公开(公告)号：CN102365654A

公开(公告)日：2012-02-29

申请号：CN201080013737.7

申请日：2010-03-22

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： A·J·C·布鲁金斯 ,  J·A·卢杰恩迪克

IPC: G06T7/00

CPC classification number: G06T7/30 ,  G06T2207/10016 ,  G06T2207/30048

Abstract: 描述了一种用于使周期性运动对象的两个图像序列关于周期相关联的方法和设备。采集以第一周期运动的对象的第一帧序列。其中，所述第一帧序列包括运动的至少一个循环。采集以第二周期运动的对象的第二帧序列。其中，所述第二帧序列包括运动的至少一个循环。使所述第一帧序列和第二帧序列关于各自的周期被同步化，使得所述周期性运动对象的运动的相同阶段相关联，以同时进行显示。本发明允许比较表示在针对运动的相同循环的每个序列中具有不同数目帧的周期性运动的序列。从而，例如，可以以同步化的方式呈现在治疗前采集的跳动心脏的图像序列以及在治疗后采集的跳动心脏的图像序列，并且因此可以容易地对其进行比较。

公开(公告)号：CN101416485A

公开(公告)日：2009-04-22

申请号：CN200780011967.8

申请日：2007-03-15

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： J·A·卢杰恩迪克 ,  H·施泰因豪泽 ,  B·门瑟

IPC: H04N5/217 ,  A61B6/03 ,  G01T1/20 ,  G03B42/02 ,  H04N5/325

CPC classification number: A61B6/00 ,  A61B6/585 ,  G01T1/2018 ,  G01T7/005 ,  G03B42/02 ,  H04N5/32 ,  H04N5/367

Abstract: 公开了一种生成用于图像校正的包含至少一个伪影的模板的系统和方法。通过使用至少两次同质曝光生成包含伪影的图像，每个图像在不同的检测器操作温度下生成。对图像上每个像素位置处的灰度值局部偏差进行计算。然后对图像上的每个像素进行分类。基于分类来生成二进制图像。随后，基于该二进制图像和包含伪影的图像数据来形成模板。

公开(公告)号：CN102365654B

公开(公告)日：2015-05-13

申请号：CN201080013737.7

申请日：2010-03-22

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： A·J·C·布鲁金斯 ,  J·A·卢杰恩迪克

IPC: G06T7/00

CPC classification number: G06T7/30 ,  G06T2207/10016 ,  G06T2207/30048

Abstract: 描述了一种用于使周期性运动对象的两个图像序列关于周期相关联的方法和设备。采集以第一周期运动的对象的第一帧序列。其中，所述第一帧序列包括运动的至少一个循环。采集以第二周期运动的对象的第二帧序列。其中，所述第二帧序列包括运动的至少一个循环。使所述第一帧序列和第二帧序列关于各自的周期被同步化，使得所述周期性运动对象的运动的相同阶段相关联，以同时进行显示。本发明允许比较表示在针对运动的相同循环的每个序列中具有不同数目帧的周期性运动的序列。从而，例如，可以以同步化的方式呈现在治疗前采集的跳动心脏的图像序列以及在治疗后采集的跳动心脏的图像序列，并且因此可以容易地对其进行比较。

公开(公告)号：CN101401208A

公开(公告)日：2009-04-01

申请号：CN200780009050.4

申请日：2007-03-09

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： A·黑林格 ,  J·A·卢杰恩迪克 ,  J·W·C·韦尔特坎普 ,  W·D·范诺尔特

IPC: H01L27/146 ,  H01L31/0352 ,  H04N5/217 ,  H04N5/32

CPC classification number: G01T1/2018 ,  H01L27/14659 ,  H01L27/14663 ,  H01L31/115

Abstract: 本发明提供一种用于在半导体衬底(1)中的辐射检测的半导体器件(11)，包括检测区域(3)，其检测当辐射(X，L)入射到半导体器件(11)上时产生的电荷载流子。该半导体器件(11)还包括另一检测区域(13)，其检测当辐射(X)入射到半导体器件(11)上时产生的电荷载流子。屏蔽物(8，18)在所述另一检测区域(13)上方延伸，防止电磁辐射(L)进入检测区域(13)中。通过这种方式，本发明提供一种用于辐射检测的半导体器件(11)，其中提高了对电磁辐射(L)的检测和对其它辐射的检测之间的分离性。本发明还提供一种包括该半导体器件(11)和耦合到检测区域(3)和另一检测区域(13)的处理器(P)的检测器(10)，用于产生表示电磁辐射(L)的输出信号(22)。