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公开(公告)号：CN113554636A
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN202110872520.1
申请日：2021-07-30
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明适用于芯片缺陷检测技术领域，提供了一种基于生成对抗网络和计算全息的芯片缺陷检测方法，包括以下步骤：采集无缺陷芯片的物光波振幅与相位信息，对所得数据进行处理得到条纹排序图，然后经过灰度值编码形成灰度计算全息图；将所述灰度计算全息图加载在空间光调制器内并放置在符合设定要求的光路中，通过光衍射作用生成动态的重建全息投影图像；以灰度计算全息图训练GAN网络；将待测芯片灰度计算全息图输入至训练好的GAN网络，输出检测结果，本发明的有益效果是：解决了微型化芯片3D建模和成像问题，而且降低光学过程中的环境因素影响和实际成本，芯片检测具有较快的检测速度。
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公开(公告)号：CN109660285B
公开(公告)日：2021-04-20
申请号：CN201910019933.8
申请日：2019-01-09
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H04B7/0413 , H04B7/06 , H03L7/18
Abstract: 本发明涉及一种MIMO体制中基于共参考的波束赋形实现方法，包括：低频参考源、放大器、功分器、鉴频鉴相器PD、环路滤波LPF、功率VCO、移相器PH、N分频器及天线阵列；其中，低频参考源，用于向收发单元提供低频参考信号；将低频的参考信号通过放大器放大后由功分器分为多路，每一路通过一路锁相环单元后在通过天线阵列进入收发单元；锁相环单元包括鉴频鉴相器PD、环路滤波LPF、功率VCO、N分频器，鉴频鉴相器PD、环路滤波LPF、功率VCO、N分频器依次电连接形成环路，鉴频鉴相器PD输入端是环路的输入端，功率VCO的输出端是环路的输出端，功率VCO的输出端也是鉴频鉴相器PD的控制端。本发明具有硬件电路简单、电路成本低的特点。
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公开(公告)号：CN111751714A
公开(公告)日：2020-10-09
申请号：CN202010528645.8
申请日：2020-06-11
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01R31/316 , G06K9/62
Abstract: 本发明涉及射频模拟电路故障诊断技术，特别是一种基于SVM和HMM的射频模拟电路故障诊断方法,该方法用针对ATF54143为核心的低噪声放大器电路，提取出有效的故障特征信息，对数据特征进行处理，其中包含K-Means算法和支持向量机的结合，减少了HMM的训练时间，解决了HMM在训练过程中对小样本数据在确定最相似模型比较最大似然概率时，有可能出现最大似然概率过于相近或相等存在的误判风险，支持向量机适合处理分类，能够最大程度反映出类别差异。K-Means的引入旨在于对实验数据进行聚类，形成有标签类别的数据，然后放入支持向量机模型，进行更精确的分类。
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公开(公告)号：CN119269918A
公开(公告)日：2025-01-07
申请号：CN202411359646.9
申请日：2024-09-27
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本申请属于电磁环境效应技术领域。本申请提供一种用于通信接口芯片的强电磁脉冲累积效应研究方法。本公开实施例在保证通信接口电路正常收发工作的基础上，设计并搭建了一个适用于多种端口、可重复性高、可测性高、便于观测接口电路强电磁脉冲效应现象、获取对应阈值数据，且能够进一步排查与定位其敏感薄弱环节的小型化试验平台，并提出了累积效应的试验方案，为通信设备接口电路的接口加固防护奠定基础。
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公开(公告)号：CN119232162A
公开(公告)日：2024-12-31
申请号：CN202411279293.1
申请日：2024-09-12
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种改进型级联低噪与低功耗动态比较器，属于集成电路设计领域，包括：包括复位单元连接差分输入放大单元的输出端，对差分输入放大单元的输出端进行复位；差分输入放大单元包括级联输入结构，级联输入结构的控制端连接尾电流源控制单元，级联输入结构的输出端连接锁存单元，用于接收差分输入信号，并对差分输入信号通过所述级联输入结构进行多次放大后得到差分放大信号，将差分放大信号输出至锁存单元；尾电流源控制单元提供稳定电流至所述差分输入放大单元；锁存单元接收所述差分放大信号并建立锁存后输出差分输出信号。本发明能够在实现低噪声的情况下，提高比较速度的同时降低功耗。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113554636B
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202110872520.1
申请日：2021-07-30
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06T7/00 , G06V10/764 , G06V10/774 , G06V10/82 , G06T7/49 , G06N3/045 , G06N3/0475 , G06N3/094
Abstract: 本发明适用于芯片缺陷检测技术领域，提供了一种基于生成对抗网络和计算全息的芯片缺陷检测方法，包括以下步骤：采集无缺陷芯片的物光波振幅与相位信息，对所得数据进行处理得到条纹排序图，然后经过灰度值编码形成灰度计算全息图；将所述灰度计算全息图加载在空间光调制器内并放置在符合设定要求的光路中，通过光衍射作用生成动态的重建全息投影图像；以灰度计算全息图训练GAN网络；将待测芯片灰度计算全息图输入至训练好的GAN网络，输出检测结果，本发明的有益效果是：解决了微型化芯片3D建模和成像问题，而且降低光学过程中的环境因素影响和实际成本，芯片检测具有较快的检测速度。
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公开(公告)号：CN110362881B
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN201910556892.6
申请日：2019-06-25
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F30/367 , G06N3/08
Abstract: 本发明涉及一种微波功率器件输入输出建模技术，特别是基于极限学习机的微波功率器件非线性模型方法,其特征是：至少包括如下步骤：第一步，对微波功率器件搭建电路；第二步，采用ADS仿真工具，在双端口提取电路的X参数样本；第三步，将提取的X参数生成一个包含偏置条件下每一项X参数的XNP文件，将生成的XNP文件中的数据复制保存到Excel表格中，用于下一步建模中的使用；第四步，依据公式，通过ELM网络计算获得隐层与输出层的连接权重；第五步，训练真实数据，使输出结果与真实结果t一致；第六步，求解方程得到ELM的训练过程；第七步，使用最小二乘法求解，使得误差最小化。本发明的建模速度快，并且精度更大，误差更小。
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公开(公告)号：CN112468130A
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN202011192555.2
申请日：2020-10-30
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H03K17/687
Abstract: 本发明公开了一种变压器式单刀双掷开关，包括：输入端口、第一输出端口以及第二输出端口；变压器电路，变压器电路包括由第一电感线圈以及第二电感线圈组成的变压器，变压器电路用于隔离输入端口、第一输出端口以及第二输出端口；晶体管控制电路，晶体管控制电路包括第一控制电路、第二控制电路以及第三控制电路，晶体管控制电路基于第一控制电路的控制电平以及第二控制电路的控制电平，实现输入端口与第一输出端口导通，或者实现输入端口与第二输出端口导通；晶体管控制电路基于第三控制电路的控制电平，控制第一电感线圈的负载。本发明提供的变压器式单刀双掷开关实现了在两种不同的工作状态下均具有低插入损耗且高隔离度的电路性能。
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公开(公告)号：CN105720328A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201610213648.6
申请日：2016-04-07
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H01P1/00
CPC classification number: H01P1/00
Abstract: 本发明涉及一种集成化微波调配器，其特征是：至少包括:可调电容直流偏置电路（1）、传输线（2）、微波开关控制电路（3）、微波开关（4）、可调电容（5）；微波开关（4）和可调电容（5）串联连接在传输线（2）和地电位之间形成支路，多个支路并联在传输线（2）和地电位之间；支路中的可调电容（5）采用不同容值，每个支路中的微波开关（4）控制端与微波开关控制电路（3）电连接；在传输线（2）与地电位之间接有可调电容直流偏置电路（1）。本发明具有体积小、操作控制简单，便于安装使用等特点。
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公开(公告)号：CN103474737A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310364965.4
申请日：2013-08-20
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明涉及毫米波E面滤波器的设计方法，特别是支持向量机对膜片建模的毫米波E面滤波器及膜片建模方法。该支持向量机对膜片建模的毫米波E面滤波器，其特征是，至少包括：矩形波导（1），两个或两个以上的金属膜片（2），矩形波导（1）中间右E面腔；E面腔与矩形波导长度方向平行，其中包含金属膜片（2）；所述金属膜片（2）位于垂直矩形波导E面中央，并与E面平行，相邻金属膜片（2）不等间隔分布，相邻金属膜片在沿矩形波导长度方向一条直线，膜片面与矩形波导长度方向一条直线垂直。本发明大大的提高了滤波器的设计速度和精度，避免了重复使用电磁计算的复杂方法。
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