一种高可靠性的砷化镓光导开关及其制备方法

    公开(公告)号:CN116469953A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202310460205.7

    申请日:2023-04-25

    Abstract: 本发明公开了一种高可靠性的砷化镓光导开关及其制备方法,该光导开关包括SI‑GaAs衬底,SI‑GaAs衬底的两侧相对的表面均设有n+‑GaAs层,n+‑GaAs层上设有欧姆金属电极,两处欧姆金属电极分别作为砷化镓光导开关的阳极和阴极,两处欧姆金属电极的表面均设有外接电极;SI‑GaAs衬底的表面设有钝化层,钝化层在欧姆金属电极正对的位置设有裸露区域,欧姆金属电极的表面钝化层的裸露区域处设有外接电极;欧姆金属电极包括依次堆叠设置的Pd层、Ge层、Ti层、Pt层和Au层,其中,Pd层设置于n+‑GaAs层的表面。本发明能够提高GaAs PCSS寿命和可靠性,能够解决现有GaAs PCSS由电极边缘电场集中、热累积引起电极烧蚀、脱落,最终导致器件失效的问题。

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