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公开(公告)号：CN119805381B
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510309118.0
申请日：2025-03-17
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01S7/38
Abstract: 本发明公开了一种基于时间调制超表面阵列的距离欺骗干扰方法，其中，方法包括：S1.被保护的设备表面搭载时间调制可编程超表面，工作于接收模式；S2.将多通道接收数据送入来波方向估计神经网络，预测雷达入射信号的方向；S3.使用线性相位时间调制方法对雷达入射波进行调制；S4.使用谐波波束成形方法，将携带假目标信息的谐波对应阵列方向图主瓣对准雷达入射波方向。本发明通过时间调制超表面将入射波搬移至谐波，利用线性调频信号的距离‑多普勒耦合特性形成欺骗干扰的效果，并结合来波方向估计和谐波波束成形方法，解决现有方案中虚假目标能量不集中和无法应对斜入射的问题。本发明可广泛应用于电子对抗和物联网设备的隐身保护。
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公开(公告)号：CN119805381A
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202510309118.0
申请日：2025-03-17
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01S7/38
Abstract: 本发明公开了一种基于时间调制超表面阵列的距离欺骗干扰方法，其中，方法包括：S1.被保护的设备表面搭载时间调制可编程超表面，工作于接收模式；S2.将多通道接收数据送入来波方向估计神经网络，预测雷达入射信号的方向；S3.使用线性相位时间调制方法对雷达入射波进行调制；S4.使用谐波波束成形方法，将携带假目标信息的谐波对应阵列方向图主瓣对准雷达入射波方向。本发明通过时间调制超表面将入射波搬移至谐波，利用线性调频信号的距离‑多普勒耦合特性形成欺骗干扰的效果，并结合来波方向估计和谐波波束成形方法，解决现有方案中虚假目标能量不集中和无法应对斜入射的问题。本发明可广泛应用于电子对抗和物联网设备的隐身保护。
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公开(公告)号：CN119172652A
公开(公告)日：2024-12-20
申请号：CN202411274460.3
申请日：2024-09-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: H04N25/701 , H04N5/14 , H04N5/202
Abstract: 本发明公开了一种CIS线阵相机的ADC通道自动偏移修正方法，属于图像采集预处理领域。主要目的是自动得到不同通道的偏移调整量并进行调整，以得到预想的响应范围。其中目标偏移量的调整主要是寻找各个通道不同偏移设置的条件下的与预想响应范围最接近的最小像素值，来找到最合适的偏移量。此时CIS线阵相机所有通道的偏移量都为最佳的偏移量，实现了CIS线阵相机的ADC通道偏移的自动修正，提高了图像质量。
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公开(公告)号：CN109146809B
公开(公告)日：2022-07-26
申请号：CN201810870193.4
申请日：2018-08-02
Applicant: 电子科技大学 , 宁波华高信息科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种对扫描文档图像进行去灰边的方法，涉及接触式图像传感器，扫描文档图像存在灰边，还包括以下方法：S1，利用尺度变换，缩小灰度图，S2，对图像进行反向二进制阈值化；S3，对二值图像进行轮廓查找，并记录至总列表；S4，遍历所有轮廓，对轮廓面积超过设定值的，将该轮廓中的点加入去除列表；S5，获取旋转矩形，所述旋转矩形为去除列表中所有点的最小包围矩形；S6，将旋转矩形放大为原始比例；S7，获取灰边区域中心坐标；S8，通过坐标变换，获取灰边区域像素坐标；S9，灰边区域填白。本发明通过采用合理的灰度变换处理方法，使灰边区域去除效果明显；进一步去除灰边区域，进一步提高去除灰边区域的速度，并有效改善图像背景。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103455993B
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201310461385.7
申请日：2013-09-30
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06T5/50
Abstract: 本发明属于图像自动检测领域，具体公开了一种自动视觉检测中基于光栅定位的二维图像拼接方法。本发明的拼接方法通过拍摄平台与相机坐标夹角参数修正子图在大图中的坐标值，计算各子图四角的位置坐标，通过各像素所对应的实际物理距离得到大图的尺寸，用双线性插值计算子图中的亚像素坐标位置像素灰度得到大图中的像素灰度，得出拼接后的大图，通过拍摄平台与相机坐标夹角参数修正，消除因拍摄坐标不一致所带来的误差，同时在拼接的时候，采用各子图的坐标位置直接计算，避免采用图像特征检测拼接的拼接方法所带来的拼接错误，同时所计算的各坐标采用亚像素精度，提高了拼接图像质量。
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公开(公告)号：CN103454495B
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：CN201310418656.0
申请日：2013-09-13
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R23/167
Abstract: 本发明涉及数字信号处理技术。本发明解决了现有频谱分析方法误差较大精度不佳的问题，提供了一种自适应高精度快速频谱分析方法，其技术方案可概括为：首先采集模拟信号，然后进行预处理滤波，再进行模数转换，得到采样数据，然后选取28个数据进行FFT处理，得到初步的信号频谱信息，再进行峰值搜索，然后再对初步的信号频谱信息进行谱线混叠识别，若未混叠则对初步的信号频谱信息进行频谱校正处理，得到信号的频率、幅值及初相信息，若混叠则对初步的信号频谱信息进行复解析带通滤波细化处理，再进行频谱校正处理，分别得到信号的频率、幅值及初相信息。本发明的有益效果是，在保障计算精度的前提下，大幅度降低了计算量，适用于频谱分析。
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公开(公告)号：CN103438827B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201310361751.1
申请日：2013-08-19
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 公开了一种螺丝的螺纹区域峰值线的检测方法，其步骤如下，首先使用图像处理方法提取螺纹区域的亚像素边缘轮廓，得到一系列螺纹的离散曲线点列，然后根据轮廓拟合回归线，计算回归线与螺纹曲线产生的多个交点，这些交点将螺纹曲线分成多个区间，计算每个区间的区间内到回归线距离最大的点，作为该区间的峰值点，计算回归线其中一侧的一组区间，形成一组峰值点，或计算回归线两侧的两组区间，形成两组峰值点，根据需要选取一组峰值点，通过直线拟合得到峰值线。与现有工业检测方法相比较，本发明巧妙的运用相关数学知识，方法步骤简洁许多，操作快捷，而且求得的峰值线精确性和重复精度均很高，更适用于工业应用。
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公开(公告)号：CN103512501A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201310432828.X
申请日：2013-09-22
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开了一种陶瓷基片表面的微带线电路线宽制造误差检测方法。本方法将待检测陶瓷基片电路板设计图制成检测标准CAD图档，再把被检测陶瓷基片电路板拍照，提取照片图像中的电路轮廓，将检测标准CAD图档映射到图像轮廓中得到匹配向量Ｘ，再把检测标准CAD图档中标准线宽映射到图像轮廓中，最后，通过拟合图像中电路线宽两边缘得到边缘直线，得到的两直线距离与检测标准CAD图档中相对应两直线距离差为电路线宽制造误差。本发明的检测方法，把人工手动检测变为自动检测，大大提高检测精度，同时在检测过程中劳动强度大大降低。
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