一种镜面单锥天线的圆弧型电路

    公开(公告)号:CN114824777B

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202210569779.3

    申请日:2022-05-24

    Abstract: 本发明公开了一种镜面单锥天线的圆弧型电路,包括:单锥天线垂直倒立放置在镜像地的中央,匹配负载均匀设置在镜像地的周围,所述匹配负载的一端连接单锥天线的底座上,匹配负载的另一端连接镜像地的边缘上;馈线通过SMA接头连接馈源,所述馈源为电路提供信号;馈线连接单锥天线倒立的顶端和镜像地;单锥天线的母线与镜面地的半径相等;本发明能够改善镜面单锥天线的低频匹配特性及空间场特性,将单锥天线的低频下限拓展至直流。本发明所设计的圆弧型加载镜面单锥天线能够用于高空电磁脉冲、雷电电磁脉冲、超宽带高功率微波等多类型瞬态电磁脉冲传感器的标定,对于复杂电磁环境的测量及电磁环境效应防护的研究具有重要意义。

    一种镜面单锥天线的圆弧型电路

    公开(公告)号:CN114824777A

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN202210569779.3

    申请日:2022-05-24

    Abstract: 本发明公开了一种镜面单锥天线的圆弧型电路,包括:单锥天线垂直倒立放置在镜像地的中央,匹配负载均匀设置在镜像地的周围,所述匹配负载的一端连接单锥天线的底座上,匹配负载的另一端连接镜像地的边缘上;馈线通过SMA接头连接馈源,所述馈源为电路提供信号;馈线连接单锥天线倒立的顶端和镜像地;单锥天线的母线与镜面地的半径相等;本发明能够改善镜面单锥天线的低频匹配特性及空间场特性,将单锥天线的低频下限拓展至直流。本发明所设计的圆弧型加载镜面单锥天线能够用于高空电磁脉冲、雷电电磁脉冲、超宽带高功率微波等多类型瞬态电磁脉冲传感器的标定,对于复杂电磁环境的测量及电磁环境效应防护的研究具有重要意义。

    一种零磁通电流传感器和零磁通绝缘漏电流检测方法

    公开(公告)号:CN119534963A

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202411654590.X

    申请日:2024-11-19

    Abstract: 本发明公开了一种零磁通电流传感器和零磁通绝缘漏电流检测方法,属于漏电检测技术领域。本发明的一种零磁通电流传感器,对传感器铁芯、线圈和电路进行设计,通过设置感应铁芯单元、测量线圈单元和检测电路模块,形成一种零磁通闭环反馈式结构,用于对绝缘漏电流进行检测,从而可以实现微弱交直流泄漏电流的测量,结构简单、实用,便于生产制造。进一步,本发明通过设置第一激励线圈、第二激励线圈和补偿线圈,形成一种磁场调制电流反馈补偿结构,并可以达到磁场平衡,进而实现消噪检测,从而使得本发明的传感器具有测量精度高、抗干扰能力强、性能稳定的优点,因而可以实现几百μA~几mA级的微小电流的检测。

    一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统及方法

    公开(公告)号:CN110926762B

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN201911157148.5

    申请日:2019-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种紫外成像仪带外抑制能力的检测系统及方法。本发明的检测系统,其包括光源、积分球、光功率计和计算控制系统;所述的积分球设有一个入光口和两个出光口,所述的入光口与光源连接,一个出光口用于与待测设备连接,另一个出光口与光功率计连接;所述的计算控制系统,其包括光源控制单元,光功率计数据采集、处理、显示单元和校验处理单元;所述的校验处理单元,通过分析待测设备光子数和光功率计的数据,选择光子数评价标准,评估待测设备的带外抑制能力。本发明检测系统构造简单,对检测环境要求低,对检测人员要求低,便于广泛普及应用。

    一种多光谱紫外成像光学性能检测系统和检测方法

    公开(公告)号:CN109799072A

    公开(公告)日:2019-05-24

    申请号:CN201910068951.5

    申请日:2019-01-24

    Abstract: 本发明公开了一种多光谱紫外成像光学性能检测系统和检测方法。目前尚未有成熟的关于双光路、多光谱光学系统光学性能检测的设备和方法。本发明的一种多光谱紫外成像光学性能检测系统,包括一个多谱段光源、一个平行光管和一个多维度转台,所述的多谱段光源包含紫外、可见和红外波段的光;所述的平行光管内部采用折返式光学系统,用于实现折返式光路,所述的折返式光学系统包括位于平行光管内部两侧的多面曲率不同反光镜,多谱段光源发出的光线进入平行光管内,经折返式光路后平行射出;所述的多维度转台置于平行光管前端,实现多维度转动。本发明可在同一系统中实现多光谱光学系统的光学性能检测,为多光谱光学系统性能检测提供方案。

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