基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样

    公开(公告)号:CN113571120B

    公开(公告)日:2025-03-28

    申请号:CN202110472020.9

    申请日:2021-04-29

    Abstract: 本公开涉及基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样。以操作方式与存储器装置耦合的处理装置配置成对所述存储器装置的数据单元进行第一编程擦除循环PEC,其中进行所述第一PEC包括扫描所述数据单元的多个页中的第一组页以确定第一错误率。所述处理装置还基于所述第一错误率和第二错误率来确定所述数据单元的错误率变化的第一型式。所述处理装置接着比较所述数据单元的所述错误率变化的第一型式与指示缺陷的错误率变化的预定型式。响应于确定所述错误率变化的第一型式对应于所述错误率变化的预定型式,所述处理装置进行与关于所述数据单元的缺陷修复有关的动作。

    使用与存储器子系统相关联的错误控制成功率实施粘性读取

    公开(公告)号:CN113168884B

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN201980080070.3

    申请日:2019-10-30

    Abstract: 可基于与使用特定参数的多个错误控制操作相关联的阈值成功率来确定存储器子系统在目标操作特性内操作。当确定所述存储器子系统在所述目标操作特性内操作时,通过使用所述特定参数执行后续读取操作来进入粘性读取模式。确定在所述粘性读取模式期间使用所述特定参数针对至少第一阈值数目的读取操作触发额外错误控制操作。当确定在所述粘性读取模式期间使用所述特定参数针对至少所述第一阈值数目的读取操作触发所述额外错误控制操作时,通过使用与所述存储器子系统相关联的默认参数执行进一步的读取操作而退出所述粘性读取模式。

    读取干扰扫描合并
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113168875B

    公开(公告)日:2024-01-12

    申请号:CN201980077691.6

    申请日:2019-10-23

    Abstract: 存储器系统中的处理装置确定存储器组件的第一平面上的第一数据块的第一读取计数满足第一阈值准则。所述处理装置进一步确定所述存储器组件的第二平面上的第二数据块的第二读取计数是否满足第二阈值准则,其中所述第二块与所述第一块相关联,且其中所述第二阈值准则小于所述第一阈值准则。响应于所述第二读取计数满足所述第二阈值准则,所述处理装置执行多平面扫描以并行地确定所述第一数据块的第一错误率和所述第二数据块的第二错误率。

    垃圾收集
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110603531B

    公开(公告)日:2022-10-04

    申请号:CN201880030170.0

    申请日:2018-03-16

    Abstract: 本发明提供一种用于垃圾收集的实例设备,其可包含存储器,所述存储器包含多个混合模式块。所述实例设备可包含控制器。所述控制器可经配置以在单级存储器单元SLC模式中将顺序主机数据的第一部分写入到所述存储器的所述多个混合模式块。所述控制器可经配置以在XLC模式中将顺序主机数据的第二部分写入到所述多个混合模式块。所述控制器可经配置以通过执行垃圾收集操作来写入顺序主机数据的所述第二部分。所述垃圾收集操作可包含将比与将顺序主机数据的所述第二部分写入到所述多个混合模式块相关联地被写入到的块的数量多的块添加到自由块池。

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