公开(公告)号：CN110989758A

公开(公告)日：2020-04-10

申请号：CN201911312751.6

申请日：2019-12-18

Applicant: 西安交通大学 ,  北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 王红义 ,  王竞成 ,  张海峰 ,  刘沛 ,  张国和

IPC: G05F1/567

Abstract: 本发明公开了一种带高阶补偿电路的基准源电路结构，包括：pnp型三极管Q1、Q2、Q3、Q4、Q5，p型MOS管M1、M2、M3、M4、M5、M6、M7、M8，n型MOS管M9，M10，电阻R1、R2、R3，以及单端输出运放A1；p型MOS管M1、M2、M3，单端输出运放A1，电阻R1，以及pnp型三极管Q1、Q2、Q3、Q4构成正温度系数电流产生电路，用于产生包含一阶项和高阶项的电流；其中，Q1并联在Q2上，Q3并联在Q4；p型MOS管M5、M6、M7、M8、M9、M10，电阻R3，以及pnp型三极管Q5构成零温度系数电流产生电路，用于为Q3提供电流偏置；p型MOS管M4，电阻R2，以及pnp型三极管Q5构成输出支路，用于输出基准电压。本发明的结构设计简便且温度系数较低。

公开(公告)号：CN110989758B

公开(公告)日：2021-08-13

申请号：CN201911312751.6

申请日：2019-12-18

Applicant: 西安交通大学 ,  北京智芯微电子科技有限公司

Inventor： 王红义 ,  王竞成 ,  张海峰 ,  刘沛 ,  张国和

IPC: G05F1/567

Abstract: 本发明公开了一种带高阶补偿电路的基准源电路结构，包括：pnp型三极管Q1、Q2、Q3、Q4、Q5，p型MOS管M1、M2、M3、M4、M5、M6、M7、M8，n型MOS管M9，M10，电阻R1、R2、R3，以及单端输出运放A1；p型MOS管M1、M2、M3，单端输出运放A1，电阻R1，以及pnp型三极管Q1、Q2、Q3、Q4构成正温度系数电流产生电路，用于产生包含一阶项和高阶项的电流；其中，Q1并联在Q2上，Q3并联在Q4；p型MOS管M5、M6、M7、M8、M9、M10，电阻R3，以及pnp型三极管Q5构成零温度系数电流产生电路，用于为Q3提供电流偏置；p型MOS管M4，电阻R2，以及pnp型三极管Q5构成输出支路，用于输出基准电压。本发明的结构设计简便且温度系数较低。

公开(公告)号：CN111190452A

公开(公告)日：2020-05-22

申请号：CN202010010397.8

申请日：2020-01-06

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 王红义 ,  王竞成 ,  惠静妮 ,  黄碧云 ,  刘沛 ,  张国和

IPC: G05F1/567

Abstract: 本发明公开了一种基准电路芯片温度系数的测试方法，包括以下步骤：步骤1，将保护二极管反偏设置，使得基准电路芯片正常工作；在室温下测试基准电路芯片的输出电压；步骤2，将保护二极管正偏设置，通过保护二极管加热基准电路芯片至预设温度；将保护二极管反偏设置，使得基准电路芯片正常工作，测试预设温度下基准电路芯片的输出电压，绘制获得输出电压温度系数曲线；其中，预设温度的取值范围为27℃～85℃。本发明测试方法简单，对测试仪器要求较低，测试结果可靠性高。