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公开(公告)号:CN101542663B
公开(公告)日:2012-06-20
申请号:CN200880000436.3
申请日:2008-05-20
Applicant: 田中贵金属工业株式会社
CPC classification number: H01H1/0206 , C22C1/1078 , C23C8/02 , C23C8/10 , H01H37/76 , H01H85/0241
Abstract: 本发明提供一种即使因电流开闭时所产生的电弧而暴露在高温下,也可以抑制产生熔敷的电接点材料的制造方法、由该方法制造的电接点材料以及温度熔断器。向含有1~15质量%的Cu、0.01~0.7质量%的Ni,且余量由Ag以及不可避免的杂质构成的合金的表层部,供给超过使Cu发生内部氧化所需氧量的氧量,而形成氧浓缩层,由此制造电接点材料。另外,使用由该电接点材料形成的可动电极来制造温度熔断器。
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公开(公告)号:CN101542663A
公开(公告)日:2009-09-23
申请号:CN200880000436.3
申请日:2008-05-20
Applicant: 田中贵金属工业株式会社
CPC classification number: H01H1/0206 , C22C1/1078 , C23C8/02 , C23C8/10 , H01H37/76 , H01H85/0241
Abstract: 本发明提供一种即使因电流开闭时所产生的电弧而暴露在高温下,也可以抑制产生熔敷的电接点材料的制造方法、由该方法制造的电接点材料以及温度熔断器。向含有1~15质量%的Cu、0.01~0.7质量%的Ni,且余量由Ag以及不可避免的杂质构成的合金的表层部,供给超过使Cu发生内部氧化所需氧量的氧量,而形成氧浓缩层,由此制造电接点材料。另外,使用由该电接点材料形成的可动电极来制造温度熔断器。
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