一种样品残余应力检测方法

    公开(公告)号:CN114659692A

    公开(公告)日:2022-06-24

    申请号:CN202210388989.2

    申请日:2022-04-14

    IPC分类号: G01L5/00 G01L1/25

    摘要: 本发明给出了一种样品残余应力检测方法,包括:在待测样品上确定多个待测点并进行标记;从多个待测点中选取一个待测点为待测基准点;将待测样品放置在样品调节支架上,通过样品调节支架,以获取探测器在待测基准点的样品残余应力检测过程中的第一探测角和第一探测焦距;根据待测基准点以及其它待测点,确定各个其它待测点的角度补偿值和焦距补偿值,以得到探测器在各个其它待测点的样品残余应力检测过程中的第二探测角和第二探测焦距;采用第二探测角和第二探测焦距,对待测样品上的各个待测点的样品残余应力进行连续检测。本发明能够实现复杂外形的待测样品的残余应力的连续检测,检测效率高,且操作简单。

    一种样品残余应力检测方法

    公开(公告)号:CN114659692B

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202210388989.2

    申请日:2022-04-14

    IPC分类号: G01L5/00 G01L1/25

    摘要: 本发明给出了一种样品残余应力检测方法,包括:在待测样品上确定多个待测点并进行标记;从多个待测点中选取一个待测点为待测基准点;将待测样品放置在样品调节支架上,通过样品调节支架,以获取探测器在待测基准点的样品残余应力检测过程中的第一探测角和第一探测焦距;根据待测基准点以及其它待测点,确定各个其它待测点的角度补偿值和焦距补偿值,以得到探测器在各个其它待测点的样品残余应力检测过程中的第二探测角和第二探测焦距;采用第二探测角和第二探测焦距,对待测样品上的各个待测点的样品残余应力进行连续检测。本发明能够实现复杂外形的待测样品的残余应力的连续检测,检测效率高,且操作简单。