一种半导体材料复介电函数确定方法

    公开(公告)号:CN112304895A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN202011304234.7

    申请日:2020-11-19

    Abstract: 本发明涉及一种半导体材料复介电函数确定方法,首先根据参考信号(空气)和待测半导体的THz‑TDS确定待测半导体的近似复折射率,并进一步评估待测半导体对太赫兹(THz)吸收的强弱。当吸收较弱时,待测半导体的近似复折射率即为理论复折射率;当吸收较强时,通过建立理论复传输函数和实验复传输函数的误差函数,并利用MATLAB中的全局优化函数GlobalSearch进行优化计算,确定使误差函数值最小的理论复折射率。最后,通过复折射率与复介电函数之间的转换关系确定待测半导体的复介电函数。该方法操作流程清晰,分析结果准确可靠,适用于确定各种在THz波段有透过性能的半导体材料的复介电函数。

    在碲化锌表面制备聚苯乙烯微球阵列的方法

    公开(公告)号:CN110591114B

    公开(公告)日:2021-12-31

    申请号:CN201910876631.2

    申请日:2019-09-17

    Abstract: 本发明公开了一种在碲化锌表面制备聚苯乙烯微球阵列的方法,用于解决现有方法在碲化锌表面制备的聚苯乙烯微球阵列覆盖率低的技术问题。技术方案是首先将旋涂基底置于偏离旋涂中心的位置,以达到减小基底材料上各处所受离心力差异的目的,从宏观角度改善聚苯乙烯微球的分布形貌;再利用SDS作为表面活性剂,利用SDS在水溶液中电离所产生的离子基团使得聚苯乙烯微球表面带负电荷,从而增大聚苯乙烯微球之间的斥力,使得在旋涂过程中能够较好的发生自组装,调控SDS浓度参数,获得适合于制备ZnTe材料表面规则聚苯乙烯微球阵列的浓度参数;最后调控旋涂参数,获得更大面积的规则聚苯乙烯微球阵列的制备。

    在碲化锌表面制备聚苯乙烯微球阵列的方法

    公开(公告)号:CN110591114A

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201910876631.2

    申请日:2019-09-17

    Abstract: 本发明公开了一种在碲化锌表面制备聚苯乙烯微球阵列的方法,用于解决现有方法在碲化锌表面制备的聚苯乙烯微球阵列覆盖率低的技术问题。技术方案是首先将旋涂基底置于偏离旋涂中心的位置,以达到减小基底材料上各处所受离心力差异的目的,从宏观角度改善聚苯乙烯微球的分布形貌;再利用SDS作为表面活性剂,利用SDS在水溶液中电离所产生的离子基团使得聚苯乙烯微球表面带负电荷,从而增大聚苯乙烯微球之间的斥力,使得在旋涂过程中能够较好的发生自组装,调控SDS浓度参数,获得适合于制备ZnTe材料表面规则聚苯乙烯微球阵列的浓度参数;最后调控旋涂参数,获得更大面积的规则聚苯乙烯微球阵列的制备。

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