半导体器件和分析系统
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110888412B

    公开(公告)日:2023-12-26

    申请号:CN201910706163.4

    申请日:2019-08-01

    Abstract: 本公开的实施例涉及半导体器件和分析系统。一种半导体器件包括:具有预定功能的模块;用于获取关于模块中发生的错误的错误信息的错误信息获取电路;用于获取应力累积值作为施加到半导体器件的应力的累积值的应力获取电路;用于存储分析数据作为用于分析半导体器件的状态的数据的分析数据存储装置,错误发生时的错误信息和应力累积值彼此相关联。

    半导体器件和分析系统
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110888412A

    公开(公告)日:2020-03-17

    申请号:CN201910706163.4

    申请日:2019-08-01

    Abstract: 本公开的实施例涉及半导体器件和分析系统。一种半导体器件包括:具有预定功能的模块;用于获取关于模块中发生的错误的错误信息的错误信息获取电路;用于获取应力累积值作为施加到半导体器件的应力的累积值的应力获取电路;用于存储分析数据作为用于分析半导体器件的状态的数据的分析数据存储装置,错误发生时的错误信息和应力累积值彼此相关联。

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