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公开(公告)号：CN116744875A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202180089769.3
申请日：2021-12-28
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Inventor： R·F·J·霍尔特辉泽恩 , R·J·F·霍曼 , J·W·施普利特霍夫 , B·H·W·亨德里克斯 , P·G·范德哈尔 , J·G·格伦 , J·龙根 , E·维贝尔赫 , J·J·德里斯 , C·赖克 , K·西姆哈德里
IPC: A61B90/00
Abstract: 本发明涉及一种医学介入期间的指导。为了利用方便的设置提供改善的导航支持，提供一种用于导航支持的系统(10)。图像数据输入部(12)接收从不同角度采集的对象的身体部分的多幅2D X射线图像。在X射线图像中可见并且能够由导航系统检测的一组标记被分配给对象。标记检测装置(16)被提供为检测被分配给对象的标记的当前空间位置。数据处理器(14)基于多幅2D X射线图像来重建对象的3D体积。标记的至少部分被布置在由重建对象的3D体积覆盖的体积外侧，同时标记在2D X射线图像中可见。数据处理器(14)基于位于3D体积外侧的多幅2D X射线图像的图像数据来识别2D X射线图像中的标记，并且确定标记关于对象的3D体积的空间位置。数据处理器(14)还基于检测到的标记的当前空间位置和确定的标记关于对象的3D体积的空间位置来将重建对象的3D体积配准到对象的当前空间位置。输出接口(18)提供配准的重建3D体积用于导航。
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公开(公告)号：CN111918609A
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN201980022580.5
申请日：2019-03-25
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Inventor： P·J·维塔根 , E·胡梅尔 , P·G·范德哈尔 , F·S·B·范尼亚纳滕 , J·A·范鲁伊杰恩
IPC: A61B6/00
Abstract: 本发明涉及一种用于控制X射线图像采集系统中的防散射栅格的位置的设备，所述设备(10)包括：测量单元(12)；控制单元(14)；以及移位单元(16)；其中，所述测量单元(12)被配置为确定相对于所述X射线图像采集系统的X射线探测器的所述X射线图像采集系统的X射线辐射源的X射线束聚焦位置(37)；其中，所述控制单元(14)被配置为基于所述X射线束聚焦位置(37)和所述防散射栅格的栅格聚焦位置(35)之间的位移(18)来生成移位信号；并且其中，基于所述移位信号，所述移位单元(16)被配置为使所述X射线图像采集系统的防散射栅格在至少一个方向上移位，以使所述防散射栅格与X射线束焦斑位置(37)对齐，为X射线采集系统提供了一种改进的防散射栅格。本发明提供了改进的防散射栅格(26)在X射线采集系统(20)中的使用。
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公开(公告)号：CN111684311A
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN201880088526.6
申请日：2018-12-31
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于X射线成像的系统。系统被解释为将X射线探测器(10)相对于X射线源进行定位(210)，使得X射线源与X射线探测器之间的区域的至少部分是用于容纳对象的检查区域。由处理单元控制(220)X射线源和X射线探测器，以便：在第一成像操作模式中操作(230)；在第二成像操作模式中操作(240)；或者在第一成像模式和第二成像模式中操作(250)；或者在第三成像操作模式中操作(260)。探测器包括第一闪烁体(20)、第二闪烁体(30)、第一传感器阵列(40)以及第二传感器阵列(50)。第一传感器阵列与第一闪烁体相关联。第一传感器阵列包括被配置为探测在第一闪烁体中生成的光学光子的传感器元件阵列。第二传感器阵列与第二闪烁体相关联。第二传感器阵列包括被配置为探测在第二闪烁体中生成的光学光子的传感器元件阵列。第一闪烁体被设置在第二闪烁体上方，使得从X射线源发射的X射线首先遇到第一闪烁体，然后遇到第二闪烁体。第一闪烁体的厚度等于或大于0.6mm。第二闪烁体的厚度等于或大于1.1mm。在第一成像操作模式中，第一闪烁体和第一传感器阵列被配置为提供能用于生成低能量X射线图像的数据。在第二成像操作模式中，第二闪烁体和第二传感器阵列被配置为提供能用于生成高能量X射线图像的数据。在第三成像操作模式中，第一闪烁体、第一传感器阵列、第二闪烁体以及第二传感器阵列被配置为提供能用于生成组合的能量X射线图像的数据。
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公开(公告)号：CN110121300A
公开(公告)日：2019-08-13
申请号：CN201780079793.2
申请日：2017-12-20
Applicant: 皇家飞利浦有限公司 , 离子束应用股份有限公司
Abstract: 本发明涉及偏心探测器3D X射线或质子射线照相重建。利用围绕等轴的陡峭加权函数的冗余度加权通常导致重建中的伪影，例如，如果例如由于略微不正确的探测器校准或散射校正等而发生两个标称冗余投影之间的不一致。利用本发明，提出了一种克服或减轻这些问题的方法。
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公开(公告)号：CN110121300B
公开(公告)日：2023-06-16
申请号：CN201780079793.2
申请日：2017-12-20
Applicant: 皇家飞利浦有限公司 , 离子束应用股份有限公司
Abstract: 本发明涉及偏心探测器3D X射线或质子射线照相重建。利用围绕等轴的陡峭加权函数的冗余度加权通常导致重建中的伪影，例如，如果例如由于略微不正确的探测器校准或散射校正等而发生两个标称冗余投影之间的不一致。利用本发明，提出了一种克服或减轻这些问题的方法。
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公开(公告)号：CN113939229A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202080042412.5
申请日：2020-04-10
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Inventor： P·J·维塔根 , E·胡梅尔 , F·S·B·范尼亚纳滕 , J·A·范鲁伊杰恩 , P·G·范德哈尔
Abstract: 公开了一种用于成像的X射线系统(1、10)和一种增益校准方法。所述系统的组件(4、14)可移动到不同的扫描坐标，以当所述组件移动时以动态模式在多个所述扫描坐标处采集X射线投影图像。所述组件还可移动到预定参考坐标，以当所述组件静止时以静态模式在所述参考坐标处采集X射线投影图像。由所述X射线系统包括的至少一个处理单元(5)被配置为接收多个动态增益校准参数作为第一输入，并且获得静态增益校准参数作为第二输入，并且确定多个经调整的动态增益校准参数。每个动态增益校准参数根据在所述扫描坐标中的一个处以所述动态模式采集的X射线投影图像获得。所述静态增益校准参数根据在所述预定参考坐标处以所述静态模式采集的X射线投影图像获得。
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公开(公告)号：CN112739266A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN201980060747.7
申请日：2019-09-19
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Abstract: 在第一方面中，本发明涉及一种用于锥形束计算机断层摄影系统中的射束成形滤波器(1)。该滤波器包括辐射衰减元件，该辐射衰减元件用于定位在锥形束计算机断层摄影系统的X射线源与待成像的物体之间。作为辐射衰减元件的至少一部分(2)内的位置的函数的辐射衰减相对于旋转对称点(3)是旋转对称的。
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公开(公告)号：CN113939229B
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202080042412.5
申请日：2020-04-10
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Inventor： P·J·维塔根 , E·胡梅尔 , F·S·B·范尼亚纳滕 , J·A·范鲁伊杰恩 , P·G·范德哈尔
Abstract: 公开了一种用于成像的X射线系统(1、10)和一种增益校准方法。所述系统的组件(4、14)可移动到不同的扫描坐标，以当所述组件移动时以动态模式在多个所述扫描坐标处采集X射线投影图像。所述组件还可移动到预定参考坐标，以当所述组件静止时以静态模式在所述参考坐标处采集X射线投影图像。由所述X射线系统包括的至少一个处理单元(5)被配置为接收多个动态增益校准参数作为第一输入，并且获得静态增益校准参数作为第二输入，并且确定多个经调整的动态增益校准参数。每个动态增益校准参数根据在所述扫描坐标中的一个处以所述动态模式采集的X射线投影图像获得。所述静态增益校准参数根据在所述预定参考坐标处以所述静态模式采集的X射线投影图像获得。
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公开(公告)号：CN113543715A
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202080019253.7
申请日：2020-03-05
Applicant: 皇家飞利浦有限公司
Inventor： E·胡梅尔 , F·S·B·范尼亚纳滕 , P·G·范德哈尔 , P·J·维塔根 , J·A·范鲁伊杰恩
Abstract: 本发明涉及一种用于确定用于控制包括辐射源的C型臂系统的控制协议的装置。所述控制协议包括滚转角的序列和螺旋桨角的序列。所述装置包括：倾斜平面提供单元，其用于提供相对于垂直平面倾斜的倾斜平面；以及控制协议确定单元，其用于通过确定所述滚转角的序列和所述螺旋桨角的序列来确定控制协议，使得辐射源遵循以下轨迹：所述轨迹包括所述倾斜平面中的圆形分量并且允许C型臂系统采集投影数据以进行图像重建。所述装置允许以改进的质量采集计算图像，例如断层摄影图像，并减少辐射敏感区域中的辐射。
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