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公开(公告)号:CN111630653A
公开(公告)日:2020-09-04
申请号:CN201980009405.2
申请日:2019-01-14
Applicant: 索泰克公司
IPC: H01L21/762
Abstract: 本发明涉及一种可分离结构(100),所述可分离结构(100)包括载体衬底(10)和在第一界面(1)处位于所述衬底(10)上的硅氧化物层(20)。所述可分离结构(100)的特征在于:所述氧化物层(20)的厚度小于200nm;轻氢和/或氦物质(30)根据注入分布曲线(31)深入分布在所述结构(100)的整个区域上,所述注入分布曲线(31)的最大浓度位于所述氧化物层(20)的厚度中;相对于所述氧化物层(20)的厚度,注入的轻物质(30)的总剂量至少超过这些轻物质(30)在所述氧化物层(20)中的溶解度极限的五倍。
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公开(公告)号:CN119631605A
公开(公告)日:2025-03-14
申请号:CN202380057120.2
申请日:2023-06-29
Applicant: 索泰克公司
IPC: H10N30/01 , H10N30/07 , H10N30/072 , H10N30/086 , H03H3/02 , H03H3/08
Abstract: 本发明涉及一种制备由含锂铁电材料制成的单畴薄层(4)的方法。所述方法包括提供由含锂铁电材料制成的第一单畴层(8),所述层结合到载体(2),第一层(8)具有富锂表面厚度(11)。制备方法包括对第一层(8)的自由侧(9)进行湿法清洁的第一步骤,清洁步骤能够去除富锂表面层。然后方法包括旨在去除或防止出现富锂且富氢的枝晶(12)的第二制备步骤,当第一层(8)不含富锂表面层时,枝晶易于在第一层(8)的自由侧(9)成核。
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公开(公告)号:CN119422225A
公开(公告)日:2025-02-11
申请号:CN202380049520.9
申请日:2023-06-20
Applicant: 索泰克公司
IPC: H01L21/02 , H01L21/762
Abstract: 本发明涉及一种用于制造结构(1)的方法,该结构包括借助于介电层(3)接合到支撑体(2)上的薄层(4),该支撑体包括布置在基础衬底(2a)的表面上的电荷俘获层(2b)。该方法包括对该支撑体的主面的暴露表面和/或对供体衬底的主面的暴露表面施加表面处理,以便在其上形成充当某些原子物质的扩散屏障的层。该表面处理包括将该暴露表面暴露于包含氧的等离子体,然后将该暴露表面暴露于包含氮的等离子体。
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公开(公告)号:CN111630653B
公开(公告)日:2024-05-14
申请号:CN201980009405.2
申请日:2019-01-14
Applicant: 索泰克公司
IPC: H01L21/762
Abstract: 本发明涉及一种可分离结构(100),所述可分离结构(100)包括载体衬底(10)和在第一界面(1)处位于所述衬底(10)上的硅氧化物层(20)。所述可分离结构(100)的特征在于:所述氧化物层(20)的厚度小于200nm;轻氢和/或氦物质(30)根据注入分布曲线(31)深入分布在所述结构(100)的整个区域上,所述注入分布曲线(31)的最大浓度位于所述氧化物层(20)的厚度中;相对于所述氧化物层(20)的厚度,注入的轻物质(30)的总剂量至少超过这些轻物质(30)在所述氧化物层(20)中的溶解度极限的五倍。
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