具有像素内处理电路的X射线检测器

    公开(公告)号:CN101142497B

    公开(公告)日:2011-06-01

    申请号:CN200680008325.8

    申请日:2006-03-10

    CPC classification number: G01T1/202

    Abstract: 本发明涉及一种具有由闪烁层(11)、耦合层(12)和敏感层(13)组成的像素阵列(10)的X射线检测器。耦合层(12)包括光导单元(17)和屏蔽单元(16),其中屏蔽单元(16)置于易受X射线干扰的电子处理电路(15a,15b)上。在可替换实施例中,耦合层由透光并吸收X射线的材料例如铅玻璃组成。优选地,组合在耦合层(12)中的波长转换材料将在闪烁层(11)中所产生光子的波长(λ1)转换为敏感层(13)具有更高灵敏度的值(λ2)。

    具有像素内处理电路的X射线检测器

    公开(公告)号:CN101142497A

    公开(公告)日:2008-03-12

    申请号:CN200680008325.8

    申请日:2006-03-10

    CPC classification number: G01T1/202

    Abstract: 本发明涉及一种具有由闪烁层(11)、耦合层(12)和敏感层(13)组成的像素阵列(10)的X射线检测器。耦合层(12)包括光导单元(17)和屏蔽单元(16),其中屏蔽单元(16)置于易受X射线干扰的电子处理电路(15a,15b)上。在可替换实施例中,耦合层由透光并吸收X射线的材料例如铅玻璃组成。优选地,组合在耦合层(12)中的波长转换材料将在闪烁层(11)中所产生光子的波长(λ1)转换为敏感层(13)具有更高灵敏度的值(λ2)。

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