半导体器件的制造方法及通过该方法得到的半导体器件

    公开(公告)号:CN1682368A

    公开(公告)日:2005-10-12

    申请号:CN03822030.X

    申请日:2003-08-21

    CPC classification number: H01L29/66712 H01L21/78 H01L29/6631 H01L29/781

    Abstract: 本发明涉及一种半导体器件(10)的制造方法,其中在具有临时衬底(2)的半导体本体(1)中,在与该衬底(2)相对的半导体本体(1)的侧面上形成至少一个半导体元件(3),其具有至少一个连接区域(4),以及在所述侧面上形成电介质(5)并且被构图成露出连接区域,之后在电介质(5)上提供金属层(6),从而与连接区域(4)接触,该金属层(6)作为连接区域(4)的电连接导体,之后除去临时衬底(2)并且金属层(6)作为器件(10)的衬底。根据本发明,在淀积金属层(6)之前,在电介质(5)的构图部分的周围和在半导体元件(3)的周围提供厚度大于电介质(5)的合成树脂的环形区域(7),金属层(6)在矩形的环形区域(7)内。这样,在淀积金属层(6)之后能够很容易的形成各个器件(10),优选通过将器件(10)压出该区域(7)。优选,选择(不同的)光致抗蚀剂用于电介质(5)和区域(7),本发明还包括以这种方法获得的半导体器件(10)。

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