一种微处理器监控方法及系统

    公开(公告)号:CN110032491A

    公开(公告)日:2019-07-19

    申请号:CN201910157634.0

    申请日:2019-03-01

    Abstract: 本发明提供一种微处理器监控方法及系统。所述方法,应用于微处理器,包括:对预设指令序列和预设输入值进行预配置,生成预配置信息;以及,捕获微处理器状态信息;根据所述预配置信息和所述微处理器状态信息生成干扰意见;根据所述干扰意见,生成干扰使能信号;根据所述干扰使能信号,对所述微处理器进行干扰。所述系统包括:预配置模块:用于对预设指令序列和预设输入值进行预配置;状态信息捕获模块:用于捕获微处理器状态信息;干扰意见生成模块:用于根据所述预配置信息和所述微处理器状态信息生成干扰意见;干扰使能信号生成模块:用于根据所述干扰意见,生成干扰使能信号;干扰模块:用于根据所述干扰使能信号,对所述微处理器进行干扰。

    一种微处理器监控方法及系统

    公开(公告)号:CN110032491B

    公开(公告)日:2020-07-31

    申请号:CN201910157634.0

    申请日:2019-03-01

    Abstract: 本发明提供一种微处理器监控方法及系统。所述方法,应用于微处理器,包括:对预设指令序列和预设输入值进行预配置,生成预配置信息;以及,捕获微处理器状态信息;根据所述预配置信息和所述微处理器状态信息生成干扰意见;根据所述干扰意见,生成干扰使能信号;根据所述干扰使能信号,对所述微处理器进行干扰。所述系统包括:预配置模块:用于对预设指令序列和预设输入值进行预配置;状态信息捕获模块:用于捕获微处理器状态信息;干扰意见生成模块:用于根据所述预配置信息和所述微处理器状态信息生成干扰意见;干扰使能信号生成模块:用于根据所述干扰意见,生成干扰使能信号;干扰模块:用于根据所述干扰使能信号,对所述微处理器进行干扰。

    一种集成电路老化失效预警方法及电路

    公开(公告)号:CN111812485A

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN202010524800.9

    申请日:2020-06-10

    Abstract: 本发明涉及一种集成电路老化失效预警方法及电路,该方法包括:对载体电路和预警电路进行老化仿真,获取载体电路失效时预警电路的检测结果,取小于检测结果的值作为失效阈值;将载体电路和预警电路置于同一老化环境中,按照预设的检测频率定期检测,获取预警电路的检测结果;将检测结果与失效阈值进行比较,若检测结果大于或等于失效阈值,则判定载体电路即将老化失效,并产生预警信号;其中,检测结果为预警电路中第一环形振荡器与第二环形振荡器的频率差值,第一环形振荡器与载体电路保持同步老化,第二环形振荡器保持不被老化。本发明的方法,可以实现对载体电路老化失效情况进行有效预警。

Patent Agency Ranking