公开(公告)号：CN117712116A

公开(公告)日：2024-03-15

申请号：CN202311484293.0

申请日：2019-01-29

Applicant: 罗姆股份有限公司

Inventor： 辻祐史 ,  近藤宙太 ,  清水立郎

IPC: H01L25/16 ,  H01L23/31 ,  H01L23/498 ,  H01L23/48

Abstract: 本发明提供一种受光发光装置。该受光发光装置包括：基材，导电部，第1元件，第2元件，以及密封树脂，其覆盖上述第1元件及上述第2元件且使从上述第1元件发出的光透过；上述第1元件和上述第2元件在与上述基材的厚度方向成直角的第1方向上被相互分离地配置；上述受光发光装置包括：第3元件，其在上述第1方向上隔着上述第1元件而被配置在与上述第2元件相反侧，且接受来自上述第1元件的光，以及遮光层，其被形成在上述密封树脂中的在上述厚度方向视角下与上述第3元件重叠的覆盖部，且由与上述密封树脂相比光的透过率更低的材质构成。

公开(公告)号：CN110098181A

公开(公告)日：2019-08-06

申请号：CN201910086281.X

申请日：2019-01-29

Applicant: 罗姆股份有限公司

Inventor： 辻祐史 ,  近藤宙太 ,  清水立郎

IPC: H01L25/16 ,  H01L23/31 ,  H01L23/48 ,  H01L23/498

Abstract: 本发明提供受光发光装置的控制电路、位置检测装置、摄像装置、控制方法。减小驱动电流，或者改善S/N比。受光发光装置(810)包含发光元件(812)、第1受光元件(PD1)及第2受光元件(PD2)。基准信号发生器(910)生成包含预定的基准频率(ω0)的分量的基准信号(SREF)。驱动电路(920)向发光元件(812)供给驱动信号(IDRV)，以使得与第1受光元件(PD1)的输出相应的反馈信号(SFB)和基准信号(SREF)一致。相关检波器(930)对第2受光元件(PD2)的输出使用基准频率(ω0)的分量来进行相关检波。

公开(公告)号：CN110098181B

公开(公告)日：2023-11-21

申请号：CN201910086281.X

申请日：2019-01-29

Applicant: 罗姆股份有限公司

Inventor： 辻祐史 ,  近藤宙太 ,  清水立郎

IPC: H01L25/16 ,  H01L23/31 ,  H01L23/48 ,  H01L23/498

公开(公告)号：CN113748501A

公开(公告)日：2021-12-03

申请号：CN202080030954.0

申请日：2020-04-17

Applicant: 罗姆股份有限公司

Inventor： 木越圣博 ,  田沼裕辉 ,  武藤玄 ,  村山实 ,  近藤宙太 ,  池田千琴 ,  中小原佑辅

IPC: H01L23/02 ,  H01L23/12 ,  H01L25/16 ,  H01L33/48 ,  H01S5/022

Abstract: 本发明提供半导体发光装置(1)，其包括：基片(10)；形成于基片(10)的共同导电部(30)；搭载于共同导电部(30)的半导体发光元件(80)和电子部件(100)。半导体发光元件(80)和电子部件(100)经由共同导电部(30)电连接。依据该结构，能够缩短半导体发光元件(80)与电子部件(100)的导电路径。因此，能够降低基于半导体发光元件(80)与电子部件(100)的导电路径的寄生电容。由此，能够降低寄生电容，并且将半导体发光元件(80)与电子部件(100)电连接。