光谱CT的检测器阵列
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101166997A

    公开(公告)日:2008-04-23

    申请号:CN200680014366.8

    申请日:2006-04-06

    CPC classification number: G01T1/202 G01T1/2018 G01T1/2985 Y10T29/49002

    Abstract: 一种辐射检测器(24),包括上部闪烁体(30T)的二维阵列,其设置在面对x射线源的位置来接收辐射,将低能量辐射转换成可见光并透射高能量辐射。下部闪烁体(30B)的二维阵列,其设置在与上部闪烁体(30T)相邻并距离x射线源(14)较远的位置来将透射的高能量辐射转换成可见光。上部和下部光电检测器(38T、38B)光学耦合至位于闪烁体(30T、30B)内侧(60)上的各个上部和下部闪烁体(30T、30B)。光学元件(100)光学耦合至上部闪烁体(30T),来收集和引导从上部闪烁体(30T)发出的光进入相应的上部光电检测器(38T)。

    用于光谱CT的双层探测器

    公开(公告)号:CN101166469A

    公开(公告)日:2008-04-23

    申请号:CN200680014315.5

    申请日:2006-04-10

    Abstract: 一种射线探测器(24)包括面对X射线源(14)设置以便将低能射线转换为可见光并透射高能射线的上闪烁体(30τ)两维阵列。下闪烁体(30B)两维阵列设置在远离X射线源(14)的上闪烁体(30τ)附近以将发出的高能射线转换为可见光。每个上和下光电探测器阵列(38τ、30B)的相应活性区域(94、96)光学耦合至闪烁体(30τ、30B)内侧(60)相应的上和下闪烁体(30τ、30B),闪烁体内侧(60)通常垂直于轴向(Z)。干涉滤光器(110、112)可设置在相关联的上和下闪烁体(38τ、38B)的活性区域(94、96)上,以将上和下闪烁体(38τ、38B)接收的射线波长限制为由相应上和下闪烁体(30τ、30B)发射的波长。上闪烁体(30τ)可包括ZnSe(Te)和YAG(Ce)的至少一个。

    用于光谱CT的双层探测器

    公开(公告)号:CN101166469B8

    公开(公告)日:2015-07-22

    申请号:CN200680014315.5

    申请日:2006-04-10

    Abstract: 一种辐射探测器(24)包括面对X射线源(14)设置以便将低能辐射转换为可见光并透射高能辐射的上闪烁体(30τ)两维阵列。下闪烁体(30B)两维阵列设置在远离X射线源(14)的上闪烁体(30τ)附近以将发出的高能辐射转换为可见光。每个上和下光电探测器阵列(38τ、30B)的相应活性区域(94、96)光学耦合至闪烁体(30τ、30B)内侧(60)相应的上和下闪烁体(30τ、30B),闪烁体内侧(60)通常垂直于轴向(Z)。干涉滤光器(110、112)可设置在相关联的上和下闪烁体(38τ、38B)的活性区域(94、96)上,以将上和下闪烁体(38τ、38B)接收的辐射波长限制为由相应上和下闪烁体(30τ、30B)发射的波长。上闪烁体(30τ)可包括ZnSe(Te)和YAG(Ce)的至少一个。

    用于光谱CT的双层探测器

    公开(公告)号:CN101166469B

    公开(公告)日:2015-05-06

    申请号:CN200680014315.5

    申请日:2006-04-10

    Abstract: 一种辐射探测器(24)包括面对X射线源(14)设置以便将低能辐射转换为可见光并透射高能辐射的上闪烁体(30τ)两维阵列。下闪烁体(30B)两维阵列设置在远离X射线源(14)的上闪烁体(30τ)附近以将发出的高能辐射转换为可见光。每个上和下光电探测器阵列(38τ、30B)的相应活性区域(94、96)光学耦合至闪烁体(30τ、30B)内侧(60)相应的上和下闪烁体(30τ、30B),闪烁体内侧(60)通常垂直于轴向(Z)。干涉滤光器(110、112)可设置在相关联的上和下闪烁体(38τ、38B)的活性区域(94、96)上,以将上和下闪烁体(38τ、38B)接收的辐射波长限制为由相应上和下闪烁体(30τ、30B)发射的波长。上闪烁体(30τ)可包括ZnSe(Te)和YAG(Ce)的至少一个。

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