-
公开(公告)号：CN112115006B
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202010822305.6
申请日：2020-08-16
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明属于信号控制与处理技术领域，公开了一种DSP和FPGA的空间辐射效应测试装置及测试方法，DSP和FPGA的空间辐射效应测试装置包括RS485通讯模块、主控制器模块、HPI接口模块、SELECTMAP接口模块、电压电流采集模块、FLASH读写控制模块、信号频率测量模块；通过RS485接口从上位机接收命令，对待测DSP和FPGA的加电顺序控制、电流电压监测、测试程序加载以及功能电路测试，并且将测试结果通过RS485传送至上位机。本发明可实现对供配电、器件电气参数、功能参数、控制计算机运行信号及数据等进行控制、采集、显示、存储的功能，为DSP与FPGA常态测试和辐照效应实验提供测量系统。
-
公开(公告)号：CN112114189B
公开(公告)日：2021-10-19
申请号：CN202010822303.7
申请日：2020-08-16
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01R19/25 , G05B19/042
Abstract: 本发明属于电路电参数处理技术领域，公开了一种基于FPGA控制的电参数测量系统及测量方法，主控单元基于FPGA芯片，控制IIC控制逻辑模块对INA219电参数测量模块进行控制，并提供IIC控制逻辑模块的时钟；IIC控制逻辑模块，为主控单元提供了配置参数与校准参数接口，通过主控单元根据需要改变INA219电参数测量模块的相应参数；INA219电参数测量模块，主要用于测量电压电流，测量的数据经由IIC总线发至IIC控制逻辑模块。本发明在FPGA上实现IIC控制器读取INA219电参数测量模块，完成高精度、高速率、高响应以及高准确性的电参数采样，从而实现电压电流的实时测量。
-
公开(公告)号：CN112114189A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202010822303.7
申请日：2020-08-16
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01R19/25 , G05B19/042
Abstract: 本发明属于电路电参数处理技术领域，公开了一种基于FPGA控制的电参数测量系统及测量方法，主控单元基于FPGA芯片，控制IIC控制逻辑模块对INA219电参数测量模块进行控制，并提供IIC控制逻辑模块的时钟；IIC控制逻辑模块，为主控单元提供了配置参数与校准参数接口，通过主控单元根据需要改变INA219电参数测量模块的相应参数；INA219电参数测量模块，主要用于测量电压电流，测量的数据经由IIC总线发至IIC控制逻辑模块。本发明在FPGA上实现IIC控制器读取INA219电参数测量模块，完成高精度、高速率、高响应以及高准确性的电参数采样，从而实现电压电流的实时测量。
-
公开(公告)号：CN113341761A
公开(公告)日：2021-09-03
申请号：CN202110554445.4
申请日：2021-05-20
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G05B17/02
Abstract: 本发明属于数字器件辐照效应模型的建模技术领域，公开了一种CMOS数字集成电路总剂量效应建模方法及系统，所述CMOS数字集成电路总剂量效应建模方法包括：选择或设计原始器件；获得原始器件的IBIS模型数据；提取输入端口的钳位管特性曲线和输出端口的晶体管特性曲线；根据钳位管特性曲线提取二极管模型参数，根据晶体管特性曲线提取MOS管模型参数；根据模型参数建立CMOS数字IC行为‑物理混合模型，并建立CMOS数字IC时序退化模型；根据总剂量效应造成的器件电特性退化，建立CMOS数字IC输出端口总剂量效应模型。本发明建立的模型既能反映CMOS数字器件的逻辑功能，为在辐照条件下进行系统仿真提供模型支持。
-
公开(公告)号：CN113341761B
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202110554445.4
申请日：2021-05-20
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G05B17/02
Abstract: 本发明属于数字器件辐照效应模型的建模技术领域，公开了一种CMOS数字集成电路总剂量效应建模方法及系统，所述CMOS数字集成电路总剂量效应建模方法包括：选择或设计原始器件；获得原始器件的IBIS模型数据；提取输入端口的钳位管特性曲线和输出端口的晶体管特性曲线；根据钳位管特性曲线提取二极管模型参数，根据晶体管特性曲线提取MOS管模型参数；根据模型参数建立CMOS数字IC行为‑物理混合模型，并建立CMOS数字IC时序退化模型；根据总剂量效应造成的器件电特性退化，建立CMOS数字IC输出端口总剂量效应模型。本发明建立的模型既能反映CMOS数字器件的逻辑功能，为在辐照条件下进行系统仿真提供模型支持。
-
公开(公告)号：CN112115006A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202010822305.6
申请日：2020-08-16
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明属于信号控制与处理技术领域，公开了一种DSP和FPGA的空间辐射效应测试装置及测试方法，DSP和FPGA的空间辐射效应测试装置包括RS485通讯模块、主控制器模块、HPI接口模块、SELECTMAP接口模块、电压电流采集模块、FLASH读写控制模块、信号频率测量模块；通过RS485接口从上位机接收命令，对待测DSP和FPGA的加电顺序控制、电流电压监测、测试程序加载以及功能电路测试，并且将测试结果通过RS485传送至上位机。本发明可实现对供配电、器件电气参数、功能参数、控制计算机运行信号及数据等进行控制、采集、显示、存储的功能，为DSP与FPGA常态测试和辐照效应实验提供测量系统。
