公开(公告)号：CN117875778A

公开(公告)日：2024-04-12

申请号：CN202410045086.3

申请日：2024-01-11

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 周金柱 ,  樊国壮 ,  高达林 ,  甘宇鹏 ,  林强强 ,  康乐

IPC: G06Q10/0639 ,  G06F30/27 ,  G06F30/367 ,  G06N3/042 ,  G06N3/08 ,  G06N5/022 ,  G06N3/0499 ,  G06N3/0442 ,  G06N3/045 ,  G06N3/047 ,  G06F119/16

Abstract: 本发明提供了一种基于融合模型的微波组件质量管控方法、设备及存储介质。应用于电子制造及测试技术领域，所述方法包括：基于微波组件物理模型、参数化降阶数据模型、基学习器，采用集成学习法，构建混合模型；基于微波组件生产过程的非结构化文本数据，利用知识图谱技术，构建微波组件的知识图谱模型；基于微波组件的知识图谱模型，对混合模型进行审查和验证，生成微波组件物理‑数据‑知识融合模型；基于微波组件物理‑数据‑知识融合模型，进行微波组件质量管控。以此方式，可以实现微波组件制造质量高准确度实时预测及在线调测。