公开(公告)号：CN113625062A

公开(公告)日：2021-11-09

申请号：CN202110865829.8

申请日：2021-07-29

Applicant: 西安电子科技大学 ,  中国电子科技集团公司第二十研究所

Inventor： 吴凯 ,  许万业 ,  李建伟 ,  赵文忠 ,  周金柱 ,  李鹏 ,  韩冰 ,  司宇 ,  秦强强 ,  马镛基

IPC: G01R29/10

Abstract: 本发明公开了一种基于泰勒展开法的天线罩电性能估计方法，其实现方案为：生成天线罩模型的网格，生成天线罩厚度矩阵和介电常数矩阵，建立天线罩电性能分析模型，估计天线罩厚度和介电常数变化后的电性能，判断天线罩厚度和介电常数变化后的天线电性能是否满足天线电性能设计要求，若是，输出远场方向图和电性能指标，否则，再次生成天线罩厚度矩阵和介电常数矩阵并重复上述过程，直至满足电性能设计要求。本发明通过将天线罩厚度矩阵和介电常数分别代入天线罩电性能分析模型，大幅度减少了计算量，可实现实时估计天线罩厚度和介电常数变化时天线罩的电性能。

公开(公告)号：CN113536645A

公开(公告)日：2021-10-22

申请号：CN202110923928.7

申请日：2021-08-12

Applicant: 中国电子科技集团公司第二十研究所 ,  西安电子科技大学

Inventor： 李建伟 ,  韩冰 ,  周金柱 ,  司宇 ,  谷振玉 ,  赵文忠

IPC: G06F30/23 ,  G06Q10/04 ,  G06F119/14

Abstract: 本发明公开了一种基于高斯过程的带罩反射面天线电性能的快速分析方法，主要解决现有电磁仿真软件计算带罩反射面天线方向图耗时长的问题。其方案是：建立带罩反射面天线力学有限元模型，对其施加风力载荷，记录变形数据；确定带罩反射面天线的不确定性参数和设计区间；取不确定性参数的采样点，对其进行仿真得到矩阵A；对A作正交分解，得到电磁响应的基函数；通过基函数求得展开系数；利用高斯过程建立设计变量与展开系数的对应关系；将基函数和展开系数代入电磁响应预测表达式，得到与设计变量对应的电磁响应曲线。本发明能快速预测出受载带罩反射面天线的方向图，提高计算速度，可用于对带罩反射面天线受风力载荷零部件发生位移时的电性能分析。

公开(公告)号：CN113625062B

公开(公告)日：2022-05-17

申请号：CN202110865829.8

申请日：2021-07-29

Applicant: 西安电子科技大学 ,  中国电子科技集团公司第二十研究所

Inventor： 吴凯 ,  许万业 ,  李建伟 ,  赵文忠 ,  周金柱 ,  李鹏 ,  韩冰 ,  司宇 ,  秦强强 ,  马镛基

IPC: G01R29/10

Abstract: 本发明公开了一种基于泰勒展开法的天线罩电性能估计方法，其实现方案为：生成天线罩模型的网格，生成天线罩厚度矩阵和介电常数矩阵，建立天线罩电性能分析模型，估计天线罩厚度和介电常数变化后的电性能，判断天线罩厚度和介电常数变化后的天线电性能是否满足天线电性能设计要求，若是，输出远场方向图和电性能指标，否则，再次生成天线罩厚度矩阵和介电常数矩阵并重复上述过程，直至满足电性能设计要求。本发明通过将天线罩厚度矩阵和介电常数分别代入天线罩电性能分析模型，大幅度减少了计算量，可实现实时估计天线罩厚度和介电常数变化时天线罩的电性能。

公开(公告)号：CN113708066A

公开(公告)日：2021-11-26

申请号：CN202110958668.7

申请日：2021-08-20

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 周金柱 ,  司宇 ,  李建伟 ,  康乐 ,  问弄鼎 ,  马镛基

IPC: H01Q1/42 ,  H01Q15/00

Abstract: 本发明提出一种嵌入光纤光栅的锥面宽带频选透波天线罩，用于解决现有天线罩系统的电性能易受环境影响恶化的问题。其包括由数层环氧玻璃布复合而成的圆锥面上层蒙皮(1)和下层蒙皮(2)，两层锥面蒙皮之间设有芳纶纸蜂窝夹芯(3)，在下层蒙皮(2)的环氧玻璃布之间设有介质基板(4)，该介质基板(4)上刻蚀有由相同的数个金属贴片单元(5)排列而成的金属图案，每个金属贴片单元采用单谐振宽频带结构，上蒙皮或下蒙皮的环氧玻璃布之间嵌有光纤光栅传感器(6)，使得天线罩能够感知变形位移，将变形位移信息传送到形变补偿系统进行矫正，能在恶劣环境下保证天线正常工作，防止电性能恶化，可用于具有宽带透波和形变监测能力的场景。