可减小CT重构图像中伪影的方法

    公开(公告)号:CN111476734B

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202010275279.X

    申请日:2020-04-09

    IPC分类号: G06T5/00 G06T11/00

    摘要: 本说明书提供一种可减小CT重构图像中伪影的方法,用于直边相交结构件的检测,方法包括:组合直边相交结构件和补偿块,形成待扫描件;对待扫描件进行CT断层扫描,形成重构图像;其中:补偿块包括分别与直边相交结构件的两个相交平面贴合的接触平面;组合直边相交结构件和补偿块而形成待扫描件后,接触平面分别与两个相交平面贴合。相比于不增加补偿块的情况,在进行CT扫描时,在某些特殊扫描角度时(例如大体平行于相交平面的角度),相邻两个角度下X射束穿透厚度)差值减小,X线束中的低中频谱部分的相对差别变小,能量强度差别减小,所以相对地能够减小图像重构时因为射束强度和频段能量变化而形成的伪影现象。

    一种变厚度泡沫夹层构件的泡沫粘接质量检测方法

    公开(公告)号:CN111650217B

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202010496373.8

    申请日:2020-06-03

    IPC分类号: G01N21/95 G01N21/88 G01N21/45

    摘要: 本发明公开了一种变厚度泡沫夹层构件的泡沫粘接质量检测方法,属于无损检测技术领域,解决了现有技术中变厚度泡沫夹层构件的泡沫粘接质量不好检测的问题。检测方法包括如下步骤:加工阶梯对比试块;将待测变厚度泡沫夹层构件划分检测区域,并依次编上序号Si;确定阶梯对比试块的泡沫厚度最小值Ds和最大值DM;将阶梯对比试块中的第s块至第M块挑选出来进行组合;采用泡沫夹层构件粘接质量检测系统进行检测,确定能够检测出缺陷的检测参数;采用与验证阶梯对比试块相同的检测参数,完成待测变厚度泡沫夹层构件Si区域的检测。本发明的检测方法能够用来实现变厚度泡沫夹层构件的泡沫粘接质量检测。

    一种超声干耦合滚轮探头及检测方法

    公开(公告)号:CN115541707A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202110741511.9

    申请日:2021-06-30

    摘要: 本发明涉及一种超声干耦合滚轮探头及检测方法,属于无损检测技术领域,解决了现有技术中无法采用单侧单探头检测且无法检测纵向裂纹缺陷的问题。本发明提供了一种超声干耦合滚轮探头,包括平行且端部相邻设置的第一晶片和第二晶片;第一晶片设置有分层缺陷检测区域和裂纹缺陷检测区域;第一晶片的裂纹缺陷检测区域靠近被检件侧设有第一楔块,第二晶片靠近被检件侧设有第二楔块;第一晶片的分层缺陷检测区域的超声信号用于检测被检件的分层缺陷,第一晶片的裂纹缺陷检测区域和第二晶片的超声信号用于检测被检件的裂纹缺陷,实现了单次单侧单探头快速、准确地超声检测出复合材料天线罩分层和裂纹缺陷。

    一种复合材料天线罩的超声检测装置

    公开(公告)号:CN115541706A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202110741428.1

    申请日:2021-06-30

    摘要: 本发明涉及一种复合材料天线罩的超声检测装置,属于无损检测技术领域,解决了现有技术中无法采用单侧单探头检测、无法检测纵向裂纹缺陷等问题。本发明提供的复合材料天线罩的超声检测装置包括探头和多通道超声检测仪;探头包括平行且端部相邻设置的第一晶片和第二晶片;第一晶片包括分层缺陷检测区域和裂纹缺陷检测区域;第一晶片的裂纹缺陷检测区域和第二晶片靠近被检件侧分别设置有第一楔块和第二楔块;第一晶片的分层缺陷检测区域的超声信号用于检测被检件的分层缺陷,第一晶片的裂纹缺陷检测区域和第二晶片的超声信号用于检测被检件的裂纹缺陷。本发明实现了单次单侧单探头快速、准确地超声检测出复合材料天线罩分层和裂纹缺陷。

    隔热材料分层缺陷试块、制备标定方法和灵敏度测试方法

    公开(公告)号:CN117451755A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202210845294.2

    申请日:2022-07-19

    摘要: 本发明涉及一种隔热材料分层缺陷试块、制备标定方法和灵敏度测试方法,属于材料检测领域,解决了现有的隔热材料难以在成型过程中在内部精确预置分层缺陷的问题。试块包括基体,基体的上表面设置有一个或多个槽,槽包括上表面开口和一个侧面开口,基体的上表面设置有与基体匹配的基体盖板;每个槽内有与槽匹配的堵块,每个堵块的上方对应设置堵块盖板,堵块盖板边缘与基体盖板上表面有重叠,堵块盖板与基体盖板通过螺栓连接,堵块盖板与基体盖板之间设置弹性垫片;堵块的高度不小于槽的深度、基体盖板的厚度与弹性垫片的厚度之和,堵块下表面与槽底面之间有间隙。该试块分层间隙厚度精确且可调。

    可减小CT重构图像中伪影的方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111476734A

    公开(公告)日:2020-07-31

    申请号:CN202010275279.X

    申请日:2020-04-09

    IPC分类号: G06T5/00 G06T11/00

    摘要: 本说明书提供一种可减小CT重构图像中伪影的方法,用于直边相交结构件的检测,方法包括:组合直边相交结构件和补偿块,形成待扫描件;对待扫描件进行CT断层扫描,形成重构图像;其中:补偿块包括分别与直边相交结构件的两个相交平面贴合的接触平面;组合直边相交结构件和补偿块而形成待扫描件后,接触平面分别与两个相交平面贴合。相比于不增加补偿块的情况,在进行CT扫描时,在某些特殊扫描角度时(例如大体平行于相交平面的角度),相邻两个角度下X射束穿透厚度)差值减小,X线束中的低中频谱部分的相对差别变小,能量强度差别减小,所以相对地能够减小图像重构时因为射束强度和频段能量变化而形成的伪影现象。

    一种基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法

    公开(公告)号:CN110956659A

    公开(公告)日:2020-04-03

    申请号:CN201911202192.3

    申请日:2019-11-29

    摘要: 本发明涉及一种基于工业CT的环状截面壁厚快速测量方法,属于无损检测技术领域,解决现有回转腔体构件壁厚测量过程中无法获得回转腔体构件壁厚的最大、最小值问题。本发明的测量方法步骤包括:步骤1:获取回转腔体构件的圆环截面,对图像区域划分;步骤2:确定圆环截面的圆心坐标;步骤3:计算圆环截面的最大半径Rmax,绘制虚拟圆;步骤4:计算虚拟圆中任一点的像素距离,求取任一点的实际壁厚。本发明通过工业CT成像设备获取待测位置圆形截面,利用两条弦线获取圆环截面的圆心坐标,在保证不损伤被测构件的前提下,求取回转腔体构件壁厚的最大值和最小值,原理简单、计算量小、运行算速度快。

    非金属与金属粘接质量的干耦合板波检测方法及装置

    公开(公告)号:CN110749651A

    公开(公告)日:2020-02-04

    申请号:CN201911034155.6

    申请日:2019-10-25

    摘要: 本发明涉及一种非金属与金属粘接质量的干耦合板波检测方法及装置,属于无损检测技术领域,解决非金属与金属粘接结构必须使用耦合剂和无法从复合材料一侧检测的问题;方法包括顺序连接计算机、数据采集卡、超声仪和干耦合超声探头组成干耦合板波检测装置;制作对比试块,采用干耦合板波检测装置对对比试块进行探测,调节超声仪的增益,使超声仪的检测灵敏度符合设定要求;采用调节好检测灵敏度的干耦合板波检测装置,对被检件进行扫查,探测并确定所述被检件的脱粘缺陷位置和边界。本发明不使用耦合剂,可从复合材料侧对复合材料与金属粘接结构粘接质量进行快速、高可靠性的检测,有效地保障复合材料与金属制品粘接质量和使用安全性。

    一种变厚度材料缺陷超声C扫检测方法

    公开(公告)号:CN108519443A

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201810336337.8

    申请日:2018-04-16

    IPC分类号: G01N29/44

    摘要: 本发明涉及一种变厚度材料缺陷超声C扫检测方法,包括如下步骤:根据被检件的外形,规划探头的扫查路径,使探头到被检件表面的距离相同;根据被检件的超声衰减系数和厚度确定超声波探伤仪的检测灵敏度;对被检件进行超声C扫检测,得到被检件的C扫灰度图像;计算被检件C扫灰度图像不同厚度处的补偿值,对C扫灰度图像进行灰度值补偿处理,得到补偿后的C扫图,根据C扫图进行缺陷判定;所述补偿值按照如下公式进行计算: 其中,kx为补偿值,α为被检件的超声衰减系数,dx为检测处的材料厚度,d0为被检件最薄处的厚度。用本发明提供的方法检测变厚度复合材料具有准确性高和效率高的优点。