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公开(公告)号:CN114824777B
公开(公告)日:2023-06-23
申请号:CN202210569779.3
申请日:2022-05-24
Applicant: 西安交通大学 , 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种镜面单锥天线的圆弧型电路,包括:单锥天线垂直倒立放置在镜像地的中央,匹配负载均匀设置在镜像地的周围,所述匹配负载的一端连接单锥天线的底座上,匹配负载的另一端连接镜像地的边缘上;馈线通过SMA接头连接馈源,所述馈源为电路提供信号;馈线连接单锥天线倒立的顶端和镜像地;单锥天线的母线与镜面地的半径相等;本发明能够改善镜面单锥天线的低频匹配特性及空间场特性,将单锥天线的低频下限拓展至直流。本发明所设计的圆弧型加载镜面单锥天线能够用于高空电磁脉冲、雷电电磁脉冲、超宽带高功率微波等多类型瞬态电磁脉冲传感器的标定,对于复杂电磁环境的测量及电磁环境效应防护的研究具有重要意义。
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公开(公告)号:CN114824777A
公开(公告)日:2022-07-29
申请号:CN202210569779.3
申请日:2022-05-24
Applicant: 西安交通大学 , 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种镜面单锥天线的圆弧型电路,包括:单锥天线垂直倒立放置在镜像地的中央,匹配负载均匀设置在镜像地的周围,所述匹配负载的一端连接单锥天线的底座上,匹配负载的另一端连接镜像地的边缘上;馈线通过SMA接头连接馈源,所述馈源为电路提供信号;馈线连接单锥天线倒立的顶端和镜像地;单锥天线的母线与镜面地的半径相等;本发明能够改善镜面单锥天线的低频匹配特性及空间场特性,将单锥天线的低频下限拓展至直流。本发明所设计的圆弧型加载镜面单锥天线能够用于高空电磁脉冲、雷电电磁脉冲、超宽带高功率微波等多类型瞬态电磁脉冲传感器的标定,对于复杂电磁环境的测量及电磁环境效应防护的研究具有重要意义。
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公开(公告)号:CN119575252A
公开(公告)日:2025-03-07
申请号:CN202411826406.5
申请日:2024-12-12
Applicant: 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院
IPC: G01R31/62
Abstract: 本发明公开了一种低频电力变压器的零异常样本故障诊断方法和系统,属于低频电力变压器运行状态检测技术领域。本发明的一种低频电力变压器的零异常样本故障诊断方法,通过构建声纹片段生成模型、声纹特征提取模型、样本故障诊断模型、零异常样本故障诊断模型,将原始声纹数据进行了预处理,实现了原始声纹数据的降维压缩与特征精准高效提取;同时将声纹多维特征参量矩阵作为模型输入,对样本故障诊断模型进行训练与测试,形成零异常样本故障诊断模型,可实现低频变压器异常声纹样本的高效精准识别,因而可以在零异常样本的情况下,对未见过的声音样本进行准确诊断,其泛化能力强,进而可以实现对低频电力变压器运行状态的精准检测与评估。
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公开(公告)号:CN119534963A
公开(公告)日:2025-02-28
申请号:CN202411654590.X
申请日:2024-11-19
Applicant: 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种零磁通电流传感器和零磁通绝缘漏电流检测方法,属于漏电检测技术领域。本发明的一种零磁通电流传感器,对传感器铁芯、线圈和电路进行设计,通过设置感应铁芯单元、测量线圈单元和检测电路模块,形成一种零磁通闭环反馈式结构,用于对绝缘漏电流进行检测,从而可以实现微弱交直流泄漏电流的测量,结构简单、实用,便于生产制造。进一步,本发明通过设置第一激励线圈、第二激励线圈和补偿线圈,形成一种磁场调制电流反馈补偿结构,并可以达到磁场平衡,进而实现消噪检测,从而使得本发明的传感器具有测量精度高、抗干扰能力强、性能稳定的优点,因而可以实现几百μA~几mA级的微小电流的检测。
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公开(公告)号:CN117907762A
公开(公告)日:2024-04-19
申请号:CN202311737096.5
申请日:2023-12-18
Applicant: 杭州意能电力技术有限公司 , 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种特高频局部放电检测方法及装置,属于特高频局部放电检测技术领域,目的在于克服现有特高频局部放电检测方法难以兼顾较好抑制外部干扰和避免遗漏放电特征峰。检测方法包括以下步骤:将天线放置于屏蔽腔内,然后通过天线来接收送检信号;接收机基于送检信号整个带宽调节频点和带宽,对每个频点都采用特高频窄带检测法进行检测;送检信号转变成数字信号;数据显示终端将所接收到的数字信号进行显示并将所获得的数字信号传回局部放电故障诊断系统;求取时延建立方程,然后对局部放电源的空间定位。该方法与装置可以在整个大带宽内实现每个频点的扫频测试,实现了特高频窄带检测法和特高频宽带检测法优点的兼顾。
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公开(公告)号:CN113884850A
公开(公告)日:2022-01-04
申请号:CN202111098043.4
申请日:2021-09-18
Applicant: 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院 , 浙江大学绍兴微电子研究中心
Inventor: 王异凡 , 龚金龙 , 宋琦华 , 孙明 , 王一帆 , 骆丽 , 王尊 , 刘黎 , 邵先军 , 王少华 , 陈虔 , 曾明全 , 李文燕 , 邓志江 , 张斌 , 林氦 , 郭清 , 陈少华
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种功率半导体特性参数测试系统及方法,属于半导体特性参数测试技术领域。本发明的一种功率半导体特性参数测试系统,包括功率主回路、双脉冲测试电路、电感阻隔电路。本发明设置辅助功率半导体对待测功率半导体的导通时间以及电路通断进行控制,并在功率半导体两端设置吸收电容,能够有效阻隔母线电容到测试半桥之间的部分寄生电感;同时功率主回路采用叠层母排结构进行设置,通过较小的回路面积大大降低了杂散电感,能够以更低的电压实现高电流承载。进而本发明能够有效减小电压过冲叠加以及开关损耗,同时能有效避免电磁干扰,使得本发明特别适用于对第三代半导体高压SiC功率器件进行高精度的动态特性参数测试。
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公开(公告)号:CN110926762B
公开(公告)日:2021-08-27
申请号:CN201911157148.5
申请日:2019-11-22
Applicant: 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统及方法。本发明的检测系统,其包括光源、积分球、光功率计和计算控制系统;所述的积分球设有一个入光口和两个出光口,所述的入光口与光源连接,一个出光口用于与待测设备连接,另一个出光口与光功率计连接;所述的计算控制系统,其包括光源控制单元,光功率计数据采集、处理、显示单元和校验处理单元;所述的校验处理单元,通过分析待测设备光子数和光功率计的数据,选择光子数评价标准,评估待测设备的带外抑制能力。本发明检测系统构造简单,对检测环境要求低,对检测人员要求低,便于广泛普及应用。
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公开(公告)号:CN109557429B
公开(公告)日:2021-08-27
申请号:CN201811320158.1
申请日:2018-11-07
Applicant: 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
Inventor: 王异凡 , 王一帆 , 龚金龙 , 刘江明 , 孙正竹 , 马涛 , 夏晓波 , 杜赟 , 楼钢 , 徐翀 , 朱亮 , 毛永铭 , 黄继来 , 周迅 , 盛骏 , 吴胥阳 , 吴尊东 , 汪桢毅 , 饶海伟
IPC: G01R31/12
Abstract: 本发明公开了一种基于改进小波阈值去噪的GIS局部放电故障检测方法。本发明的方法包括以下步骤:将特高频传感器检测到的数据进行小波变换,选用dB4母小波对传感器检测数据进行4层分解,得到各尺度下的小波系数;小波分解系数阈值量化,阈值选定后,去除小于阈值的小波系数,将大于阈值的小波系数进行阈值函数处理,进而得到阈值函数处理后的各层系数;通过小波逆变换将处理后的各层系数进行信号重构,从而实现小波去噪。本发明与传统的软、硬阈值降噪算法相比,降噪后不仅进一步提高了信噪比,而且降低了方差,使得处理后的信号波形更为逼近原始局部放电信号,有利于后续进行放电缺陷类型的识别。
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公开(公告)号:CN112986782A
公开(公告)日:2021-06-18
申请号:CN202110202946.6
申请日:2021-02-23
Applicant: 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院 , 浙江大学绍兴微电子研究中心 , 国网浙江桐乡市供电有限公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及功率半导体特性参数测试技术领域,提供了一种功率半导体特性参数测试系统,包括低压仪表设备单元、低压控制单元、高压仪表设备单元、高压控制单元、器件适配单元和测试主控单元;低压控制单元包括低压项目相关部件和继电器组;继电器组分别设于低压项目相关部件、低压仪表设备单元和待测功率器件之间并根据不同类型的低压参数测试项目预设对应的导通状态;继电器组按照预设导通状态使低压项目相关部件、低压仪表设备单元和待测功率器件之间切换连接状态以形成与测试项目对应的测试电路;将低压测试项目的测试电路整合到一起,通过继电器组,可以更改测试连接方式,自动实现不同测试项目的切换。
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公开(公告)号:CN109799072A
公开(公告)日:2019-05-24
申请号:CN201910068951.5
申请日:2019-01-24
Applicant: 国网浙江省电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种多光谱紫外成像光学性能检测系统和检测方法。目前尚未有成熟的关于双光路、多光谱光学系统光学性能检测的设备和方法。本发明的一种多光谱紫外成像光学性能检测系统,包括一个多谱段光源、一个平行光管和一个多维度转台,所述的多谱段光源包含紫外、可见和红外波段的光;所述的平行光管内部采用折返式光学系统,用于实现折返式光路,所述的折返式光学系统包括位于平行光管内部两侧的多面曲率不同反光镜,多谱段光源发出的光线进入平行光管内,经折返式光路后平行射出;所述的多维度转台置于平行光管前端,实现多维度转动。本发明可在同一系统中实现多光谱光学系统的光学性能检测,为多光谱光学系统性能检测提供方案。
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