115985958A

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202211455577.2

    申请日:2022-11-21

    IPC分类号: H01L29/778 H01L21/335

    摘要: 本发明公开了一种低欧姆接触GaN基高电子迁移率晶体管,包括:源极、漏极、栅极和由下至上依次设置的衬底、缓冲层、沟道层、氮化铝势垒层和氮化硅帽层;栅极设置在氮化硅帽层上;源极和漏极均穿过氮化硅帽层延伸至氮化铝势垒层和氮化硅帽层的界面;或者源极和漏极一部分穿过氮化硅帽层延伸至氮化铝势垒层和氮化硅帽层的界面,另一部分穿过氮化硅帽层延伸至氮化铝势垒层内;源极和漏极的材料中含有金属硅化物。本发明还提供一种低欧姆接触GaN基异质结晶体管的制备方法。本发明能够降低基于氮化铝势垒层的射频器件的欧姆接触势垒,有效减小源极和漏极与二维电子气沟道之间的欧姆接触电阻,降低工艺复杂度的同时提高了器件的射频性能。