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公开(公告)号：CN112115006A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202010822305.6
申请日：2020-08-16
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明属于信号控制与处理技术领域，公开了一种DSP和FPGA的空间辐射效应测试装置及测试方法，DSP和FPGA的空间辐射效应测试装置包括RS485通讯模块、主控制器模块、HPI接口模块、SELECTMAP接口模块、电压电流采集模块、FLASH读写控制模块、信号频率测量模块；通过RS485接口从上位机接收命令，对待测DSP和FPGA的加电顺序控制、电流电压监测、测试程序加载以及功能电路测试，并且将测试结果通过RS485传送至上位机。本发明可实现对供配电、器件电气参数、功能参数、控制计算机运行信号及数据等进行控制、采集、显示、存储的功能，为DSP与FPGA常态测试和辐照效应实验提供测量系统。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112114189B
公开(公告)日：2021-10-19
申请号：CN202010822303.7
申请日：2020-08-16
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01R19/25 , G05B19/042
Abstract: 本发明属于电路电参数处理技术领域，公开了一种基于FPGA控制的电参数测量系统及测量方法，主控单元基于FPGA芯片，控制IIC控制逻辑模块对INA219电参数测量模块进行控制，并提供IIC控制逻辑模块的时钟；IIC控制逻辑模块，为主控单元提供了配置参数与校准参数接口，通过主控单元根据需要改变INA219电参数测量模块的相应参数；INA219电参数测量模块，主要用于测量电压电流，测量的数据经由IIC总线发至IIC控制逻辑模块。本发明在FPGA上实现IIC控制器读取INA219电参数测量模块，完成高精度、高速率、高响应以及高准确性的电参数采样，从而实现电压电流的实时测量。
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公开(公告)号：CN112114189A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202010822303.7
申请日：2020-08-16
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01R19/25 , G05B19/042
Abstract: 本发明属于电路电参数处理技术领域，公开了一种基于FPGA控制的电参数测量系统及测量方法，主控单元基于FPGA芯片，控制IIC控制逻辑模块对INA219电参数测量模块进行控制，并提供IIC控制逻辑模块的时钟；IIC控制逻辑模块，为主控单元提供了配置参数与校准参数接口，通过主控单元根据需要改变INA219电参数测量模块的相应参数；INA219电参数测量模块，主要用于测量电压电流，测量的数据经由IIC总线发至IIC控制逻辑模块。本发明在FPGA上实现IIC控制器读取INA219电参数测量模块，完成高精度、高速率、高响应以及高准确性的电参数采样，从而实现电压电流的实时测量。
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公开(公告)号：CN118294908A
公开(公告)日：2024-07-05
申请号：CN202410255667.X
申请日：2024-03-06
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01S7/41 , G06F17/14 , G06F18/213 , G06N7/02
Abstract: 本发明提供了一种用于高速运动目标精准探测的频率捷变认知波形设计方法，构建具有较强的抗干扰能力的随机频率相干编码波形信号，可以提高在干扰环境下高速目标的探测概率；之后提取出频率认知波形回波，再通过模糊数估计和梯形变换联合处理作运动补偿，基于新的峰值旁瓣差准则评价补偿后的聚焦性能得到速度模糊数的粗评估值，本发明的速度模糊数估计与梯形变换联合处理具有更好的粗速度估计精度和噪声鲁棒性；利用改进的非均匀离散傅里叶变换相干积累方法实现了高速运动目标聚焦，与最大似然估计方法和广义梯形变换方法相比，本发明提出的相干积累方法具有更高的速度去模糊和探测精度以及更低的计算复杂度。
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公开(公告)号：CN112115006B
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202010822305.6
申请日：2020-08-16
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明属于信号控制与处理技术领域，公开了一种DSP和FPGA的空间辐射效应测试装置及测试方法，DSP和FPGA的空间辐射效应测试装置包括RS485通讯模块、主控制器模块、HPI接口模块、SELECTMAP接口模块、电压电流采集模块、FLASH读写控制模块、信号频率测量模块；通过RS485接口从上位机接收命令，对待测DSP和FPGA的加电顺序控制、电流电压监测、测试程序加载以及功能电路测试，并且将测试结果通过RS485传送至上位机。本发明可实现对供配电、器件电气参数、功能参数、控制计算机运行信号及数据等进行控制、采集、显示、存储的功能，为DSP与FPGA常态测试和辐照效应实验提供测量系统。
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公开(公告)号：CN118191729A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410193151.7
申请日：2024-02-21
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01S5/04
Abstract: 本发明提供了一种目标定位方法、系统及存储介质。其中，方法包括：获取所有基站的测量信息，并在所有基站中随机选择一个基站作为主站，其余基站作为辅站；测量信息包括主站与目标之间的角度信息；在角度信息上添加主站的测量误差，得到角度遍历区间；在角度遍历区间之间进行角度遍历，得到角度遍历结果；根据角度遍历结果以及测量信息，计算得到辅站位置距离误差最小时所对应的误差最小角度遍历结果；将误差最小角度遍历结果和测量信息中的主站的测高信息代入坐标求解公式，得到目标实际坐标。在本发明中，以主站为基础在角度遍历区间进行角度遍历，求得误差最小角度遍历结果，根据该结果得到目标实际坐标，提高了对目标的定位精度。
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