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公开(公告)号:CN101166997A
公开(公告)日:2008-04-23
申请号:CN200680014366.8
申请日:2006-04-06
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G01T1/202 , G01T1/2018 , G01T1/2985 , Y10T29/49002
Abstract: 一种辐射检测器(24),包括上部闪烁体(30T)的二维阵列,其设置在面对x射线源的位置来接收辐射,将低能量辐射转换成可见光并透射高能量辐射。下部闪烁体(30B)的二维阵列,其设置在与上部闪烁体(30T)相邻并距离x射线源(14)较远的位置来将透射的高能量辐射转换成可见光。上部和下部光电检测器(38T、38B)光学耦合至位于闪烁体(30T、30B)内侧(60)上的各个上部和下部闪烁体(30T、30B)。光学元件(100)光学耦合至上部闪烁体(30T),来收集和引导从上部闪烁体(30T)发出的光进入相应的上部光电检测器(38T)。
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公开(公告)号:CN101166469B8
公开(公告)日:2015-07-22
申请号:CN200680014315.5
申请日:2006-04-10
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/03
Abstract: 一种辐射探测器(24)包括面对X射线源(14)设置以便将低能辐射转换为可见光并透射高能辐射的上闪烁体(30τ)两维阵列。下闪烁体(30B)两维阵列设置在远离X射线源(14)的上闪烁体(30τ)附近以将发出的高能辐射转换为可见光。每个上和下光电探测器阵列(38τ、30B)的相应活性区域(94、96)光学耦合至闪烁体(30τ、30B)内侧(60)相应的上和下闪烁体(30τ、30B),闪烁体内侧(60)通常垂直于轴向(Z)。干涉滤光器(110、112)可设置在相关联的上和下闪烁体(38τ、38B)的活性区域(94、96)上,以将上和下闪烁体(38τ、38B)接收的辐射波长限制为由相应上和下闪烁体(30τ、30B)发射的波长。上闪烁体(30τ)可包括ZnSe(Te)和YAG(Ce)的至少一个。
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公开(公告)号:CN101849197A
公开(公告)日:2010-09-29
申请号:CN200880114774.X
申请日:2008-10-29
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G01T1/20
CPC classification number: G01T1/2018 , G01T1/2002
Abstract: 本发明涉及射线探测器(200)的光反射材料(240),其还包括光电探测元件(220)和与该光电探测元件相邻的成像元件(250)。典型地,环氧树脂用作光反射材料。根据本发明,可将坚韧、易弯曲树脂用作光电探测元件。这具有如下优点:减小了射线探测器内的热应力,进而降低了因为例如温度变化而引起分层的风险。另外,该坚韧、易弯曲树脂还优选具有低折射率,和具有折射率1.58的环氧树脂相比其可增加树脂的散射系数。由此,对于给定级别的光学串扰,与环氧树脂的层厚度相比,低折射率树脂的层厚度可以减小。优选的树脂为硅树脂以及热塑性含氟聚合物树脂。
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